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相似文献
 共查询到16条相似文献,搜索用时 78 毫秒
1.
用脉冲激光沉积工艺在半导体(001)SrTiO3:ω(Nb)=1.0%单晶基片上,外延生长出Ba(Zr0.2Ti0.8)O3(简称BZT)介电薄膜.在650℃原位退火10min,薄膜为(001)外延生长的晶粒.薄膜的晶化特征与表面形貌用薄膜X-ray衍射仪和原子力显微镜测量完成.BZT薄膜(002)峰的半峰宽只有0.72°,说明薄膜晶化良好;薄膜的平均晶粒为90nm,表面均方根粗糙度为4.3nm,说明薄膜表面平整.在室温、100kHz和500kV/cm条件下,BZT的最大介电常数和调谐百分率分别达到317和65%.  相似文献   

2.
采用高温固相法制备出Ba(Zr0.06Ti0.94)O3-x%BiFeO3(x=0.2,0.4,0.6,0.8)系列复合陶瓷,并研究了其相结构、介电、铁电和压电性质.XRD结果表明,所有样品均呈现典型的钙钛矿四方相结构,而样品的晶格常数随着BiFeO3的含量改变发生了一定变化.介电-温度图谱表明,复合陶瓷的相变温度和介电常数都受到了BiFeO3成分影响,室温介电常数随着BiFeO3含量的增加不断增大,并且复合陶瓷中存在弥散相变.所有样品均显示出明显的铁电与压电特性,并且随着BiFeO3含量变化,两种特性呈现出相同的变化趋势.  相似文献   

3.
采用固相反应法制备了Ba1-xBix(Ti0.9Zr0.1)O3(x=0.01,0.02,0.03,0.04)陶瓷,X射线衍射分析表明所有样品均是四方晶体结构,3%mol的Bi3+能够完全溶入钙钛矿晶格中.不同频率下Ba1-xBix(Ti0.9Zr0.1)O3陶瓷的介电温谱显示所有样品均表现出弥散相变的特征,在x≥0....  相似文献   

4.
采用固相反应法制备了添加1wt%CuO-BaO混合物的Ba(Ti0.91Zr0.09)O3铁电陶瓷,借助XRD、SEM、Agilent4284测试仪,讨论了加入CuO-BaO混合物对Ba(Ti0.91Zr0.09)O3铁电陶瓷的烧结温度、相结构、显微组织及介电性能的影响.结果表明:添加1wt%CuO-BaO混合物,能有效降低Ba(Ti0.91Zr0.09)O3的烧结温度,室温介电常数高,介电损耗小.在1MHZ下εTl=3 150,tgδ=0.06,并且伴有介电弛豫现象.  相似文献   

5.
6.
纳米α—Fe2O3的介电特性研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
对纳米α-Fe2O3的介电常数和介电损耗进行了测量,发现它具有与常规电介质不同的反常介电特性;对实验结果进行理论分析和拟合,提出了物理解释,认为这一反常主要源于纳米α-Fe2O3界面中的缺陷和悬键.  相似文献   

7.
CaCu3Ti4O12(CCTO)陶瓷具有高介电常数,研究掺杂离子对其结构和性质的影响有助于理解并优化其介电性能。本文利用X射线衍射仪(XRD)研究了CaCu3Ti3.95Zr0.05O12(CCTZ)陶瓷的结构,并利用宽温宽频介电分析仪研究了其在不同温度下介电常数、弛豫、阻抗和电模量等性质。XRD结果表明,5%的Zr能够完全并入到CCTO晶格中;阻抗谱和电模量的分析表明,低温和高温范围内的介电弛豫分别与晶粒和晶界的电学性质密切相关。Zr掺杂造成晶粒激活能增大,而晶界激活能几乎不变。  相似文献   

8.
在BaO-ZnO-Ta2O5体系中通过掺La3+合成了钽酸盐Ba5LaZnTa9O30采用粉晶X射线衍射(XRD)对其结构进行了分析,并测试了其陶瓷体的介电特性.结果表明,Ba5LaZnTa9O30在室温下属于填满型四方钨青铜结构顺电相,晶胞参数为a=1.259 09(4)nm,c=0.396 22(2)nm,α=β=y=90°;频率为1 MHz时Ba5LaZnTa9O30陶瓷的室温相对介电常数为89;而且介电损耗仅为0.006 7.  相似文献   

