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对H2-MTS体系化学气相沉积制备SiC涂层进行了实验研究。结果表明,热力学计算能够对H2-MTS体系单相SiC的沉积进行很好的预报。动力学实验显示:在800 ̄1000℃之间,沉积过程由化学动力学控制,此时MTS热解为一级反应,反应活化能为199kJ/mol,而在1000 ̄1150℃之间沉积过程由扩散控制。XRD结果显示制备的是β-SiC,形态为球形,涂层的生长可以用三维形核生长模型来描述。 相似文献
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钢基体中碳与铁对化学气相沉积TiN动力学的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了在碳含量不同搂钢基体上化学气相沉积TiN的沉积速率,研究结果表明,随着钢中碳含量的提高,沉积速率呈线性增长,涂层硬度也随碳含量的增加而提高。基于铁的触媒作用,推导出TiN的沉积速率方程为V=h1+K10×x(C);对于碳含量较高的Cr12MoV钢和碳含量较低的20钢基体,测得TiN沉积表面过程表观活化能分别为165.11kJ/mol和120.38kJ/mol。钢中合金元素对TiN沉积速率的影 相似文献
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化学气相沉积技术与材料制备 总被引:18,自引:0,他引:18
概述化学气相沉积技术是一般原理与技术,总结化学气相沉积技术在材料制备方面的发展与应用状况,着重介绍化学气相沉积技术在制备贵金属薄膜和涂层领域的最新进展。 相似文献
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用低压化学气相沉积法形成钼膜 总被引:1,自引:0,他引:1
一种用氢还原五氯化钼膜的低化学气相沉积仪被开发。这种仪器可以使每组25片晶片薄膜厚度的均匀性在±5%以内,并且钼膜不被氧化。研究者发现,与常压下相比,在低压时,可在一个较高的温度下,钼的沉积速率受表面反应的制约,并与表面反应部分氢气分压的3/2成正比。 相似文献
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高频等离子体化学气相沉积法制氮化硅的化学平衡计算 总被引:2,自引:0,他引:2
基于Gibbs自由能最小原理,开发了热力学通用程序,分析了以Ar为载气,SiCl4和NH3为原料,在高频等离子体化学气相沉积反应器中制备Si3N4超细粉的化学热力学过程,得到了在典型条件下系统的主要组成,分析了温度,反应物浓度对平衡组成的影响。通过热力学模拟,发现当SiCl4进料口在前,NH3进料口在后,且两个进料口均在高频等离子体尾焰处时,经脱NH4Cl的产物中氮含量较高,而反应物NH3与SiC 相似文献
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应用绝对反应速度理论和统计力学到化学气相沉积(CVD)钽上,建立了反应速度模型。实验表明,测定值与计算值间吻合较好。证实了用绝对反应速度理论建立的速度模型的正确性,而且证实了化学气相沉积钽的速度控制环节为表面化学反应。 相似文献
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采用化学气相沉积法(chemical vapor deposition,简称CVD)不仅可以制备金属粉未,也可以制备氧化物、碳化物、氮化物等化合物粉体材料.该法是以挥发性的金属卤化物、氢化物或有机金属化合物等物质的蒸气为原料,通过化学气相反应合成所需粉末,因其制备的粉末纯度高,比表而积大,结晶度高,粒径分御均匀、可控,在粉体材料制备方面的应用日趋广泛.该文主要介绍CVD技术制粉的形成机理和研究进程.CVD法制粉主要包括化学反应、晶核形成、粒子生长以及粒子凝并与聚结4个步骤.按照加热方式不同,CVD技术分为电阻CVD、等离子CVD、激光CVD和火焰CVD等,用这4种技术制备超细粉末各有其优缺点,选择合适的气源,开发更为安全、环保的生产工艺,以及加强尾气处理是使CVD法制备超细粉体材料付诸于工业应用的重要保证. 相似文献
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本文详细分析了TiCl_4-H_2-N_2系化学气相沉积TiN的化学过程及其热力学。计算结果表明:TiN的形成历程是TiCl_4进入体系的初期首先是气相还原反应,当TiCl_4量达到一定程度时还原产物输运到基体表面主要进行的是固气界面沉积TiN的反应。 相似文献
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对化学气相沉积(CVD)法制备SiC的热力学进行了系统研究,考察了H2-MTS,Ar-SiO-C,H2-SiO-CxHy,H2-SiH4-CxHy等体系,着重研空了温度、压力、载气量和图对CVD法制备SiC的实验具有指导作用。 相似文献
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金属有机化合物化学气相沉积法制备铱薄膜的研究 总被引:2,自引:1,他引:2
以乙酰丙酮铱为前驱体,采用金属有机化合物化学气相沉积(MOCVD)技术在钼基体上制备了铱薄膜.研究了铱的沉积速率与基体温度、乙酰丙酮铱的加热温度和运载气体(Ar)流速等沉积参数的关系.铱薄膜的沉积速率与沉积温度之间的关系不符合Arrhenius方程:沉积速率与绝对温度的倒数呈抛物线关系,当温度为750℃时,铱的沉积速率达到最大值,基体温度对薄膜质量有显著影响;随着以乙酰阿酮铱加热温度的升高,铱的沉积速率直线增加;而Ar流速的增大则显著减小铱的沉积速率. 相似文献
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采用ZrCl4-CO2-H2-Ar体系,在不同温度或氢气流量条件下采用常压化学气相沉积法(APCVD)通过不同沉积流程在C/C样品表面制备ZrO2涂层。用X射线衍射分析仪(XRD)和扫描电镜(SEM)分析涂层的物相组成和形貌特征。结果表明:随沉积温度升高,ZrO2涂层表面形貌由小颗粒堆积态向大尺寸多晶转变;氢气流量为0时,只在局部区域出现了少量ZrO2,当氢气流量为400mL/min时,ZrO2涂层晶粒尺寸较大且晶体学平面特征最明显;在氢气流量为800mL/min时沉积出现了副产物ZrC与C;在氢气流量为1600mL/min时,出现沉积副产物ZrC;连续沉积时,得到的ZrO2涂层为山峰状形貌。 相似文献