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绘制零件的轴测图时,零件上圆的投影一般为椭圆。一般机械制图教材中只介绍了几种处于特殊位置的圆在特定的投影条件下的轴测图画法,其他情况常采用坐标定点法画出。这样既麻烦,也不光滑。 其实画椭圆的关键是确定长、短轴(主轴)的长度和方向。轴测椭圆的一对共轭半径是比轴容易确定的,由一对共轭半径求出椭圆的主轴后,椭圆就容 相似文献
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摄影测量中圆形目标中心像点计算方法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
空间圆圆心的像点位置计算是摄影测量系统开发的关键问题之一.透视投影变换把空间圆映射为像平面上的椭圆,而圆中心的像点往往并不是投影椭圆的几何中心.通过分析透视投影过程中的像点误差,提出了一种计算圆中心像点的方法.首先利用空间矩算子对目标投影轮廓进行亚像素边缘定位,接着以光心为顶点、理想的投影轮廓为准线建立椭圆锥,然后在该椭圆锥内构造与之具有投影关系的两个空间圆,并计算它们的法向及中心像点,最后根据标记目标的匹配关系来确定空间圆的平行圆,进而得到其法向以及中心像点位置.实验结果表明,该方法实现了圆形目标中心像点的精确定位,有效提高了三维坐标的重构精度. 相似文献
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采用动力学对低噪制样粉碎机进行理论分析和实验研究,证明了低噪制样粉碎机振动体上任一点的运动轨迹的水平投影为圆,在竖直切平面的投影为椭圆。设计低噪制样粉碎机时,可把它简化为单自由度系统。 相似文献
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一、前言在车床、镗床、铣床等机床的加工中,若改变工件进给方向和刀具回转中心线间的夹角(由0°~90°),则同一刀具加工出的零件在垂直断面上将有不同的尺寸和形状,即刀具的运动轨迹在零件的被加工面上具有不同的投影,这种加工方法统称为“投影加工法”。根据投影加工原理,可以利用同一直径的刀具,在各种机床上,加工出比它直径大得多或小得多的圆弧面(如图1、图2所示),还能加工出不同尺寸的椭圆弧面。而在一般车床、镗床、铣床上车、镗内孔和外圆(夹角为0°)以及用碗形砂轮加工平面(夹角为90°),则可认为是投影加工法的两种特殊情况。下面就刀具运动轨迹在零件垂直断面上的投影为椭圆曲线的情况加以分析论述。 相似文献
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椭圆轴在机械行业中有着广泛的应用。机械加工椭圆轴,除了用坐标法、近似作图法划线加工外,我们还可以利用正圆的倾斜投影是一个椭圆的原理进行划线加工而得椭圆轴。这一方法比其它方法不但简单而且精确。特别是在一些没有加工椭圆轴的专用设备的场合,这一方法更具有实用价值。例如,要加工一根长轴为α、短轴为b,长为l的椭圆轴,只须按图在平面ABC'D'上,以O'为圆心,1/2为半径画一正圆O',沿 相似文献
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在基于圆阵靶标的视觉测量系统应用中,投影椭圆的几何中心并不是圆中心像点。为此,提出了一种基于射影变换的靶标圆中心像点计算方法。在完成退化椭圆边缘的亚像素坐标提取之后,该方法通过迭代的方式计算投影图像与生成的靶标规格相似图案之间的射影变换关系,可将退化椭圆边缘映射成较规则的圆。采用基于随机抽样一致(RANSAC)的圆拟合算法剔除异常点并计算圆心坐标,通过射影逆变换将其映射回原图像中,最终迭代收敛的圆心坐标点即为中心像点。仿真与实际实验均效果显著,从而验证了所提方法中心像点计算的有效性和准确性,并且可应用于众多视觉测量系统中,具有较强的实用性。 相似文献
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《新技术新工艺》2016,(12)
视觉测量中,在待测物体表面分布一些易于识别的标记,可以提高特征识别的准确性和精度,保证多幅图像间特征点对应匹配的可靠性。针对在投影角度或图像噪声较大时,环形编码标志点识别率低的问题,设计了一种环形编码标志点作为标记,并提出了一种编码标志点精确识别算法。该算法首先使用Otsu算法提取椭圆边缘环状领域,并对环状领域点进行椭圆拟合求解椭圆参数;然后根据圆度与椭圆参数约束排除图像中伪标志点;最后通过计算编码环段内椭圆的灰度梯度确定编码环带的编码值。所使用的圆心提取算法能达到亚像素级精度。试验结果表明,该编码标志点识别算法受投影角度、图像噪声等因素的影响小,可以实现编码标志点的精确定位与准确识别。 相似文献
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论述在实际工作中运用椭圆投影X射线照相法对小径管环焊缝的进行无损检测的方法,同时讲解椭圆投影X射线照相法原理。 相似文献
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Illés Dudás Sándor Bodzás Zoltán Mándy 《The International Journal of Advanced Manufacturing Technology》2013,69(5-8):1025-1031
