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分析了几种常规BiCMOS门电路的特性,对合并互补(MC)BiCMOS集成电路的二输入与非门和11级环形振荡器进行了实验研究,并与常规BiCMOS进行了比较。实验结果说明,MCBiCMOS具有电路结构简单,芯片面积小,工作速度高,负载能力强和低压工作特性好等优点。 相似文献
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CCD在光谱分析系统中的应用研究 总被引:4,自引:0,他引:4
本文对利用CCD作传感器件进行光谱分析的方法进行了理论和实验研究,通过分析CCD的结构特点和光电特性,从理论上证明了利用CCD进行光谱分析的可行性,设计了一套适合线阵CCD的高速图像采集卡,建立了一套智能化光谱数据采集分析系统。该系统主要由光栅,CCD传器器及数据采集卡,计算机等部分组成。我们用高压泵灯作为标准光谱进行定标,得到了一个非常简单的计算光谱的数学公式。实验表明该系统具有较高的测量精度, 相似文献
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介绍了彩色电视机电源的特点,要求,种类,阐述了绝缘型开关电源中RCC方式SW电源的设计原理和方法,给出了一个RCC电源的实验电路。 相似文献
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叙述运用CWCO2相干激光雷达测量运动目标速度的原理和实验装置,并给出了实验结果,测速精度为0.01m/s速度分辨率为0.05m/s,外场实验表明,对于漫射目标,作用距离200m。 相似文献
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在对我厂生产的三元共晶碳酸盐进行组份分析时,发现采用国标得到的结果与实际情况有较大误差。于是我们从理论上和实际操作上对国标进行了研究后发现,国标中对CaCO3的分析在理论上缺乏定量分析依据,对BaCO2的分析方法有可改进之处,最后通过实验验证,我们提出了一种新的三元碳酸盐组份分析方法,当电子粉中CaCO3含量较高或环境温度较低时,也能得到满意的实验结果。 相似文献
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具有优良性能的MCBiCMOS IC结构 总被引:1,自引:0,他引:1
本文分析了几种常规BiCMOS门电路的特性,对MCBiCMOS集成电路结构的二输入与非门和11级环形振荡器进行了实验研究,并与常规BiCMOS进行了比较。实验结果说明:MCBiCMOS具有电路结构简单;芯片面积小;工作速度高,负载能力强和低压工作性能好等优点。 相似文献
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为了利用激光熔覆直接成形技术得到异形变截面圆环链轮轮齿模拟件,采用光内送粉技术、利用库卡机器人进行运动控制。根据优化的工艺参量,采用高度额外增量法、长度额外增量法规划扫描路径,精准地控制每层提升量。实验前对基板进行预热,并对成形零件进行检测分析。解决了异形件堆积最容易出现的边缘塌陷问题。在保证变截面结构尺寸各处充分的基础上,较好地控制了加工余量。避免了熔覆层的开裂和剥落,在42CrMoV基板上成功堆积出异形轮齿模拟件。结果表明,光内送粉粉末利用率达60%以上;成形轮齿表面光滑无粘粉,各尺寸误差均在合理范围之内;轮齿与基板冶金结合良好,组织均匀致密,各处硬度均匀。 相似文献
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光纤光栅在金属锈蚀传感中的应用 总被引:6,自引:0,他引:6
介绍了一种基于光纤布拉格光栅(FBG)应变敏感特性的金属锈蚀传感器。该器件由光纤光栅、有预应力的钢弹簧和一些机械部件组合而成。组合后的弹簧处于压缩状态。在弹簧弹力的作用下,光纤光栅的峰值波长增长了3.2 nm。对该器件进行了加速腐蚀实验:将其放入盐酸环境中,逐日监测光纤光栅峰值波长的变化,发现峰值波长逐渐缩短,说明弹簧的弹性系数随着弹簧的锈蚀而逐渐减小。到弹簧锈蚀断裂,整个锈蚀过程持续了1315 h,平均锈蚀速率约5μm/d。实验表明了该传感器在实际应用中的可能性。同时讨论了光纤光栅的温度效应及其他影响其实用性的因素。 相似文献
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聚焦透镜是Boersch效应实验系统的一个关键部件,我们对聚焦透镜的结构进行了优化设计,根据优化的约束,选用了带有外点罚函数的Powell法,研究了其算法的构造,并编制了相应的优化软件,用此软件进行优化计算后,得到了满足Boersch效应实验要求的聚焦透镜。此结构用于实验中,观测到了明显的Boersch效应。证明此优化方法Boersch效应实验系统中的聚焦透镜设计非常有效。 相似文献
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自行研制紫外微加工系统,系统有效工作范围120 mm×120 mm,最小加工线宽80 μm,系统操作简单、运行稳定高效.实验中完成对Nd:YAG紫外激光器、XY扫描振镜以及F-Theta平场透镜设计.实现波长355 nm紫外激光最高平均功率2.13 W稳定输出,1 h内输出功率波动小于7%;XY振镜最大扫描角度 28°,线性响应速度0.35~0.5 ms;F-Theta视场角为±25°,有效焦距为250 mm.最后对系统存在的问题进行了分析. 相似文献
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从理论上讨论了光声信号的频谱与试样性质关系。利用YAG固体激光器产生的脉冲激光照射到花岗岩石表面,用加速度计拾取花岗岩石产生的脉冲光声信号,采用主成分分析法对不同条件下产生的光声信号的功率谱进行了分类。试样不同时,功率谱峰对应的频率不相同,且峰的个数也不相同。在主成分二维散点分布图上,二维散点的位置主要由试样的性质决定,这一结果可用于岩石的分类和鉴定。 相似文献