复杂的数字器件推动灵活的工程验证测试系统的使用

简介 为了分析目前高性能数字集成电路,工程师需要结合了灵活全速的数字测试能力和交互式工程环境的专用工程验证测试系统.这些工程验证测试系统与光学节点级诊断系统相结合,可以帮助领先的半导体制造商快速地完成复杂的调试和失效分析任务.     

宽带电路交换核心芯片的验证与测试

介绍了一种宽带电路交换核心芯片的结构,针对设计的电路给出了验证模型,讨论了功能验证的内容和方法,重点讨论了流片完成后如何对芯样片进行全面测试.给出了测试系统的组成,并对测试的步骤、内容和方法进行了讨论,最后给出了测试结果及其分析.芯片现已投入实际应用.     

SOC层次化验证方法及应用

首先对SOC功能验证做了简要介绍，然后主要讨论了功能验证中的层次化验证方法，并以一个基于AMBA总线架构的SOC系统为例，从模块级、子系统级和系统级三个方面分别阐述了如何用层次化的方法进行验证。层次化验证方法主要分三层，第一层测试主要验证接口协议；第二层测试是对随机产生的大量的交易序列的测试；第三层测试主要是对特定的逻辑功能进行验证。每一层都是构建于其他层之上，这使得层与层之间衔接非常紧密，以便于在完成了第一层的测试之后可以快速地扩展到第二层进行测试，层次化验证方法的应用大大地提高了验证环境的执行效率。     

基于UVM及VIP的SoC低速端口CAN验证系统设计

本设计基于UVM环境搭建CAN控制器的验证系统,利用商业VIP可以简化大量验证平台设计工作。CAN控制器集成于SoC平台,CAN的验证环境整合在整体验证环境,针对CAN端口的测试平台作为整体测试一部分。利用VIP生成的组件针对不同验证功能开发多种sequence,配合相应软件配置,验证了集成环境下的CAN的各项测试需求。验证平台搭建比较简单易复用,对于So C流片提供了充分保证,同时对于芯片的PCB板级验证提供参考和借鉴。     

基于伪随机的微处理器验证方法及改进

处理器验证是验证工作中最重要也是时间开销最大的部分.文中提出了一种基于仿真的微处理器验证方法,以伪随机算法为主自动生成测试向量,实现了验证的自动化和验证环境的可重用性.并在此基础上引入神经网络算法,提高了整个验证过程的自动化程度和效率.通过一款DSP处理器的验证结果表明,该方法确实提高了微处理器功能验证的有效性和完备性.     

基于APTIX设备实现对数字系统的硬件加速验证

随着硬件描述语言(HDL)的发展,数字系统日趋复杂,对其进行验证需要很长时间,根据近年来的统计,对数字系统设计进行测试验证所花的时间占整个设计过程的60%以上.但是现在许多可编程逻辑器件(PLD)厂家都能够提供相关电子设计自动化(EDA)软件来完成对数字系统的快速验证,其中APTIX公司的设备是价格低、验证速度快、基于层次化和模块化的验证平台.文中以APTIX设备为开发环境,应用硬件加速验证的方法来实现对数字系统的快速验证.     

基于 VMM 验证方法学的 USB 控制器 IP 验证方案

针对 USB 控制器 IP 的功能及结构特点,并且尽可能更快地完成验证以适应上市的需求,提出了一种基于 VMM验证方法学的高效验证方案.建立了一个层次化的、可重用的验证平台.利用 VMM 测试激励约束性随机产生的特点,提出了分层解析、分层约束的激励产生方法;利用 Synopsys 公司开发的验证 IP(VIP):AHB 总线功能模型和 USB 主机模型,快速构建仿真环境,模拟实际数据流的通信过程;充分发挥VIP的内部“后门”的作用,增强验证平台测试流的可控性.验证结果表明该验证平台能全面验证 USB 控制器 IP,且性能稳定、兼容性强;通过模拟实际的工作流程,达到了优化设计、缩短验证周期的目的.此方案的一些设计思想,对系统级平台及其他模块级验证平台设计具有参考意义     

SRAM的设计验证

介绍了两种SRAM的设计验证方法:1.用PERL编写的应用程序按设计要求自动生成仿真测试文件完成全芯片功能/时序分析.2.形式验证的方法的应用--Synopsys公司先进的EDA软件ESP-CV来实现对较大容量的SRAM的功能验证.文章在简述两种方法的基础上,用具体实例详细描述了两种方法在电路仿真测试中的应用,并给出了电路的部分测试文件及仿真结果,进一步论述了该方法的可行性及实用性.     

