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相似文献
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1.
LED结温测量方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
结温是LED器件热性能的重要指标之一,结温的高低对LED的光电性能,可靠性具有重要影响。研究结温的测量方法,是LED照明领域的重要课题。目前已报道了多种测量方法,主要有正向电压法和管脚测温法等接触测量法,峰值波长法、蓝白比法,红外摄像法,相对辐射强度法和有限元法等非接触式方法,本文对这些测量方法进行综述,给出了各种测量方法的原理和测试步骤,总结并分析了各种方法的利弊。  相似文献   

2.
通过对LED(发光二极管)工作原理分析,提出了将测量难度很高的温度变量转化为测量难度相对较低的电压变量,并且结合LED在实际应用中的情况,实现了LED结温的精确测量.  相似文献   

3.
《电源技术应用》2006,9(2):67-67
凌特推出同步降压-升压型DC/DC转换器LTC3454, 该器件可优化从单节锂离子电池输入以高达1A的电流驱动单个大电流白光LED。根据输入电压和LED最高正向电压的不同。该稳压器自动工作在同步降压、同步升压或降压-升压模式。这在大电流LED应用中尤其重要,因为根据电流值的不同,LED正向电压可能在2.7-4.9V的范围内变化。  相似文献   

4.
本文运用单片机和虚拟仪器技术设计了综合测量大功率发光二极管(LED)在不同驱动电流下的温升、光电流和LED两端电压的系统,本系统具有操作简单、实用、可靠等优点。分析测试所得数据,结果发现,LED的温升曲线、光电流曲线基本符合某一指数规律,通过数据曲线拟合,得出一种与采集得到的数据吻合度较好的数学函数模型,为快速预测LED在不同驱动电流下温升、使用寿命等提供了一种有效的数学模型。  相似文献   

5.
正为单段式方案扩增了高功率因数能力,将双段式方案的功率能力拓宽至最高150 W推动高能效创新的安森美半导体(ON Semiconductor,美国纳斯达克上市代号:ONNN)推出2个新系列的功率因数校正(PFC)离线AC-DC驱动器,用于高性能LED照明应用。NCL30085、NCL30086及NCL30088扩充了NCL3008x产品谱系,用于要求高功率因数的最高60 W功率的单段式设计应用。NCL30030则拓宽已有方案,支持要求低光学纹波及宽LED正向电压变化范围的更高功率(最高150 W)两段式拓扑结构。  相似文献   

6.
目前LED(Light Emitting Diode)的常用模型仅能模拟其电气特性,不能体现其光学特性,为此,本文提出采用曲线拟合的方法建立LED的光电模型,该模型可在模拟LED电气特性的同时模拟其光电特性。利用本文所建立的LED光电模型对五种常见的驱动电流进行了仿真对比分析,并进行了相关实验研究,仿真与实验结果对LED的驱动电流的选择具有指导意义  相似文献   

7.
晶闸管在恢复期遭受暂态正向电压冲击时损坏是换流阀可能出现的严重故障之一,因此有必要对换流阀恢复期暂态正向电压实验进行探讨与研究。这里在考虑晶闸管反向恢复特性的基础上,通过建立换流阀恢复期暂态正向电压模型和合成回路实验的方法,分析验证晶闸管动态参数对换流阀恢复期特性的影响,最终给出换流阀设计中对晶闸管动态参数一致性的控制要求。  相似文献   

8.
王文江  杨洁 《灯与照明》2011,25(4):49-51
随着高亮度、大功率LED灯的研发不断取得突破,LED灯的应用也日趋广泛。针对LED灯的工作电流在具体应用中的设计,该文对高亮度、小功率LED灯的发光强度、正向工作电流等参数进行了具体测试。根据实验数据,提出了一些应用时的建议,供同行应用时参考。  相似文献   

9.
基于方向行波的小电流接地系统故障选线   总被引:2,自引:1,他引:2  
从行波传输的角度出发,对小电流接地系统发生故障时的暂态过程进行分析,并通过分析得出以下结论:故障线路的反向电压行波和正向电压行波同时到达,而非故障线路的反向电压行波滞后正向电压行波一定时间后到达;并且故障线路和非故障线路正向电压行波的初始极性相反。利用这两个特征,提出基于正、反向行波能量之比和正向电压行波初始极性的故障选线新判据。通过暂态仿真软件ATP进行仿真,结果证实了上述原理的有效性,且不受故障初相角和过渡电阻的影响。  相似文献   

10.
刘思佳  代高强  周迅  孟令锋  黄勇 《电源技术》2021,45(10):1256-1259
基于电池模型的荷电状态(SOC)估算方法,模型参数的误差会直接影响估算结果.根据扰动观测器原理,建立了锂电池电压扰动观测器模型,与扩展卡尔曼滤波(EKF)算法相结合,设计了具有电池电压扰动补偿功能的锂电池SOC估算方法.由电压扰动观测器得到的补偿电压变量,可实时修正数学模型中的电池状态变量偏差对SOC估算的影响.仿真结果表明当电池数学模型存在滞后电压等动态响应误差时,该方法在充放电过程中SOC估算精度要优于常规EKF估算方法.  相似文献   

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