一种MIMO-OFDM系统帧同步设计与仿真

针对两个发射天线两个接收天线的MIMO—OFDM系统提出了一种新的同步设计方法。该方法采用了周期完全互补码PCC（Periodic Complete Complementar yCode）作为发射天线端二个同步子帧训练符号。由于PCC码具有周期互相关函数为零,周期自相关函数为移位的单位冲激函数的性质,因此采用此码作为MIMO—OFDM系统同步子帧可以解决系统中多个天线同步信号检测时互相存在的干扰问题,而且该方法在信噪比比较低情况下仍然能够检测到各个发射天线端的同步信号。     

基于压电陶瓷直驱的前向像移补偿系统

为补偿面阵测绘相机航摄成像过程中的前向像移,设计了采用压电陶瓷驱动器直接驱动焦平面组件的前向像移补偿系统,给出了前向像移补偿系统工作时序。压电陶瓷驱动器工作于位置闭环模式,通过斜坡递增设置压电陶瓷驱动器位置给定,使压电陶瓷驱动器驱动焦平面组件以期望速度移动,补偿前向像移速度。实验结果表明,前向像移速度为2.5mm/s时,前向像移补偿系统最大像移补偿残差为0.38μm;前向像移速度为3.5mm/s时,最大像移补偿残差为0.48μm,远小于1/3像元尺寸。相机最长曝光时间为20ms时,前向像移补偿频率可达25Hz,满足高频航测成像前向像移补偿需要。     

压电式旋转驱动器的设计与实验

为了实现压电驱动器低频率、高效率的输出,设计了一种低频压电式旋转驱动器,这种旋转驱动器结构简单,由低频电源驱动。首先对旋转驱动器进行了结构设计与工作机理分析;然后建立了系统的动力学模型,得出系统输出位移和固有频率表达式;最后制作了实验样机进行实验测试,以微小物料为研究对象,测试驱动器的驱动能力。测试结果表明,当系统频率在91.5Hz时,旋转驱动器性能最佳,输出振动位移大致为45μm,物料移动最大速度为0.15cm/s。     

基于PCC控制器的精密伺服控制系统

本文介绍了一种精密伺服控制系统的组成,包括PCC控制器、直流伺服驱动器、直流力矩电机、旋转变压器等,并介绍了控制系统的工作原理和工作方法,最后给出了跟踪精度的测试结果。     

基于FPGA的PMLSM预测电流控制系统设计及在环验证

为提高永磁同步直线电机(PMLSM)电流环的控制性能与电流控制算法的执行速度,利用现场可编程门阵列(FPGA)设计了一个可编程逻辑(PL)+处理器系统(PS)结构的预测电流控制(PCC)系统,并基于PYNQ架构提出了一种新的FPGA在环方法用于复杂控制系统的硬件可视化验证。首先对PCC算法进行了分析与仿真,并建立了变增益干扰观测器以提高鲁棒性;接着使用硬件结构优化技术设计了一个PCC IP核,并对其进行了功能仿真;最后在Zynq 7020芯片上实现了PMLSM PCC系统,并使用提出的FPGA在环验证方法更方便有效地对控制系统进行了板级验证。结果表明,预测电流算法控制带宽大、稳态性能好;在Zynq 7020芯片上使用PYNQ框架、PL端时钟频率为200 MHz时,用PCC IP核硬件实现与双核ARM Cortex A9软件实现一次算法所需的时间分别为1.989 6 ms和4.487 5 ms,加速比为2.255,FPGA硬件加速明显。     

MIMO-OFDM系统同步器的硬件结构设计

由于在MIMO-OFDM系统中有多个发射和接收天线,并且每个接收天线都能接收到所有发射天线的信号,当各个收发天线之问的子信道延迟不同时,在每个接收天线端的帧同步检测就会受到其他天线发射同步信号的干扰。为了解决这个问题,我们提出了一种MIMO-OFDM系统的帧同步的设计方法及相应同步器的硬件结构设计。该同步单元可以实现时域和频域的同步,其中时域的同步是通过一组ZCZ码的匹配滤波器实现的,而频域的同步是通过同步帧的训练符号实现的。并且在Altera＇s公司的FPGA开发板上实现了同步器的硬件设计。     

用于测试CMOS输出驱动器电流变化率的新电路

提出了一种新的用于测试 CMOS输出驱动器电流变化率的电路结构 .它把片上电感引入到测试系统中作为对实际封装寄生电感的等效 ,从而排除了测试时复杂的芯片 -封装界面的影响 .这种电路结构不仅可以用于实际测算输出驱动器的性能指标 ,还可以用于研究 VL SI电路中的同步开关噪声问题 .该设计方法在新加坡特许半导体公司的 0 .6μm CMOS工艺线上进行了流片验证 .测试结果表明 ,这一测试结构能有效地表征 CMOS输出驱动器的电流变化率的性能指标和 VL SI电路中的同步开关噪声特性     

新型压电叠堆式步进直线精密驱动器设计

提出了以压电叠堆作为驱动源的新型步进直线精密驱动器,分析了步进直线驱动器的工作原理,设计步进直线驱动器结构及其控制电压波形。为减少驱动器部件间摩擦,构建了滚动直线滑轨与驱动器结合的结构模型。制作了步进直线精密驱动器样机,并对样机进行实验测试,实验结果表明,驱动器的最小步距为0.05 μm,最高运行速度为610 μm/s,且运动性能稳定。     

用于测试CMOS输出驱动器电流变化率的新电路

提出了一种新的用于测试CMOS输出驱动器电流变化率的电路结构．它把片上电感引入到测试系统中作为对实际封装寄生电感的等效,从而排除了测试时复杂的芯片-封装界面的影响．这种电路结构不仅可以用于实际测算输出驱动器的性能指标,还可以用于研究VLSI电路中的同步开关噪声问题．该设计方法在新加坡特许半导体公司的0.6μm CMOS工艺线上进行了流片验证．测试结果表明,这一测试结构能有效地表征CMOS输出驱动器的电流变化率的性能指标和VLSI电路中的同步开关噪声特性．     

基于1553B总线接口的星载机构驱动器设计

机构驱动器在整星天线机构驱动中得到广泛的应用.随着高精度指向卫星对机构驱动器的实时性和可靠性的要求越来越高,传统的、基于RS 422接口的驱动器已经无法满足系统的要求.因此,提出了一种基于1553B总线接口的星载机构驱动器的设计方案,并对驱动器的可靠性进行了仿真和试验验证.