基于Ku波段卫星通信的介质振荡器的研究与设计

介绍了射频与微波的低相位噪声介质振荡器的设计方法。从理论上估算了谐振器的频率,通过仿真实验介质谐振振荡器求出谐振频率,输出功率和相位噪声等。就影响介质振荡器相位噪声的因素进行了讨论,从谐振路有载Q值、有源器件、增益压缩量等几个方面提出了降低相位噪声的方法,并给出了一个Ku波段低相噪振荡器的设计方案。     

低相位噪声CMOS LC压控振荡器的设计与优化

采用线性时变(LTV)模型分析了电压偏置型CMOSLC交叉耦合压控振荡器(VCO)的相位噪声.以相位噪声为优化目标,元件参数为设计变量,根据理论计算与仿真结果确定了晶体管宽长比和谐振腔电感的最佳值,完成了电路的优化过程.并以此优化结果为依据,用0.18μm CMOS工艺设计、实现了一个芯片面积为1.1mm×0.7mm的LC交叉耦合振荡器.测试结果表明,在1.8V电源电压下,该压控振荡器的频率范围覆盖1150～1210 MHz,10kHz频偏处相位噪声达到-89dBc/Hz,核心电流4.3mA,抑制相位噪声性能优于其他振荡器.     

微波、毫米波相位噪声测试系统的研制

提出了首先对微波、毫米波信号进行下变频,再利用锁相环提取被测试信号相位噪声的相位噪声提取方法,采用现代谱分析技术对提取出的相位噪声信号在频率中进行分析,并利用"反卷积"技术实现测试系统的误差校正,研制实现了微波、毫米波相位噪声测试系统.实验测试结果表明该系统具有测试灵敏度高和被测信号频率范围广的优点,证明了它具有较大的应用价值.     

振荡器相位噪声对双站SAR成像影响分析

研究了振荡器的相位噪声对双站SAR系统成像的影响．根据振荡器的相位噪声的幂律模型,给出了双站SAR回波相位误差模型影响及其与单站模型的差异,基于相位噪声变化快慢对成像影响的差异,将其划分成线性误差、二次相位误差和高频误差三种分量,分别定量分析了它们对双站SAR图像偏移、聚焦及副瓣特性的影响．     

振荡器相位噪声对双站SAR成像影响分析

研究了振荡器的相位噪声对双站SAR系统成像的影响.根据振荡器的相位噪声的幂律模型,给出了双站SAR回波相位误差模型影响及其与单站模型的差异,基于相位噪声变化快慢对成像影响的差异,将其划分成线性误差、二次相位误差和高频误差三种分量,分别定量分析了它们对双站SAR图像偏移、聚焦及副瓣特性的影响.     

克服低频附加相位噪声的一种有效途径

利用补偿技术来减少因机械振动而引起石晶体振荡器附加相位噪声,其设计方法是将极化器产生的信号通过幅度和相位可调节的补偿器,并传输给振荡器以抵消附加噪声,经过实验测试,振荡器的附加噪声大大下降。     

相位噪声参考源的研制

<正>一、概述在现代无线电通信和雷达技术中,系统灵敏度和选择性一直是设计者的难点或重点。其中的主要限制因素之一就是相位噪声,更一般地说是边带噪声,即相位噪声和AM噪声的组合。相位噪声是指(正弦)频率的短期稳定性。由于相位噪声的存在,引起载波频谱的扩展,其范围可以从偏离载波小于1Hz一直延伸到几兆赫兹(加相位噪声的影响)。频率稳定性是振荡器在整个规定时间范围内产生相同频率的一种量度。如果信号频率存在瞬     

低功耗低相位噪声4.8GHz CMOS压控振荡器芯片设计

采用TSMC 0.18μm RF CMOS工艺设计并实现了一个应用于无线传感器网络射频前端频率综合器的低功耗、低相位噪声4.8GHz电感电容压控振荡器.此振荡器的核心电路采用电流源偏置的互补差分负阻结构,降低了电路对电源电压变化的灵敏度和功耗.电感电容谐振腔采用了降低相位噪声的设计方法.在不恶化相位噪声性能的前提下,核...     

振动条件下的晶振稳健性机理研究

晶振在振动环境下产生严重的相位噪声恶化,由于其多学科交融的物理性质和在电子系统参考源中的应用价值而受到广泛关注。随着机电一体化设计理念的发展,研究振动环境下的信号调谐模式和探索它们独特的物理性质已经成为可能。该文从晶振的工作原理出发,分析了振动条件下相位噪声恶化的调谐原理,首次提出了一种新的晶振相位噪声振动恶化特征的物理表征方法。此外,搭建了晶振相位噪声测试系统,利用实验数据定量研究了各种输入条件对晶振电气性能的影响,并编制了相应的算法来进行求解,得出了非线性数学关系。最后,结合实验数据验证了机电一体化分析思路及物理表征方法的合理性,得到了晶振模块的振动稳健性矢量。     

闪烁相位噪声引起的Allan方差

在激光频率与各类振荡器(如铯、铷以及晶体等)频率稳定度的分析中,Allan方差的理论获得广泛的应用。但对闪烁相位噪声所引起的Allan方差公式中的常数,许多文献给出的数值相差很大。本文推导出的数值为4.038。     

