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在薄膜晶体管液晶显示器线路检测中,常通过对线路中的导电薄膜粒子的计数和定位实现其导电性的自动检测。为了解决窄边框线路中粒子密度增大带来的粒子重叠问题,提出一种采用微分干涉成像和掩模法结合k均值聚类的算法,在分离出粒子的亮、暗部后,结合图像熵值和粒子的凸性准确分割出粒子。讨论了聚类簇选值的影响,通过不同粒子密度、不同粒子尺寸的样本检验本文算法,并与以往的梯度结合灰度的方法进行对比。结果表明:本文算法在粒子密度较小的区域能达到92.6%的识别率,在粒子密度较大的区域也能达到86%的识别率,分别比梯度加灰度的方法提高了9.9%和42.7%。解决了粒子重叠的问题,并且对光场和成像效果有更好的鲁棒性。 相似文献
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研究了一种有效刻蚀聚酰亚胺(PI)的干法刻蚀方法,以金属铬为掩膜,刻蚀经涂胶并亚胺化而得到具有一定厚度的PI薄膜。利用反应离子刻蚀设备(RIE)将O2和CHF3按一定比例混合,适当调节刻蚀压力、气体比例、功率、时间等因素,可以得到侧壁和底面光洁、具有不同表面形貌的刻蚀结构。借助台阶仪和显微测量工具测定刻蚀样片,进一步得到不同工艺参数下刻蚀深宽比,并通过分析得出其他因素对PI刻蚀深宽比的影响趋势。该项研究避免了"微掩膜"效应所产生的表面粗糙问题,同时优化了刻蚀工艺,得到各向异性刻蚀的具体工艺参数,为PI不同应用目的选择刻蚀工艺提供了理论依据。 相似文献
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文章阐述了一种新型的基底结构,通过使用各向异性导电胶来连接两层基底,从而实现封装叠加。这种基底结构来源于一种传统的折叠基底结构,不同的是,它采用各向异性导电胶代替折叠基底结构中的弯曲区域来实现两层基底的电路和物理连接。折叠基底结构中的弯曲区域是一个弱点,其本身存在很高的断裂几率,需要大量冗余线路支撑来提高物理强度。新的基底结构不但降低了断裂几率,消除了冗余线路,而且拓广了适用性并降低成本。 相似文献
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随着微电子封装技术的发展,各向异性导电胶作为一种绿色的连接材料,广泛应用于电子产品中。文中主要介绍各向异性导电胶互连器件的粘接原理和影响其可靠性的各种因素,如粘接工艺参数、外界环境的干扰、各向异性导电胶的物理特性等。 相似文献
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各向异性导电胶粘接可靠性研究进展 总被引:12,自引:0,他引:12
介绍各向异性导电胶导电机理和粘接工艺,以及影响它的粘接可靠性因素和最佳参数的研究,如粘接温度、固化时间、粘接压力、粒子含量等。对各向异性导电胶粘接可靠性中的开路、短路、接触电阻与粘接压力和温度循环的关系进行了讨论,并介绍了各向异性导电胶可靠性的理论计算模型。 相似文献
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The effects of bonding force and temperature fluctuations on the failure behaviors of anisotropic conductive film (ACF) interconnections
were analyzed. Thermal shock testing was conducted to realize the temperature fluctuation environment. Two primary modes of
failure were detected after thermal shock testing: formation of a non-conductive gap between conductive particles and the
Au bump or Ni/Au-plated Cu pads, and delamination of the adhesive matrix from the plated Cu pads on flexible substrates. The
failure mode was affected mainly by the variation in the bonding force. The main failure mode of the thermally shocked ACF
joints was the non-conductive gap for the joints with low bonding forces and adhesive matrix delamination for the joints with
high bonding forces. The difference in failure modes is critically discussed. 相似文献