系统LSI中存储器的测试方法

系统LSI的存储器测试技术有直接存储器访问测试、高速直接存储器访问测试及内置自测试,几种方式各有优缺点,最好能加以组合应用。     

微区电阻测试方法及新测试仪研制

文章对国内外开展微区薄层电阻测试的方法进行了综述，特别对改进范德堡四探针技术方法的测试原理、测试过程与测试结果进行了论述与分析，对微区电阻测试方法的进一步发展提出了一种可操作的方法，并研制出新型四探针测试样机。     

低温测试仪

<正> 半导体器件及IC的高、低温测试,是器件生产中很重要的一环。尤其是LSI的高档产品更是不可缺少。此外,对于测试IC新品、失效分析、可靠性试验以及某些电子材料的性能等,都有广泛的用途。 国外生产的探针测试设备,除可进行常温测试外,一般都附带有高、低温测试附件。根据需要,可对器件进行-60℃～300℃左右的高、低温测试。而目前国产的各种型号探针测试台,均无此功能。因此给需要开展高、低温测试工作的用户带来不便。某些本应进行高、低温测试的器件,有的不得不放弃此项试验,有的只能采用精度及可靠性强度均较低的模拟法摸拟测试。例如采取对器件加高、低电压的方法,模拟量由经验而定。     

智能化分立器件测试仪

利用已设计成功的中规模集成电路测试仪的外国设备和设计经验,设计了分立半导体器件测试仪,其关键技术是高压可程控电源及大电流电容放电和采样,本文对此作了较详细的说明。对计算机与测试仪之间的接口也作了详细的阐述,并介绍了测试单元电路及相应的计算机软件流程图。     

实用性集成电路测试仪设计技术

本文介绍我所新近研制的一种微机控制的数字集成电路测试仪及其软硬件设计技术,重点叙述在计算机的应用。该仪器所采用的微机、监视器和打印机都是市购的廉价通用品。该仪器作为微机的外设,能在监视器的中文系统引导下测试24芯以下(包括24芯)的TTL和CMOS数字集成电路以及28芯存储器,并且能在不改动硬件设计条件下而扩展到40芯组件测试。商业性样机已经生产出来,并已提供用户试用。     

存储器的兼容性设计

借助存储器芯片引脚之间的相似性,采用跳线方式实现存储器系统的兼容性设计,使之可适应于多种不同的存储器芯片。     

混合电路在线测试仪

与传统的在线测试仪相比,混合电路在线测试仪不仅可测试各种元器件,而且可提高系统测试效率,简述了混合电路在线测试仪的工作原理和及使用。     

集成电路多值逻辑测试仪

Simi100数字集成电路多值逻辑测试仪是在总结国内外同类产品优点的基础上,本着实用、方便、准确的宗旨向国内外市场推出的新品,是完全智能化的产品。它采用独特的测试技术,融数字集成电路的功能测试和参数测试为一体,无需其它辅助设备即可对数字集成电路进行测试,且易于掌握,为使用者提供了一种极为有效的测试手段。另外可人工干预设置测试参数,并可对未列入手册的数字集成电路编程进行二次开发,从而充分解决了用户对数字集成电路只进行抽测或简单的功能测试已不能保证器件质量、满足使用需求这一实际问题。 Simi100的性价比远远高于其它国内外厂家生产的市场上常见的数字集成电路功能测试仪及一般编程器测试仪。除可测试数字集成电路的功能和各项直流参数外,还能对“OC”、“三态”、“模拟开关”等数字集成电路进行有效测试。目前Simi100测试品种达到几千种,并可根据用户要求进行扩充,经过Simi100测试的器件组装而成的整机,其抗干扰能力大大提高,并且温度适应范围宽,可克服一般常见的软故障(如开机后数小时死机等)。     

模拟集成块（IC）测试仪

大多数集成电路(IC)测试仪只能测试数字集成电路,不能测试模拟或线性集成电路,而少数线性IC测试仪价格昂贵,使普通电子技术人员陷入困境。本文介绍的模拟IC测试仪将提供可靠的方法来测试各种集成电路。尽管这种装置     

电路板专用在线维修测试仪

当今时代,自动化控制设备及电子仪器仪表在各个行业已得到广泛应用。这些设备中均有印制电路板。电路板出现故障,会造成设备不能正常运行。大多数情况下,电路板的故障往往由某一个或几个元件的功能失效所引起,只要找到故障元件并予以更换,故障即可排除。但在实际工作中,一方面由于大多数设备(尤其是进口设备)不提供电路原理图,或者是电路图过于复杂,使得维修工作难以在短期内排除故障。另一