QPSK通信系统中本振的相位噪声与误码率的关系

相位噪声性能影响系统性能,低性能相位噪声不能满足系统要求,而过分追求高性能相位噪声会使本振的造价昂贵,以QPSK通信系统为例从理论上分析了本振相位噪声与系统误码率的关系,并且给出了如何确定相位噪声的具体指标,有助于系统设计师合理分配系统中本振的相位噪声。     

分段线性宽频带CMOS集成压控振荡器设计

通过分析LC压控振荡器的工作原理,设计了一种基于开关电容阵列的集成压控振荡器,很好地解决了调谐范围与相位噪声之间的矛盾,并同时采用PMOS和NMOS做负阻管,进一步减小了相位噪声。     

相位噪声标准的研制

为解决相位噪声测量系统校准无法溯源的问题,设计一套相位噪声标准系统,把相位噪声溯源到可调高斯白噪声源上。该系统可用来测试相位噪声测量系统的准确度及其本底噪声,解决传统比对方法各相位噪声测量系统之间精度较低的问题。利用不同频点的带通滤波器对相位噪声测试系统PN9000在5,10,100 MHz频点下的相位噪声测量结果进行校准,验证方案和整套系统的准确性。     

相位噪声标准的研制

为解决相位噪声测量系统校准无法溯源的问题,设计一套相位噪声标准系统,把相位噪声溯源到可调高斯白噪声源上.该系统可用来测试相位噪声测量系统的准确度及其本底噪声,解决传统比对方法各相位噪声测量系统之间精度较低的问题.利用不同频点的带通滤波器对相位噪声测试系统PN9000在5,10,100 MHz频点下的相位噪声测量结果进行校准,验证方案和整套系统的准确性.     

基于85671 A单边带相位噪声自动测试的实现

本文在简要探讨了相位噪声的定义和测试方法的基础上,重点分析了频谱分析仪测试相位噪声的原理及关键技术;研究了HP／Agilent公司的频谱分析仪相位噪声测试选件85671A实现自动测试的难点和解决办法,最后给出了基于85671A实现SSB相位噪声自动测试的具体实现,解决了85671A不能用于自动测试的难题;结果表明这是一种更加高效准确的单边带相位噪声测试方法。     

相位噪声测试结果的分析与应用

本文简单介绍了相位噪声测量的各种方法,主要对相位噪声测试结果的正确分析与应用方法进行了介绍,并就工程技术人员关心的相位噪声与阿伦方差和时域抖动的换算方法进行了描述。     

基于遗传算法的振荡器谐振回路的参数选择

针对振荡器谐振回路参数选择较多依赖于经验的问题,提出从振荡器的等效电路出发,得到描述振荡器的非线性微分方程,通过引入随机项来描述振荡器的内部电噪声,由此建立用于分析振荡器行为的非线性随机微分方程;并运用遗传算法对振荡器谐振回路进行参数优选,得到适应度以相位噪声最小为优化准则的参数,用该参数进行数值研究,结果表明了该方法的有效性,为振荡器的分析和谐振回路参数的优选提供了一种新方法.     

相位均衡器技术在水声接收机的应用

滤波器相位的非线性引起的信号失真是超短基线接收机系统中必须要解决的问题之一。采用常规滤波器与全通网络级联的方法设计了一种相位均衡器,解决了仅使用常规滤波器带来的非线性相位问题,使超短基线接收机在带宽内保持线性相位。给出了全通网络的原理、电路结构推导,分析了该网络中各参量对相位的影响。在设计实例中,相位均衡技术应用到实际硬件电路中进行测试,并结合试验数据及仿真结果对系统的性能进行评估。测试结果证明了相位均衡器可以实现相位的均衡校正功能,在水声接收机领域中有良好的应用前景。     

石英谐振器和振荡器内的噪声机制(英文)

本文把振荡器内的噪声分为两大类:其一是附加噪声,是由热噪声引起的,又可分为内附加噪声和外附加噪声两种;其二是参数噪声,来源于振荡器参数的变化。文中给出了这些噪声与输出信号的相位谱密度及阿仑方差之间的定量关系式。文章介绍了石英谐振器噪声特性的测量系统,从理论和实验上给出了相对频率起伏的谱密度与谐振器无载Q值的关系。文中还介绍了一种新型的SC切割晶体,其频率温度效应可减少两个数量级。     

低压CMOS压控振荡器设计

通过对LC压控振荡器原理的分析,设计了一种新型CMOS集成压控振荡器.该电路通过利用振荡器的输出产生高电压来控制开关电容阵列的开启来实现输出频率在不同频段中转换,从而提高输出频率范围和降低相位噪声.电路采用TsMc18rf工艺,用cadence的spectre工具进行仿真.结果表明:在0.6V的电源电压下,频率覆盖了2.07GHz到2.78GHz,可调控范围约为29%,总功耗约为1.8mw,1MHz频偏处相位噪声约为一120dB/Hz,满足了设计要求.