数字集成电路的FPGA验证

在一个复杂的asic芯片设计中，动辄数百万门，如果已流片后回来的芯片无法正常工作，必将造成时问、金钱的极大损失，比如开发费用的成倍增加，市场先机的丧失等等；为避免以上情况，在流片之前需要做验证，除了采用软件仿真和形式验证是很不够的，还需做其他一些不同的验证，这些验证方法互相补充，以尽可能提高芯片验证的覆盖率，其中很重要的就是系统级的FPGA验证。由于FPGA验证系统与实际的系统很接近，在这样一个系统上，芯片运行的速度和实际系统可比拟甚至一样，这有助于发现一些出现概率很低的bug，很容易运行一些在软件仿真中不太实际的测试；其次，对于一个FPGA验证系统，可以把它视为一个实际芯片构成的系统，完全可以在此基础上利用各种开发工具开发出相应的测试平台和应用平台，这就使得芯片代码的验证与实际芯片的测试类似，并且用于代码验证的所开发的工具和测试向量完全可以用于流片回来后的产品测试，大大减小了工作量，提高了工作效率；     

装备测试性验证技术综述

装备测试性验证是指为检验设计和制造所赋予装备的测试性是否满足规定的测试性要求而进行的试验与评价工作,是装备故障预测与健康管理设计的重要依据,也是装备采办管理和科学决策的基础.如何有效地开展测试性验证试验,是理论和工程实践中亟待解决的问题,具有重要的理论和工程应用价值.综述了装备测试性验证技术的国内外发展现状,阐述了测试性验证的技术体系,分析了测试性验证的关键技术,指出了目前亟待解决的关键问题和难点问题,最后,在对当前测试性实物验证和非实物验证技术方案进行综合分析的基础上,对测试性验证技术方案进一步的研究发展给出了建议.     

基于TotalRecall技术ASIC的FPGA原型验证

芯片设计中一个非常重要的环节是验证.随着FPGA技术的迅速发展使基于FPGA的原型验证被广泛的用于ASIC的开发过程,FPGA原型验证是ASIC有效的验证途径,但传统FPGA原型验证的可视性非常差.为了解决传统FPGA原型验证可视性的问题,验证工程师采用了结合TotalRecall技术的FPGA原型验证方法对一款鼠标芯片进行验证.获得该方法不仅能提供100％的可视性,还确保FPGA原型验证以实时硬件速度运行.该方法创新了ASIC的验证方法学.     

一种基于投票的VANET位置验证方法

位置欺骗严重影响了车载自组织网络（VANET）的安全,解决位置欺骗的有效方法是对位置验证。VANET中的位置验证受到了研究人员关注,针对基于最小均方误差（MMSE）的位置验证方法准确性不高的问题,为更高效准确地检测出位置欺骗,提出了一种基于投票的VANET位置验证方法,在此基础上,对所提出的方法进行了安全性分析和实验仿真,结果表明,此方法的性能优于基于MMSE的位置验证方法。     

FPGA硬核处理器系统加速数字电路功能验证的方法

为了缩短专用集成电路和片上系统的功能验证周期,该文提出FPGA硬核处理器系统加速数字电路功能验证的方法。所提方法综合软件仿真功能验证和现场可编程门阵列原型验证的优点,利用集成在片上系统现场可编程门阵列器件中的硬核处理器系统作为验证激励发生单元和功能验证覆盖率分析单元,解决了验证速度和灵活性不能统一的问题。与软件仿真验证相比,所提方法可以有效缩短数字电路的功能验证时间;在功能验证效率和验证知识产权可重用方面表现优于现有的FPGA原型验证技术。     

