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JohnSwanstrom 《世界电子元器件》2005,(3):72-76
随着天线变得越来越复杂,其测试要求也变得越来越复杂,相应的技术也正在不断变化,这些技术进步可以提供一条降低总测试时间的途径,从而提高测试量程的生产效率,本文将介绍这种新技术在天线/RCS测量中的特点,配置,典型天线/RCS测量方案,以及不同测量方案的测量时间比较,从而考察这种新技术在天线测量中降低测量时间的效果。 相似文献
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dIT/dt是衡量可控硅可靠性的一个重要参数,过高的dIT/dt可能会导致可控硅损坏或失效,故设计一个能准确测量此参数的低成本线路显得尤为关键.本文设计了一个简洁的测量可控硅dIT/dt的测试电路,并介绍了它的测试原理与测试方法,且测量了市场上的BTA208-600B,得出了测试结果,与该产品说明书的值一致.可应用于研发可控硅的企事业单位和研究所测试可控硅. 相似文献
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放大器的测试指标可以分为两类:线性指标测试和非线性指标测试.线性指标的测试基于S参数的测量,采用常规矢量网络分析仪完成.对于非线性指标的测试,传统测试方案采用频谱仪加信号源方法,但这种方案有很多缺点:1)无法实现同步扫频、扫功率测试.2)不能进行相位测量,如幅度相位转化(AM/PM)测量. 相似文献
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测试测量仪器被广泛应用于电子设备行业,其用户也涵盖了包括消费电子、汽车、国防、教育、政府、半导体制造、通信等诸多行业。目前全球测试测量市场可分为三个领域。即:通信测量市场、自动测试设备/半导体和通用测试设备市场。 相似文献
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LTE即将在中国规模商用,在这一进程中,构建完善的LTE产业链至关重要。LTE测试是整条产业链中重要的一环,作为电子测试测量领域的领先者--安捷伦积极面对LTE技术对电子测量测试领域的挑战,依托其强大的技术优势和深厚的测量测试开发经验,推出强大的测试平台和测试工具,帮助工程师快速定位、消除在LTE/LTE-A产品研发、设计、生产制造等环节中的问题。 相似文献
10.
雷达系统性能测量在雷达装备研制过程中具有重要作用,基于LabWindows/CVI开发了便携式雷达测试系统。文中给出了总体设计框架,依据测试需求完成了软件框架的设计,并给出软件的运行流程。具体介绍了参数测量功能模块中信号带宽测量的实现情况。应用情况表明,该测试系统操作方便,人机界面友好,分析性能稳定。 相似文献