X射线荧光法快速测定蒙脱石(固态)中的铝含量

本文介绍采用X射线荧光法测定蒙脱石中铝含量的方法及相关条件,并对测量结果精度进行分析。本方法具有样品前期处理简单、干扰因素小,且快速、准确等特点。     

X射线荧光法精确测定金属镀层的镀布量

介绍了用Ｘ射线荧光法测定金属镀层镀布量的方法，测定快速、准确，样品不受破坏，能减轻劳动强度，减少环境污染。     

X射线荧光法测试镀银铜线镀层厚度

结合X射线荧光法厚度测定仪FISCHERSCOPE—RAY XUL，介绍了X射线荧光法测定镀层厚度的基本原理及仪器流程结构，并应用该方法对不同镀银铜线进行了镀层厚度测试，结果表明该方法测试重复性好，精密度高。同时本方法同经典的称重法的比较结果显示，该方法准度高，结果准确可靠。     

铝合金焊缝X射线底片智能评定技术

分析铝合金焊缝X射线底片的特点 ,阐述焊缝X射线自动化评片技术的发展 ,探讨焊缝X射线底片特征参数提取和模式识别技术 ,设计出铝合金焊缝X射线智能评片系统     

薄膜制样用于X射线荧光法直接测定润滑油类样品中的金属钠

介绍了一种简便的薄膜制样法 ,它适用于X射线荧光法直接测定润滑油中金属钠。该方法的最大优点是不用化学法预处理样品 ,而是用薄膜制样法将油样置于成型的滤纸片上直接取样测定。方法的试样用量少 ,可测范围宽 ,是一种快速、准确和实用的方法 ,已成功地用于Na含量 >0 .0 1%的样品测定     

X射线荧光光谱法测定铝硅锆质耐火材料中主次成分

以无水四硼酸锂和碳酸锂作熔剂,采用玻璃熔片法制样,建立了测定铝硅锆质耐火材料中Al2O3,SiO2,Fe2O3,TiO2,CaO,MgO,ZrO2,HfO2等组分的X射线荧光光谱法（XRF）。根据铝硅锆质耐火材料中主次成分含量范围,采用标准样品配制出被测组分具有合适含量范围和浓度梯度的校准样品绘制校准曲线。并对熔剂选择、基体效应校正进行了探讨。将X射线荧光光谱法用于铝硅锆质试样的分析与化学分析结果进行比对,两者吻合。     

对接焊铝合金板材残余应力的X射线测试

用X射线衍射法对对接焊LD10铝合金板材表面残余应力进行测试试验,对比半高宽法和抛物线法,得出残余应力分布情况,并对其进行分析.分析结果表明两种定峰方法所得应力测定值较接近,且抛物线法所得应力分布曲线在大多数情况下处于半高宽法所得曲线下方,即抛物线法所得拉应力值偏低,压应力值偏高.同时,半高宽法较抛物线法对衍射峰的重复性、稳定性、适应性要好,应力测定的准确度较高,且采用X射线衍射法测量残余应力分布数据可靠,是一种有效的应力测试方法.这些结论对LD10铝合金板材的焊接残余应力分布具有参考意义.     

X 射线荧光光谱法快速测定氯化钾产品中钾、钠、钙、镁的含量

采用压片方法制备氯化钾样品,用波长色散X射线荧光光谱仪测定氯化钾产品中的钾、钠、钙和镁的含量,检测时间为3分钟。方法测量精密度和准确度均达到国家标准规定,且操作过程简单、快速,能满足氯化钾产品质量检验快速测定的需要。     

ICP/AES法测定焦化馏分油中的硅含量

采用二甲苯对样品进行稀释,样品和二甲苯的稀释比为1∶10。用ICP/AES测定样品中的硅含量。本方法操作简便,结果准确,回收率为90 %～110 % ,相对标准偏差为RSD % (n =5 )小于5 %     

光度法快速测定钼铁中硅、磷、铜

本文采用分光光度法,建立钼铁中硅、磷、铜三种元素含量的测定方法,本方法简单、快速,精密度高,准确度较好。     

On the production of X-rays by low energy ion beams

Although electron beams with energies of a few keV can excite fluorescent X-ray production from solids, ion beams of comparable energy cannot do so. The reason for this situation is that it is the velocity of the incident particle, rather than its energy, which determines whether an ionization event can be generated.     

ICP-AES法测定金属锰中硅、磷、铁、铜和镍

本文提出了采用ICP-AES(电感耦合等离子体原子发射光谱法)同时测定金属锰中硅、磷、铁、铜、镍的方法。优化了试验条件和仪器参数,不同元素的检出限在0.0009%～0.0021%之间,方法的相对标准偏差RSD3%(n=11),硅、磷、铁的测定值与标准样品的标准值相符,铜、镍加标回收率在98%~102.5%范围内。使用系列标准样品进行硅、磷、铁元素成线性试验,呈良好线性关系。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍铁中硅、锰、磷、铬、铜和钴

采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法测定镍铁中硅、锰、磷、铬、铜和钴。通过对溶样酸比较和谱线考察研究,选择了合适的溶样酸及各元素最佳分析谱线,优化仪器工作条件,测定元素检出限、测定低限,进行精密度和准确度试验。方法准确、简便、快速,实现镍铁中硅、锰、磷、铬、铜和钴六个元素同时测定,分析结果令人满意。     

X荧光光谱法测定玩具饰品中的重金属含量

采用X荧光光谱法测定了塑料、金属、陶瓷等多类玩具饰品表面中的重金属Cr、Cd、Pb、Hg含量。仪器预热初始化后,对不同大小,不同形状,不同属性的样品无需做任何的预处理,直接无损测定其表面重金属的含量。单个样品测定时间为2～3分钟,可连续不间断测定,检测限低,可达2mg/kg,相对标准偏差低于4.6%。所用仪器为国产仪器,仪器成本及运行和维护成本低,应用于现场实时分析,便于推广。该法具有分析速度快、操作简单、对样品无任何损坏等特点,用于玩具饰品中重金属Cr、Cd、Pb、Hg含量的测定,简单,实用。     

气相色谱-质谱法测定X胶囊的成分(英文)

建立了采用气相色谱-质谱法(GC/MS)确定X胶囊中内容物组成的方法。X胶囊中的内容物研磨成细粉后用乙醚提取,挥干乙醚后,溶于四氢呋喃进样。测定结果表明:样品溶液获得的GC/MS谱图数据与甾体化合物甲基睾丸素(甲睾)非常相似。通过对照发现样品的GC/MS谱图与甲睾标准品的GC/MS谱图完全相同。由此可以鉴定X胶囊样品为甲睾。     

原子光谱分析食品中有毒元素的前处理方法

本文综述原子光谱分析中应用的各种前处理方法,包括干法灰化法、湿法消化法、微波消解法、直接固体进样法、悬浮液进样法、稀释法与水浴蒸干法等在食品中有毒元素分析中的应用情况。此外,还介绍超声波辅助提取、同位素稀释法、紫外光解法等新方法的进展。引用文献56篇。     

X射线荧光光谱分析硅铁成分样品制备对分析准确性的影响

以大量数据论述硅铁试样制备过程各环节对X射线荧光光谱分析准确性的影响规律,并制定硅铁试样的制备方法。