9.
采用冷压陶瓷技术制备了(Ba0.75Sr0.25)TiO3、Ba(Ti0.8Zr0.2)O3、(Ba0.75Sr0.25)(Ti0.8Zr0.2)O3陶瓷.XRD结果表明,Sr和Zr在BaTiO3的Ba位、Ti位、及Ba/Ti双位并入均具有高固溶性,且为没有超结构特征的单相钙钛矿结构.Sr/Zr的双位并入加快介电峰向低温的移动.Sr掺杂对Ba(Ti0.8Zr0.2)O3介电峰移动率的贡献为-1.5℃/mol%Sr.抛光技术对介电温谱的影响研究表明,尽管水抛光导致(Ba0.75Sr0.25)(Ti0.8Zr0.2)O3陶瓷颜色变暗,但晶体结构不变、介电峰值降低.  相似文献   

10.
采用高温固相反应合成了A5B4O15型五层类钙钛矿结构新铌酸盐Ba3Nd2Ti2Nb2O15. Ba3Nd2Ti2Nb2O15晶体为三方晶系,空间群P3-ml(164),晶胞参数a=5.653 2(1) (A),c=11.611 7 (2) (A),V=321.377 (6)(A)3, Z=1.Ba3Nd2Ti2Nb2O15陶瓷在微波频段具有较高的室温介电常数40.1, 具有较高的Qf值19606GHz,接近于零的谐振频率温度系数 12×10-6K-1,因此,Ba3Nd2Ti2Nb2O15极有可能成为一种新型的介质微波陶瓷材料.  相似文献   

11.
采用脉冲激光沉积法,在SrTiO3基片上,外延生长超导薄膜YBCO、半导体薄膜PBCO和铁电体薄膜BaTiO3。利用X-射线衍射分析方法,研究了过程参量、基板温度、气体压力和激光通量等因素对膜的晶体结构和电子性能的影响。  相似文献   

12.
应用Sol-Gel工艺制备了组份为(1-y)Ba 0.6Sr0.4TiO3-yMgO的薄膜材料,研究了Mg掺杂BST薄膜晶相结构、介电性能以及绝缘性能的影响规律.实验发现随着Mg掺杂量的增加,BST薄膜的介电常数、损耗因子以及电容变化率减小,其电阻率则增加;当Mg掺杂量分数为5%时,其介电常数为380,损耗因子为0.013,电容变化率为17.5%,电阻率为1.0×1012Ω@crm.  相似文献   

13.
用锶、钡的有机酸盐和钛酸丁酯为原料,以溶胶-凝胶法制备了钛酸锶钡溶胶。考察了有机酸分子量、溶胶的水解方法对溶胶亲润性、湿敏性、二氧化碳敏感性、成膜均匀性、热解性等的影响。实验得出先将钛酸丁酯的乙酸乙酯溶液部分水解,然后与锶、钡的正辛酸盐、2-乙基己酸盐或壬酸盐的乙酸乙酯溶液充分混合,所得的溶胶具有较好的综合性能。  相似文献   

14.
(ZrO2)x(SiO2)1-x (Zr-Si-O) films with different compositions were deposited on p-Si(100) substrates by using pulsed laser deposition technique. X-ray photoelectron spectra (XPS) showed that these films remained amorphous after annealing at 800℃ with RTA process in N2 for 60 s. The XPS spectra indi- cated that Zr-Si-O films with x=0.5 suffered no obvious phase separation after annealing at 800℃, and no interface layer was formed between Zr-Si-O film and Si substrate. While Zr-Si-O films with x >0.5 suffered ...  相似文献   

15.
采用固相反应法制备陶瓷样品,研究掺杂CuO对(Zr0.8Sn0.2)TiO4的微观结构和介电性能的影响。结果表明:掺杂降低了(Zr0.8Sn0.2)TiO4陶瓷的烧结温度,样品能够在1300℃下烧结成瓷,陶瓷密度和介电常数随着CuO的增加而增加,介电损耗随着掺杂量的增加而减少。XRD结果显示:样品的主晶相均为(Zr0.8Sn0.2)TiO4相,ZnO和CuO的质量分数均为1%,烧结温度1350℃时,介电常数为40.5,损耗为0.0004(1MHz),介电性能最佳。  相似文献   

16.
采用传统固相法制备(Ba 0.8Sr 0.2) 1-1.5x BixTiO3 (x= 0.02,0.05,0.15,缩写为BSBT)陶瓷.在空气条件下1 473 K 保温2 h退火制得,并对陶瓷样品的结构、微观形貌和介电性能进行了测试.其中,在介电研究中不仅出现了弥散的相变,并且在高温区域观察到了弥散型的介电异常.根据居里-外斯定律的拟合结果,在样品x=0.05的BSBT陶瓷样品中出现相对较强的一个弥散相变.此外,通过阻抗分析,不仅表征了BSBT陶瓷的晶界电阻,还由此算出陶瓷样品的活化能和电导活化能.极化原理表明BSBT陶瓷的高温弛豫与氧空位引起离子的跳跃有关.而对于样品的高温介电异常,此处认为是一种介电弛豫行为,主要由弛豫强度变化所致.  相似文献   

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