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光学测温技术中的物理原理 总被引:2,自引:0,他引:2
与其它测温技术相比,光学测温技术具有非接触、实时、无损等无可比拟的优点,在国防、军事、工业生产中具有极其重要的作用。本文介绍了四种常见的光学测温技术,即激光光谱测温技术、全息干涉测温技术、基于CCD的三基色测温技术和红外辐射测温技术,其中又以红外辐射测温技术应用最为广泛。文中简单地介绍了前三种技术,而对红外测温技术的原理、方法和具体应用则进行了详细的论述。 相似文献
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文中详细介绍了红外测温技术在汽车扭杆锻造中的应用,阐述了红外测温的原理及利
用红外测温方法进行温度信号的采集及处理方法,利用红外测温的原理测量钢坯温度具有无接触测量、测温响应速度快、测温一致性好等特点。 相似文献
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根据红外测温原理、薄膜等厚干涉模型及相关光学参数,在Al2O3、SiC、Si三种衬底上用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)技术制备10μm GaN外延层的过程中,对940nm单色测温、1550nm单色测温、940nm/1550nm比色测温的发射率引起表观温度误差、真实温度与表观温度偏差进行理论比较。利用Si(111)衬底上制备InGaN/GaN多量子阱(MQW)蓝光发光二极管(LED)外延片过程的940nm单色测温及940nm/1550nm比色测温结果,验证该建模及计算的正确性。研究结果表明:在500~1300℃,相同测温法在不同衬底间表观温度误差系数区别不大。相同衬底下,误差系数由小到大依次为:比色测温、940nm单色测温、1550nm单色测温。相同测温法在不同衬底间真实温度与表观温度偏差较大。相同衬底下,偏差结果由小到大依次为:比色测温、1550nm单色测温、940nm单色测温。该计算方法与结论可为红外测温设备的研发、不同衬底GaN基外延测温方法的选择提供借鉴与参考。 相似文献
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传统的红外热像仪测温算法具有测温精度低,测得的温度值不是目标物体的真实温度等缺点.从红外热像仪的测温原理入手,重点介绍了产生上述缺点的原因,并分析了黑体标定测温算法的不足之处.在此基础上提出了一种红外热像仪精确测温算法.通过在传统的黑体标定测温算法中引入差值查表标定、测温预处理和真实温度换算等环节,提高了热像仪的测温精... 相似文献
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光源对测温系统测温精度及测温范围的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
基于Kirchhoff定律,依照测温系统的激光光源的能量、波长、探测器的灵敏元面积和光学系统的相对孔径与温度分辨力、测温精度及测温范围之间的关系,对采用LiTaO3热释电探测器作光电转换器件的实用化实时测温系统的激光光源进行了优化选择。结果表明,在测温范围400-1200℃内,采用所选择的半导体激光器(LD)作为该实时测温系统的激光光源,其温度分辨力不低于0.4K,测温精度不低于0.3%。 相似文献