二次离子质谱(SIMS)分析技术及应用进展

二次离子质谱 ( SIMS)比其他表面微区分析方法更灵敏。由于应用了中性原子、液态金属离子、多原子离子和激光一次束 ,后电离技术 ,离子反射型飞行时间质量分析器 ,离子延迟探测技术和计算机图像处理技术等 ,使得新型的 SIMS的一次束能量提高到 Me V,束斑至亚μm,质量分辨率达到 1 5 0 0 0 ,横向和纵向分辨率小于 0 .5μm和 5 nm,探测限为 ng/g,能给出二维和三维图像信息。 SIMS能用于矿物、核物质、陨石和宇宙物质的半定量元素含量和同位素丰度测定 ,能鉴定出高挥发性、热不稳定性的生物大分子 ,能进行横向和纵向剖析 ,能进行单颗粒物、团蔟、聚合物、微电子晶体、生物芯片、生物细胞同位素标记和单核苷酸多肽性分型 ( SNP)测定 ,能观测出含有 2 0 0 0碱基对的脱氧核糖核酸 ( DNA)的准分子离子峰。以SIMS在同位素、颗粒物、大分子、生物等研究领域的应用为重点 ,结合实例 ,对 SIMS仪器和技术进展进行了综述     

电感耦合等离子体质谱、热电离质谱和二次离子质谱技术在核工业中的新进展

结合实例,回顾并展望了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)、热电离质谱(TIMS)和二次离子质谱(SIMS)技术的应用进展,特别是在核工业领域中的进展。讨论了未来相关质谱技术的发展方向,并指出目前存在的主要问题,探讨了可能的解决方案。     

重大仪器专项“高分辨多功能化学成像系统”顺利通过验收

2017年6月20日至21日,国家自然科学基金委员会在京对中国科学院化学研究所承担的重大仪器研制项目“高分辨多功能化学成像系统”进行了结题验收。该系统包括超分辨光学STED成像模块、CARS成像模块、AFM成像模块、共聚焦激发的MALDI-MS成像模块、SIMS质谱成像模块等,能够在各模块单独工作的基础上,实现各模块之间的联用成像,在纳米尺度和分子水平对复杂体系界面结构进行形貌和化学组成表征。     

邻近铀微粒的二次离子质谱测量干扰研究

二次离子质谱(SIMS)测定铀微粒同位素比时,邻近微粒间可能产生干扰.在IMS-6f型SIMS上开展U350和U0002铀微粒在不同间距、不同测量顺序下铀同位素比测量研究,结果表明,微粒间距超过22 μm(U350)和35 μm(U0002)时,微粒的234U/238U、235U/238U、236U/238U测定结果与...     

宋代黑釉茶盏油滴的飞行时间二次离子质谱表征

本研究利用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)表征典型黑釉茶盏釉面上银色反光斑纹,即华北油滴。高分辨质谱测定油滴的主要成分是氧化铁,由显微拉曼光谱确定其矿物形式是赤铁矿(α-Fe₂O₃)。二次离子质谱(SIMS)离子成像进一步揭示：该赤铁矿呈六方柱晶体(约2～10μm);近百余枚这样的晶体自组织分散排列构成类似雨滴状的斑纹(约120μm);与其形貌互补的是含硅、铝、钙、钠等元素的碱性石灰质釉质。SIMS深度剖析发现,α-Fe₂O₃晶体的连续深度不小于5μm。基于SIMS表征结果,还探讨了赤铁矿沉积薄膜状镜铁矿(α-Fe₂O₃)引起华北油滴呈银色与镜面反射现象的原理,以及TOF-SIMS在表征和研究古瓷方面的潜力和局限。     

用FABMS法研究抗生素柱晶白霉素、 4"－酰化螺旋霉素和 Shengjimycins 的质谱裂解规律

本文介绍用FABMS法或SIMS法研究抗生素柱晶白霉素、4＂－酰螺旋霉素、Shengjimycins的质谱裂解规律。用MS数据和13CNMR(COM,DEPT)数据鉴别该分子式和结构式。该方法有利于寻找新的抗生素。     

用FABMS法研究抗生素柱晶白霉素、4″—酰化螺旋霉素和Shengjimycins的质谱裂解规律

本文介绍用FABMS法或SIMS法研究抗生素柱晶白霉素、4″－酰螺旋霉素、Shengjimycins的质谱裂解规律。用MS数据和^13C NMR(COM,DEPT)数据鉴别该分子式和结构式。该方法有利于寻找新的抗生素。     

SIMS中二次离子离化率补偿法——硅中硼的定量分析

1.引言二次离子质谱分析法(SIMS)不但灵敏度高,而且可以测定特征元素的深度分布,这是其它类似装置所没有的。目前这种分析法在半导体材料领域里得到了广泛的应用。但是这种分析方法在绝对定量方面存在困难。目前SIMS正在研究的实用定量分析方法有三种:(1)曲线法;(2)热力学解析法和(3)MISR(Matrix Ion Species Ratio)方     

太阳能级晶体硅中杂质的质谱检测方法

太阳能级晶体硅材料中杂质的种类和含量直接影响太阳能电池的发电效率,因此硅材料中杂质含量和分布的检测至关重要。当今社会光伏产业的迅猛发展,推进了晶体硅检测技术的更新和发展。本文总结了近年来在硅材料杂质检测中所使用的方法以及这些方法的不足;比较了电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）、辉光放电质谱（GDMS）、二次离子质谱（SIMS）和激光电离质谱（LIMS）四种可用于太阳能级晶体硅检测的原理和优缺点。     

香烟燃烧挥发颗粒物的二次离子质谱分析研究(英文)