During the classical manufacturing process of conical thread surfaces with lathe center displacement, the worm shaft is driven with the help of the driving pin through the lathe fork. As a result of the shifting of the worm shaft by half cone angle, the path curve of the driving pin will be an ellipse path instead of a circle on the perpendicular plane to axis. The peripheral speed of the spindle is constant, but due to the ellipse path, the radius is constantly changing as a function of time. That is why the angular velocity and the angular rotation are also changing, and these cause pitch fluctuation during the manufacturing process of conical worms. During the manufacturing process, we have examined pitch errors which are caused by angular velocity fluctuation and we have also determined the geometrical shaping of the driving pin by which errors of the pitch can be eliminated. 相似文献
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文章提出用圆弧插补结合线性变换实现空间椭圆插补的新方法。以圆弧插补算法为基础获得基本插补量,而后以三维空间线性变换将基本插补量变换成为空间椭圆的补量。该方法插补效率高,误差小。 相似文献
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通过采用SE9100视觉系统的库函数和AML/2语言编程,对图像(如圆(有孔圆和无孔圆)、椭圆、正多边形、齿轮等)特征及其参数进行识别。在机械制造业中,SE9100视觉系统的图像识别结果可用于引导机器人完成零件的检验、搬运、装配等任务。 相似文献
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椭圆曲线数控车削的编程分析 总被引:1,自引:1,他引:0
椭圆是非圆曲线,对于数控车削编程是个难点。介绍利用数学公式采用二次曲线逼近法,加工椭圆曲线以及用户宏程序法对椭圆曲线进行数控加工编程的应用方法。 相似文献
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针对目前椭圆形封头圆管插件展开CAD需要近似解析推导公式和参数化编程的情况 ,基于AutoCAD和UG工具软件进行二次开发 ,提出其圆管插件展开CAD的两种新方法 ,并给出应用实例。实例的结果也表明 ,在该设计计算中 ,封头立面主体部分采用圆形等效代替椭圆形的假设所引起的误差是允许的。 相似文献
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A practical, offline method for experimental detection and correction for projector lens distortion in the transmission electron microscope (TEM) operating in high-resolution (HR) and selected area electron diffraction (SAED) modes is described. Typical TEM works show that, in the simplest case, the distortion transforms on the recording device, which would be a circle into an ellipse. The first goal of the procedure described here is to determine the elongation and orientation of the ellipse. The second goal is to correct for the distortion using an ordinary graphic program. The same experimental data set may also be used to determine the actual microscope magnification and the rotation between SAED patterns and HR images. The procedure may be helpful in several quantitative applications of electron diffraction and HR imaging, for instance while performing accurate lattice parameter determination, or while determining possible metrical deviations (cell edges and angles) from a given symmetry. 相似文献