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本文对真空中的预击穿特性进行了研究,分析了影响真空中电极间隙预击穿特性的因素,并对真空灭弧室的顶击穿特性进行了研究。 相似文献
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就高压真空绝缘来说,导致真空电击穿的过程尤其是在大触头开距和长延时情形下的击穿过程,到目的为止尚有诸多不明了的地方。近期的测量结果表明,机械冲击是导致间隙击穿的原因。击穿几年在原始触头条件下最高,而在经过大电流燃弧后有所降低。非金属杂质和遥机杂质在击穿过程中起着重要作用。与可式真空灭弧室相比,商用真空灭弧室没有对机械冲击表现出任何敏感性。除了击穿几率与延时之外,我们也对击穿过程中的暂态电压和电流进 相似文献
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本文提出了一种用微秒低能强度电子束对电极进行了预处理的方法。它表明,这种电子束能使电极表面熔化并除去表面层的杂质和气体。接着,对真空间隙进行小电流脉冲放电老炼处理,即可获得较高的击穿电场强度。 相似文献
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本文实验研究了高压代灭弧室在冲击电太作用下的击穿统计特性,实验结果表明,击穿电压的统计分布满足威尔统计分布律,击穿事件的发生只有在电场应力达到一定值后才有可以,引入击穿弱点的概念,从微观角度对该统计性质作了深入的说明,同时还测量50%击穿电压V50随电极开距d的变化,通过最小二乘法得出V50∝√d,说明此时灭弧室中的周穿过程主要由同微粒作用引发的。 相似文献
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在真空断路器的一个电极中将几个真空灭弧室并联,可以提高断路器的额定工作电流和短路开断电流。在这方面已经进行过一些试验。本文将给出这些试验的结果。我们将会看到,在断路器的整个使用寿命过程中,在触头闭合时,哪些因素能使几个灭弧室之间的分流值达到要求。而且,我们还对触头分离时几个灭弧室之间的分流情况进行了研究。研究结果表明:采用纵磁场(AMF)触头的真空灭弧室效果比较好,而触头分离过程中延迟时间很长时将会对几个灭弧室之间的电流分配产生影响。 相似文献
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我们用一个高清晰度的双筒摄像机(ICCD),通过一些试验来研究真空断路器的延时击穿现象,延时击穿可以引起电弧重燃,导致开断失败,这种开断失败比较少见,它可以由好几种机理产生,本文介绍了研究这种特殊现象的方法,并且展示了击穿发生的初始阶段电弧的图象。 相似文献
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沈靖宇马祥腾刘志远耿英三王建华 《真空电子技术》2023,(5):57-63
随着真空灭弧室电压等级的提升,其内部屏蔽罩间隙的尺寸增加将产生击穿面积效应,这将成为制约真空灭弧室绝缘性能的关键因素之一。本文研究了真空屏蔽罩间隙在不同间距条件下雷电冲击击穿特性的面积效应,实验中采用了三种直径的典型屏蔽罩结构,直径分别为40、60和80 mm,电极材料为不锈钢。结果表明,在恒定间距条件下,随着有效面积的增加,真空屏蔽罩间隙的绝缘强度呈下降趋势,并且下降速度逐渐增大。当间距增大时,一方面任意有效面积下屏蔽罩间隙的击穿电压显著提升;另一方面,由于有效面积的增大对击穿电压的削弱作用逐渐降低。本文的研究结果不仅可以指导真空灭弧室内部屏蔽罩间隙的绝缘设计,也可以为具有不同电极结构真空间隙的绝缘评估提供理论依据。 相似文献
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讨论了真空灭弧室的使用环境、类别和参数选择的原则,提出了正确的安装和维护方法、使用寿命的判别依据,并推荐了使用真空灭弧室的电路保护措施. 相似文献
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本文分析了用于真空开关的触头材料的要求和性能;阐述了最近几年来常用于各种真空开关中的触头材料,如CuTeSe,CuCr和AgWC等;文章最后还介绍了国内外正在开发和研究的新触头材料情况。 相似文献
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分析了屏蔽罩对真空灭弧室耐压及燃弧后介质特性恢复的影响 ,以及屏蔽罩厚度及材料对真空灭弧室的性能影响。最后研究了屏蔽罩大小对真空灭弧室电弧电压、屏蔽罩电位及屏蔽罩电流的影响 相似文献
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