在室内气氛中,吸烟释放出的颗粒物是倍受关心的污染源之一。本工作运用高性能静态二次离子质谱（TOF SIMS）实验研究了模拟吸烟释放的气溶胶颗粒物中的有机污染物。证实了其中含有氮杂环化合物和多环芳烃。从而初步表明,二次离子质谱在快速表征室内环境污染物方面具有潜在运用价值。     

快原子轰击质谱技术及其应用

一、前言质谱分析常遇到热不稳定、强极性又难挥发的样品。使用场解吸(FD)、场电离(FI)。激光感应解吸(LID)、二次离子质谱(SIMS)等技术可以从不同角度,在不同程度上解决这些样品的电离问题。 (1)场解吸:把样品置于钨导线上并放入离子源中,高压电场便激起电离     

溅射中性粒子质谱(SNMS)

溅射中性粒子质谱或称二次中性粒子质谱(SNMS)是一种新的表面分析技术。与二次离子质谱(SIMS)一样,其检测灵敏度高达ppm—ppb。由于中性粒子的溅射产额不受基体的影响,因而SNMS可简单并准确定量。直接轰击模式的SNMS作深度剖析可用能量很低的一次离子轰击源以避免级联混合效应,从而获得极高的深度分辨率。     

中国质谱学会无机、同位素和仪器与教育委员会联合学术交流年会（2009）通知

为推动我国无机质谱、同位素质谱、质谱仪器研发和质谱技术应用的发展以及为质谱工作者提供交流的机会,中国质谱学会无机质谱、同位素质谱和仪器与教育专业委员会在浙江省宁波市联合举办《中国质谱学会无机、同位素和仪器与教育委员会联合学术交流年会（2009）》。会议将邀请著名质谱学专家做大会学术报告,     

质谱仪器及其应用(一)

前言质谱方法是一种有效的分离、分析方法。质谱仪器和光谱仪、色谱仪、核磁共振波谱仪等仪器,都是能用一台仪器分析多种物质的谱仪,都是不可缺少的近代分析仪器。质谱技术发展至今已有半个世纪的历史。由于早期的质谱仪器多数是在实验室内用以测定原子质量,二次大战以来,又多用在铀、锂、重水等核物质的同位素分析以及制备同位素方面,因此在某些场合下,把质谱仪器看成是原子能仪器和设备。实际上,质谱仪器的用途远不止此,早在30年前,就有人利用质谱仪器进行碳氢化合物的成份分析。目前,质谱仪     

高纯硅中杂质元素的质谱与非质谱分析方法综述

高纯硅广泛应用于光伏产业与电子信息产业,其中杂质的种类与含量是影响其性能的重要指标。根据杂质的不同属性,对高纯硅中杂质的质谱及非质谱分析测定方法进行了分类与综述,分析了各种方法的优缺点及应用现状。金属杂质元素的测定方法主要有辉光放电质谱法(GDMS)、电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)、二次离子质谱法(SIMS)等质谱分析方法,以及原子光谱法、中子活化分析法等非质谱分析方法;非金属杂质元素的测定方法主要有二次离子质谱法、气体提取-专用测定法等非质谱分析方法。对于高纯硅纯度分析,质谱和非质谱分析方法分别在金属杂质元素和非金属杂质元素的测定方面显示出优势。     

简讯

一、为使我国质谱工作者更好地开展科研和生产工作,使用户所拥有的质谱仪器发挥最高的使用效率,我学会将承担各种型号质谱仪器的维修、仪器搬迁、调试,并协助用户验收进口仪器。二、我学会将组织生产研制各种质谱仪器的易损零备件,如离子源灯丝组件、离子源加热     

芯片质谱是工业的明天还是仅是开启新市场的一把钥匙

多年前，就已经有人预测微型质谱的出现（请参见Imtnanenta 19（10）4），此类仪器由于具有更轻、更快、更精确的化学传感器，因而有很大的市场需求。然而，尽管几乎各种类型质谱的微型仪器在实验室里都能见到，但仪器工业在开发能与传统质谱竞争的微型、价廉、功能齐全的微型质谱方面的速度是很慢的。随着近期世界上第一台芯片质谱的推出，大家都很关心它对整个仪器工业有什么影响：在哪些领域传统仪器能与其竞争，其他仪器的制造商如何应对这一挑战？     

二次离子质谱和离子探针

二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectroscopy简称SIMS)和离子探针(Ion Microprobe Mass Analysis简称IMA)。二次离子质谱和离子探针是用隋性气体的离子束轰击试样表面,它与试样原子碰撞经复杂的相互作用后,电离出具有标识性的二次离子,分析这些离子的质荷比来确定表面的成分。这种方法在实际上对试样是有破坏作用的。     

二次离子质谱仪中二次中性粒子空间分布研究

为提高二次离子质谱仪（secondary ion mass spectrometer, SIMS）的灵敏度,引入了飞秒激光电离一次离子轰击溅射产生的二次中性粒子。实验以纯银、纯铜为目标样品,利用自主研制的飞行时间质谱仪分析二次后电离的离子,研究二次中性粒子的后电离效率和空间分布。结果表明：飞秒激光电离技术可将仪器的灵敏度提高70倍以上;飞秒激光电离出的¹⁰⁷Ag⁺和¹⁰⁹Ag⁺的同位素丰度比值误差为0.8%;二次中性粒子的空间分布符合Maxwell-Boltzmann 模型。该结果可为在设计方法上提高SIMS仪器灵敏度提供依据。     

质谱仪器及其应用(八)

第十章电技术无论从工作原理方面把质谱仪器看成电磁式分析仪器(例如,常见的扇形磁场式静态质谱计)或电真空器件(例如,图4—14表示的静电质谱计等动态质谱仪器),或从仪器用途方面把质谱仪器当作非电量(气体压强、化学成份、同位素比值等)的电测仪器,都说明质