基于SV语言的DBA芯片的验证

随着芯片规模和设计复杂度的增加,传统的模拟验证方法学已经成为整个验证的瓶颈。为了解决这一瓶颈问题,验证方法学从模拟验证逐步演变成形式验证,先后经过了模拟晶体管模型仿真、门级仿真以及采用点线功能模型（BFM）的事务级仿真三个阶段。SV验证方法学是在模拟验证的基础上增加了形式验证的方法;它采用以覆盖率为导向的技术、受约束的随机技术和基于断言的技术来构建全面的验证环境。以覆盖率为导向可使验证迅速达到验证的出口条件,采用随机测试用例为主代替传统的直接测试为主可使验证迅速收敛,而通过在设计中插入断言可精确验证设计的内部时序问题。实践结果表明,采用这种验证方法极大的提高了验证的效率,缩短了验证周期。     

基于SystemVerilog的SRAM控制器IP核验证

随着硬件设计复杂度的提高,设计的后期验证在设计生命周期中占据的比重也越来越大。能否对设计进行全面有效的验证,是验证人员所面临的主要问题。采用SystemVerilog语言对SRAM控制器IP核搭建验证环境,并结合SVA断言技术对其实行监控,得出代码及功能覆盖率数据。通过与传统的验证方法对比分析可知,基于SystemVerilog的验证方法更加全面有效,提高了验证质量。     

Leon2微处理器流水线相关验证

微处理器的功能验证成为设计验证的瓶颈,指令集的组合验证对流水线处理器具有重要的意义。Leon2流水线相关验证找出了流水线相关的测试向量集,实现了测试程序的自动生成,构造自动化程度较高的验证平台。与指令随机组合测试的方法相比,有针对性地验证了引起流水线相关的情况,同时测试程序达到了较高的流水线状态覆盖率。     

SoC中多层AHB总线的断言验证应用

随着SoC设计复杂程度的不断提高,芯片的功能验证面临的挑战越来越大。断言作为一种描述属性的方法,可以快速地验证设计代码是否满足系统要求。基于断言的验证方法学近年来发展极为迅速,应用也越来越广泛。在基于Multi-layer AHB总线架构上的SoC系统验证过程中,采用System Verilog Assertion验证方法,证明SVA是SoC设计过程中功能验证的一种有效的验证方法。     

基于VMM统一验证平台的Serdes芯片验证

本文基于VMM验证平台,介绍了高速串行收发器芯片的验证方法。文章首先简要介绍了Serdes芯片和VMM验证方法,然后搭建了Serdes芯片的VMM统一验证平台,并从测试激励产生、寄存器读写控制、覆盖率自动统计、断言验证及覆盖率收敛等几个方面详细阐述了Serdes芯片的验证过程。最后给出了验证结果和测试报告。     

基于SystemC和Verilog软硬件协同验证

针对当前专用数字集成电路设计中的验证瓶颈,为了在更高的抽象级别对设计对象进行描述和验证,提出一种软硬件协同验证方法.该方法基于SystemC的交易级处理器内核模型和基于Verilog的内核之外的硬件模型.该方法被应用到东南大学研发的微处理器芯片GIV的具体验证中.实验数据表明,由于采用软硬件协同验证模型在芯片生产之前对系统功能、结构设计等进行验证,缩短了开发周期,降低了开发成本,提高了验证可靠性.     

基于E语言的外部存储器接口的功能验证

在SoC设计中,传统功能验证方法已显示出其缺点,主要问题有：复杂验证场景难以构建;边缘情况难以覆盖。针对这些问题,业界提出了一种新的功能验证方法学——受限随机矢量生成的功能验证,该方法在满足约束条件的前提下,随机产生验证矢量。本文研究了受限随机矢量生成的功能验证在SoC设计中的应用,并以基于E语言和Specman验证平台验证了SoC芯片中的外部存储器接口,给出了具体的验证环境和验证步骤。验证结果表明,复杂验证场景和边缘情况的覆盖率均达到了100％。极大地提高了验证的效率和质量。