高压脉冲电容器电容量漂移影响的实验研究

针对不同贮存环境对高压脉冲电窖器电窖量瀑移的影响进行了长期对比实验研究。采用同一批次同一型号高压脉冲电容器,随机抽取组合成实验对比组。通过观测,发现该型号高压脉冲电容器电容量的漂移与贮存环境温度的关系密切;与自然光照的关系并不明显;在同样的贮存环境下,与未加任何保护的实验对比组相比较。使用硅胶灌注的实验对比组电容量的漂移速度明显平缓,特别在贮存环境温度较低时,硅胶灌注对高压脉冲电容器电容量的漂移有明显的减缓作用。     

彩电中高压电解电容器的失效及机理

本文分析了高压铝电解电容器在彩色电视机中的失效情况,着重讨论了氯离子对阳极引出片的腐蚀问题。分析了污染源、腐蚀条件的形成、孔蚀与电解腐蚀及其相互关系以及NH_4OH所起的作用。     

电解电容器的可靠性试验及失效分析

本文阐述了电解电容器的可靠性试验方案和试验过程,并从容量超差、漏电流超值这两方面对筛选出的失效电容进行了机理分析,找到了电解电容器失效是由于产品开路、接触不良、芯子吸附的电解液逐渐干涸这三种情况造成的.     

高压薄膜脉冲电容器放电性能的研究

高压薄膜脉冲电容器是放电触发电路中的重要储能器件,通常用于产生高功率大电流脉冲.分析高压薄膜电容器性能检测指标及实际放电过程,找出了高压薄膜电容器样本失效原因,采取提高卷绕电容器芯工艺水平措施后,所制高压薄膜电容器常规指标合格,放电触发次数可靠性指标达到系统要求的6 000次以上.     

彩电用高压铝电解电容器失效机理的初步分析

分析了彩电用高压铝电解电容器的失效模式、失效原因,提出了几点建议。     

基于参数回归分析的金属化膜脉冲电容器竞争失效分析

金属化膜脉冲电容器既有突发型失效又有退化型失效.通过分析金属化膜脉冲电容器的退化失效机理,在假设突发失效与退化失效相关的条件下,给出了基于参数回归分析的电容器竞争失效的一般模型,最后利用该模型对某金属化膜脉冲电容器的试验数据进行可靠性分析.根据评估结论,该电容器打靶10 000发的可靠度为0.798 6.该模型为竞争失...     

高压瓷介电容器脉冲开裂失效问题及材料选择

高压瓷介电容器使用过程中,因受到脉冲电压的影响可能发生开裂失效,该失效模式与电容器本身的介质材料有很大关系,不同介质材料的高压瓷介电容器在电场作用下有不同特性。从脉冲耐压测试和材料微观特性(晶相组成、介电性能、压电性能、铁电性能)方面对BaTiO₃和SrTiO₃系高压瓷介电容器样品进行了研究,研究结果表明：相比2B4瓷料制得的顺电相SrTiO₃系瓷体,以Y5P瓷料为原料制得的铁电相BaTiO₃系瓷体居里温度高、压电常数大、铁电性能好,在不断变化的脉冲电场下因电畴运动产生形变,易造成开裂现象。     

薄膜电容器的失效分析和试验方法

薄膜电容器失效的主要原因在于其保护层防潮性能不好和实际应用中存在交流电。文中先介绍薄膜电容器的生产工艺和电子镇流器的使用环境,再介绍潮湿对电容器的危害作用,以及电容器的失效分析。作者运用详细的原理解释,结合用不同的潮湿试验条件和施加直流电压或交流电压的方法来评估薄膜电容器的实际承受能力,通过优化选择和数据对比,得出结论"85℃,85%RH,施加交流电压"是最有效的试验方法。总之,增强防潮和抗交流电能力可以保证薄膜电容器以及电子镇流器处于高质量水平。     

CL81型高压聚酯膜电容器的阻燃试验

介绍了ＣＬ８１型高压聚酯膜电容器行业标准中关于阻燃试验的技术要求和试验方法。     

CD289型400V铝电解电容器气候顺序试验失效机理的探讨

对ＣＤ２８９型４００Ｖ铝电解电容器在气候顺序试验时，漏电流超差失效的机理进行了探讨，并提出了解决措施，通过试验，证明措施是有效的。     

高压大容量有机固体电解质片式钽电容器可靠性试验

高压大容量有机固体电解质片式钽电容器是适应现代电子技术而发展起来的一款新型产品,但由于缺乏其高温可靠性检测报道,严重限制了此类电容器的广泛应用。目前国际上普遍采用–55~+105℃的使用温度范围,而不能满足特殊领域如125℃的使用要求。本文通过对电介质和聚合物膜层的处理,以及增加防潮涂层,经过一系列可靠性试验后电容器的各项性能参数趋于稳定,电容器的可靠性得到明显证实。此研究结果将为高压大容量有机固体电解质片式钽电容器在特殊环境下的应用提供必要的技术支撑。     

砷化镓高电子迁移率晶体管的贮存试验与失效分析

高电子迁移率晶体管(HEMT)能在高频(>60GHz)下工作,具有增益高和噪声系数小的优点,因而成为微波通信和高速微电子应用中的关键器件.今天,这些器件已成功地用于卫星接收器、微波振荡器、混频器和多路转换器中.文献中描述过的限制HEMT可靠性的失效机理包括:界面和陷阱相关效应、2度泄漏、欧姆与肖特基接点退化、ESD和紫斑.本文的目的是介绍通过商用晶格匹配的AlGaAs/GaAs低噪声HEMT的无偏压贮存试验来鉴别的失效机理。     

用正交试验法探索铝电解电容器脉冲电压老练工艺

改进老练工艺是降低铝电解电容器漏电流的重要措施。采用脉冲电压老练能提高铝电解电容器阳极氧化膜的修补效率。用正交试验法快速找到脉冲电压老练中的充、放电时间等工艺参数 ,使产品漏电流常数 K降到 0 .3× 10 - 2 ～ 0 .3× 10 - 4 μA/ (V·μF)。     

脉冲电容器质量试验及其电路中元件参数的确定

介绍了在一定电压、电流值和反峰电压下的充放电试验方法,并经过深入分析归纳出设计电路中L,R元件参数的公式,为测试某型号脉冲电容器的质量及工作可靠性提供了依据.实验要求脉冲电容器充电电压10 kV,放电电流4 kA,重复频率可调6～10s/次,测试5000次.充电电源来用恒流充,具有速度快,效率高,对电容损伤小等优点,开关采用高压真空接触器;智能控制器来用FPGA控制,具有控制灵活,稳定性高,测量精度高等优点.放电回路是在RLC二阶电路欠阻尼状态下进行的.通过仿真,验证了元件参数设计正确.