X射线荧光光谱法测定铝土矿中的主次量组分

选用高温预氧化熔片制样,应用理论系数法和散射线内标法校正元素间谱线干扰和基体效应,用X射线荧光光谱法测定铝土矿中硅、铝、铁、钾、钠、钙、镁、磷、钛、锰、硫、锆、锶、钒、铬、镓等16种主次量组分,各相对标准偏差（RSD,n=11）均小于10％,测定值与外检结果吻合.     

X射线荧光光谱法测定浮选磷矿中的主次组分

采用压片制样、X射线荧光光谱法测定浮选矿中磷、镁、铁、铝、硅、钙,选择了适合该矿种的测试条件,用经验系数和理论α系数法进行基体效应校正,各组分的标准偏差(SD,n=10)均小于0.04%,结果与化学法吻合。     

X射线荧光光谱法测定钛酸钡中主次元素含量

用粉末压片X射线荧光光谱法测定BaTiO3中Ba、Ti、Mg、Si、Fe、Sr含量。根据钛酸钡样品中主次成分含量范围,采用在高纯钛酸钡样品(纯度≥99.99%)中加入梯度量各杂质元素标准溶液的方法制作校准样品系列,解决了无钛酸钡标准样品的问题。采用经验影响系数法纠正基体效应,并对较准样品的配制方法、压片机压力、粒度效应等进行了探讨。方法用于钛酸钡中主次元素含量测定时,测定结果与化学分析法相符,相对标准偏差均小于6.73%。     

熔融制样X射线荧光光谱法测定氧化钼中主次成分

采用无水四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂熔融制样,建立了用X射线荧光光谱(XRF)法测定氧化钼中MoO3、CuO、SiO2、CaO、Fe2O35种组分的方法。以Mo为主要分析元素分别对仪器参数、分析谱线、标准曲线进行了研究,并详细讨论了熔融法制样过程中熔剂的选择、熔融温度和熔融时间的确定、脱模剂的选择。该法用于分析氧化钼样品,同湿法结果相吻合,能满足生产中氧化钼样品中5种组分分析的需要。     

X射线荧光光谱法定量测定湿法磷酸中主次成分

研究了湿法磷酸样品与助熔剂四硼酸锂在高温下熔融制成玻璃片后，在X射线荧光光谱仪上测定其Fe2O3、Al2O3、MgO、P2O5含量的方法。方法测定结果与化学分析测定结果基本一致。Fe2O3、Al2O3、MgO、P2O5的变异系数（CV）分别为：0．88％、0．60％、1．07％、0．16％。     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中有毒有害元素

以粉末压片制样,确定制样条件,仪器最佳参数,并绘制标准工作曲线,建立X射线荧光光仪测定铁矿中镉、铅、砷、硫、氟和氯等有毒有害元素含量的方法。并将检测结果与其他分析方法结果相比较。结果表明,粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿中6种有毒有害元素方法快速、准确、可靠。有效解决传统化学分析法周期长、操作繁琐、试剂消耗量大和对环境污染等问题。     

X射线荧光光谱法测定钻探岩心样品中的主次量元素

利用X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了钻探岩心样品中Si、Al、Fe、Mg、Ca、Na、K、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ba、Nd、Yb、Hf、Ta、Pb和Th等33种主次量元素,研究了元素基体校正、谱线重叠校正和方法检出限、精密度、准确度。结果表明,该方法除Mo的检出限0. 8μg/g超出地球化学普查要求检出限0. 5μg/g外,其它元素都在要求范围内;绝大多数主、次量元素的精密度(RSD,n=12)均小于5%,主量和次量(除Mo外)元素的准确度分别小于0. 07和0. 11,方法精密度和准确度都满足地球化学普查的要求。该法具有操作简单、多元素分析、非破坏性测定等特点,适用于大批量钻探岩心样品的分析生产。     

X射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量

确定了用X射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量的最佳测定条件,该方法简单、条件易控制,Si O2、Al2O3、Ca O、Mg O元素的相对标准偏差分别达到0.40%、0.78%、3.6%、5.9%。经大量实验证明,采用本方法测定,准确度较高,操作方便,结果令人满意。     

