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电触点材料接触电阻分析 总被引:6,自引:0,他引:6
分析了电触点材料接触电阻产生的原因、影响因素以及电触点材料常用金属元素的腐蚀行为。概述了降低电触点材料接触电阻、防止触点元件失效的方法。 相似文献
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电接触的接触电阻研究 总被引:4,自引:0,他引:4
电接触是研究电连接可靠性的应用学科,接触电阻是衡量电接触系统可靠性的重要指标。本文从影响接触电阻的因素以及接触电阻的微观模型出发介绍了最新的研究成果,给出了工程上计算及测量接触电阻的方法,指出了电接触未来的发展方向。 相似文献
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针对电连接中的铜-铜板连接发热现象,依据接触电阻理论,建立了铜-铜板连接的三维模型。采用COMSOL Multiphysics多物理场直接耦合仿真分析软件,对铜-铜板连接进行了电-热耦合场分析、电-热-流耦合场分析,研究了不同载荷状态下的电连接热稳定性。最后对板连接进行了温升试验,通过对试验数据与仿真分析的数据对比,仿真分析结果与试验结果误差在±2%范围内。 相似文献
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电触点材料接触电阻的测量方法 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了电触点材料接触电阻的测试原理及测试方法。对AgNi(0.15)、AgNi(10)两种材料的触点进行了接触电阻测试,分析了其检测结果,为触点接触电阻状况的研究和分析提供了有效的检测工具。 相似文献
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电接触的接触电阻研究进展 总被引:4,自引:0,他引:4
接触电阻是衡量电接触系统可靠性的重要指标。本从接触电阻的影响因素、数学模型等方面阐述了近几年来接触遥研究动向,并提出了接触电阻今后的研究方向。 相似文献
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银合金触头材料在低压电器产品中的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
归纳了接触器、开关、断路器等低压电器产品中几种常用的合金触头,并介绍了它们的性能、特点。对这些电器产品所用的不同触头材料银镍合金、银石墨合金、银钨合金、银氧化镉合金、银氧化锡合金等的差别进行了分析,依据多年实践工作经验,总结了对不同触头材料的应用与选择。 相似文献
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用透射电子显微镜(TEM)的选区电子衍射、衍衬及X射线能谱分析了真空熔铸Cu-25Cr合金触头材料和烧结CuCr25粉末合金触头材料中Cu/Cr两相界面及其显微组织。一些细小的Cr二次枝晶与Cu基体有择优取向关系,即(110)Cr∥(111)Cu和[011]Cr∥[112]Cu,间距约6nm的单列错配位错分布在Cr/Cu两相的半共格界面上,这表明Cu-25Cr合金材料中Cr/Cu两相的界面具有更好的协调性。与Cu-25Cr合金材料相反,CuCr25粉末合金烧结材料中Cu/Cr粒子之间形成的是非共格界面,且有少量的Al2O3和Cr2O3等夹杂物聚集在松散的Cu/Cr颗粒间的界面上。据此,本文讨论了CuCr触头材料中Cu/Cr两相间的界面结构对材料机械性能、断裂特性及电接触性能的影响。 相似文献
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