暗室处理对射线底片质量的影响

通过对暗室处理过程中各个环节的控制，降低射线底片缺陷率提高射线底片质量。     

提高自动洗片机底片处理稳定性的研究

针对自动洗片机处理X射线胶片时出现的底片质量不稳定现象,分析了导致底片质量不稳定的原因,得出显影温度对底片黑度影响较大.通过试验得出显影温度与底片黑度的关系曲线,对提高采用自动洗片机处理的X射线胶片质量有一定的指导意义.     

通过过程控制确保暗室的底片质量

通过过程控制确保暗室的底片质量，如何更好地发挥检验单位的职能，用科学的数据为确保石化设备的安全平稳运行、将隐患消除在安全运行周期中提供强有利的保证，成为我们目前亟待解决的问题。     

避免X射线探伤底片白头的措施

在锅炉、压力容器、压力管道的制造及在役压力容器的定期检验工作中 ,X射线探伤拍片是常用的一种重要检验手段。由于操作上的一些原因 ,往往造成一些底片白头 ,它使底片黑度达不到要求 ,以致有效评定长度缩短 ,焊缝的实际探伤比例下降 ,它是 X射线探伤的大忌。小管径 ( ≤ 76 mm)对接焊缝的 X射线拍片主要问题有 :椭圆成像的开口度达不到要求 ,底片黑度偏低 ,底片上没有字码的影像 ,像质计偏离焊缝中心。解决这些问题的方法如下 :a)正确计算射线源沿管子轴线方向的移动距离S。b)计算透照厚度 TA ,然后根据射线机的曝光曲线 ,确定其透照时…     

暗室处理引起的底片质量问题及其预防

对由于暗室处理不当而引起的底片质量问题进行了归纳和总结,分析了常见底片伪缺陷的种类、产生原因、识别方法,提出了一些预防措施和解决方法,并将这些方法应用于工程实践中,取得了良好的效果。     

手工操作暗室处理用胶片冲洗器

由于经济条件的限制，许多制造厂家的暗室处理仍以手工操作为主，很容易造成底片中出现伪缺陷。作者根据多年工作经验研制出一种内置式胶片冲洗器，包括循环泵机构和过滤机构，使溶液喷射至底片，解决了人为因素造成的伪缺陷的问题。在实际生产中，它不仅提高了底片质量，还降低了操作人员劳动强度，提高了工作效率。     

黑度对射线照像底片质量的影响

射线探伤是以射线照像底片来评定探伤结果的。因此，底片质量直接影响检测结果。影响义片质量的因素较多，本文仅就黑度对底片质量的影响进行研究，并对最佳黑度范围等问题进行探讨。     

底片黑度对射线照相灵敏度的影响

射线探伤是以射线照相底片来评定探伤结果的，底片质量是射线探伤的核心要素。影响底片质量的因素有多种，就其中一个因素底片黑度展开探讨，揭示底片黑度对射线照相灵敏度的影响。     

射线检测手工洗片技巧——黑度简易识别方法

暗室处理在射线探伤中有举足轻重的作用。特别对手工洗片者来说 ,要有很强的责任心 ,裁片、装片、洗片和安全灯下观片都非常重要。一个微小环节的疏忽都可能造成底片判废 ,如划痕、静电感光及指纹等伪缺陷。暗室处理基本操作程序是要判别胶片在显影过程中焊道和母材黑度变化。ＪＢ 473 0— 1 994标准规定 ,Ｘ射线ＡＢ级黑度范围为 1 .2～ 3 .5 ,焊道处评定是评片的关键。有余高的焊道最佳黑度为 1 .5～2 0 ,无余高焊道最佳黑度为 2 .5。要把每张底片的焊道黑度控制在最佳黑度范围内 ,除了熟练操作技能外 ,还有一种有效的方法 ,即将一张白纸…     

负间隙精密冲裁最佳负间隙的合理取值

基于相似理论基础建立了刚塑性有限元仿真几何模型,采用金属塑性有限元分析软件DEFORM-2D对AISI-1045钢进行了不同负间隙冲裁的模拟与分析,获得了不同负间隙值与塌角、剪切带、冲裁力的关系曲线.并依据模拟的结果对3.8 mm厚的45钢进行了不同负间隙值的冲裁实验,获得了剪口质量好且无毛刺的冲裁件,总结出负间隙值c取-0.1～-0.15 mm时可以实现无毛刺精密冲裁.     

Dispersion and negative refraction in photonic crystals without negative index

It is reported that certain photonic crystals posses negative refraction without relying on negative index. The findings show that both the intrinsic permittivity ?(f) and μ(f) must be strongly dispersive and having negative values over a limited frequency range. To meet that requirement, the band structure of the photonic crystal is performed. The photonic crystal consists of dielectric cylinders with metallic cores of ?(f) and μ(f) and a varying radius. The outer cylinders coated with a dielectric of radius 0.45a. The expanded plane wave method is developed and used to determine the band structure.