X射线荧光光谱法测定石膏主、次化学成分

使用压片法与熔片法对石膏的化学成分进行检测,对比后确定采用熔片法制样。以混合熔剂(Li2B4O7∶Li BO2=12∶22)作熔剂制备石膏熔融片,用波长色散X射线荧光光谱仪测定石膏中的Al2O3、Ca O、Mg O、Si O2、Fe2O3、SO3、K2O。该法测量准确度、精密度较好,所得结果可与化学分析结果接近。     

X射线荧光光谱法测定磷矿中Na元素的重叠校正

根据钠的X射线荧光光谱扫描图中干扰线ZrLα1，2（2θ=24.60°，2次线），ZnLα1，2（2θ=24．83°，1次线），ZnLβ1（2θ=24°17°，1次线），对NaKα1,2的干扰谱信息，采用数学方法和重叠校正后的系数计算分析元素的强度，此法可降低或消除露叠干扰，提高测量的准确度。     

X射线荧光光谱压片法测定白刚玉中微量元素含量

分析粉末压片法X射线荧光光谱法测定白刚玉中微量元素含量的分析方法,研究在压片过程中分散剂三乙醇胺的用量,颗粒效应等对测量的影响。用系列定值的氧化铝校准样品绘制工作曲线,以仪器自带的基体校正方法消除吸收与散射效应,对白刚玉样品中SiO_2、Fe_2O_3、CaO、K_2O、Na_2O、ZnO 6个元素进行测量,同一试样的11次压片测量,各成分结果的相对标准偏差在0.85%~5%范围之间。用氧化铝标准样品和白刚玉样品验证,该方法与化学法测定样品结果之间一致性良好。     

X荧光光谱法测试地质样品中的锡

采用X射线荧光光谱压片法对地质样品中Sn进行测试,通过人工配置标准样品和国家标准样品共同建立标准曲线,曲线梯度合理均匀,线性良好。该方法采用α经验系数法进行基体校正,采用Rh的康普顿散射作内标,对于地质样品中Sn元素的测试,检出限可达到3.59μg/g,样品的相对标准偏差可达到3.1%,测试效果理想。     

X射线荧光光谱法测定推进剂中的金属成分

自行研制了复合推进剂标样,以化学方法测定标样中的Al、Mg含量．建立了工作曲线。同时用XRF法测定推进剂中镁、铝含量。结果表明,Al、Mg含量10次测定的相对标准偏差分别为0．023％和0．061％。样品测试结果与化学方法一致,但更快、更简便,是检测推进剂中金属成分较为理想的方法。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁矿中全铁

用四硼酸钠-碳酸钠混合熔剂熔融铁矿,用稀盐酸浸出.选择较高稳定性且无光谱干扰的Fe 248.327nm为分析线,加入钇为内标元素,Y 371.030nm为内标线,检测铁矿中的总铁。分析的相对标准偏差(RSD,n=7)为0.29%～0.39%,有证标准物质分析结果同证书值相对误差值均在0.3%以内。     

X射线荧光光谱法测定叶蜡石、高岭土的化学成分

叶蜡石、高岭土是玻璃纤维行业生产最主要原料。随着玻璃纤维行业的发展,其用量每年大幅度上升,因此对于叶蜡石质量要求越来越高。传统的湿化学方法已经很难满足要求。本文阐述了采用熔融制样x射线荧光光谱法测定叶蜡石、高岭土的SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MgO、S这9种成分的含量,所得结果与化学分析结果相符,同时采用荧光光谱法更为迅速快捷,是实际生产中的化学成分分析的一种有效方法。     

X射线荧光光谱法测定超基性岩石中11种元素

超基性岩类矿物具有比较复杂的元素组成,x荧光光谱分析方法有粉末法和熔融法,粉末法虽简单快捷,但精度不高,考虑到颗粒度效应和矿物效应,采用高温溶解超基性岩石制成玻璃熔片,然后利用X射线荧光光谱仪直接测定超基性岩中Al、Fe、Na、K、Si、Mg、Ca、Cr、Ni、Co、V 11种元素。此方法精密度、准确度高,测试数据准确,应用范围广,适用于超基性岩石中各主要矿物的分析。