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本文对多芯片组件(MCM)的定义,主要特征、发展历史及其应用进行了综合评述,并指出MCM是微电路技术发展的高级产物。 相似文献
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多芯片组件热分析技术研究 总被引:13,自引:0,他引:13
多芯片组件(MCM)是实现电子系统小型化的重要手段之一。由于封装密度大、功耗高,MCM内部热场对器件的性能和可靠性的影响日益严重。文章讨论了MCM内部热场影响器件可靠性的机理,比较了MCM热场计算的方法和特点,研究了有限元分析的方法和求解过程,进行了实际计算,并提出了几种有效的降低MCM结温的方法。 相似文献
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多芯片组装技术是微组装表面安装的最新技术,在这里我们提出将Cadence应用软件直接应用于多芯片组件设计技术中。介绍了目前Cadence软件应用状况及其功能。 相似文献
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一、前言 三维多芯片组件(简称3D-MCM)是在二维多芯片组件(即2D-MCM,通常指的MCM均系二维)技术基础上发展起来的高级多芯片组件技术。二者的区别在于:3D-MCM是通过采用三维(x,y,z方向)结构形式对IC芯片进行立体结构的三维集成技术,而2D-MCM则是在二维(x,y方向)对IC芯片集成,即采用二维结构形式对IC芯片进行高密度组装,是IC芯片的二维集成技术。三维多芯片组 相似文献
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多芯片组件(MCM)近年来发展迅速,正在成为电子产业的一个重要分支和前沿。本文综述多芯片组件的优点、特性、制作技术以及实际应用,分析多芯片组件主要制造技术的现状及发展趋势。 相似文献
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多芯片组件(MCM)以其在组装密度、信号传输速度、电性能以及可靠性等方面独J特的优势,成为当今极具发展潜力的二次集成及封装技术。本文介绍了这一技术的国内外发展和应用现状、发展趋势以及存在的主要问题,提出了未来我国多芯片组件技术发展的基本思路及其对策。 相似文献
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多芯片组件测试方法 总被引:1,自引:0,他引:1
董志凌 《电子工业专用设备》1994,23(4):50-57
由于每个组件的独特设计,多芯片组件(MCM)的测试不仅涉及到MCM硬件测试,而且还涉及到每个设计的电、热性能的分析评估。在制做MCM之前,评估其预定性能需进行综合分析。MCM测试方法包括一个原理简图、组件模拟、结构设计的CAD接口系统和一个既能提供专门功能AC测试能力,又能对各个设计的电、热性能进行分析的测试程序。MCM界所面临的最大问题之一是使用外购芯片。当使用外来芯片或代理商提供的芯片时,会带来芯片测试精度及预测组件合格率等诸多问题。一旦高级的MCMs采用现代工艺开发成功,那么必须建立起分选高级芯片的各种测试方法。本文讨论了对现存的MCM测试进行确定和检验的测试装置并,有助于解决未来MCMs测试所需的方法。 相似文献
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概述了多芯片组件技术的发展,介绍了多芯片技术基本类型及组装方法、三维多芯片组件以及多芯片组件的发展和重点应用领域. 相似文献
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一、SMT技术飞速发展 在全球电子产品的生产中,SMT技术占有十分重要的地位。在与SMT技术相关的基板材料、元器件结构类型、组装方法、贴装工艺和设备等方面,各国都取得了很大的技术进步。1966年国外对全球四个大市场(美国、欧洲、日本和太平洋沿岸国家)所作的技术调查,详细而具体地反映了上述几方面技术的发展状况。 相似文献