NI推出全新测试管理软件NI TestStand 2010 用于自动化验证和生产测试

美国国家仪器公司（National Instruments,简称NI）近日推出最新版NI TestStand 2010。NI TestStand是一款广泛用于自动化验证和生产测试的测试管理软件,能够帮助测试工程师创建强大的软件架构,加速测试序列的开发,并降低各测试站测试执行软件的维护成本。     

NI TestStand 4.1利用多核技术支持加速并行测试性能

美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)近日发布了最新版本的测试管理软件NI TestStand4.1,该软件现在可以帮助工程师们利用多核处理器的支持开发更高速的测试系统。     

美国国家仪器公司（NI）推出全新基于LabVIEW的GPS接收器测试工具包

美国国家仪器有限公司（National Instruments．简称NI）近日发布了NI LabVIEW GPS工具包．这是一款图形化系统设计环境下的扩展工具包,使NIRF PXI平台可用于多卫星GPS信号仿真。通过NI LabVIEW软件创建波形来仿真多达12颗卫星（L1波段的C／A编码）．工程师可以使用NI PXIe-5672射频矢量信号发生器测试GPS接收机特性,如灵敏度、首次定位时间（TTFF）以及定位精度等。     

NI推出全新的NI PXI半导体套件

美国国家仪器有限公司（National Instruments．简称NI）发布10款最新PXI产品,有效扩展PXI进行混和信号半导体测试的功能。全新以软件定义的产品套件专为NI LabVIEW图形化开发系统而设计,包含四个高速数字I／O（HSDIO）仪器、两个数字开关、两个增强射频仪器、一个高精度源测量单元（SMU）和专用数字数字矢量文件导入软件。     

NI推出免费LabVIEW7.1在线评估版软件

美国国家仪器公司(National Instruments．NI)日前在线开放行业标准的图形化软件的使用权限现在，工程师和科学家们无须下载或者安装任何软件就能直接试用N1Lab VIEW7．1图形化开发环境的在线评估版本。最新NI Lab VIEW在线评估版是一种在线使用的免费工具，配台专为新用户设计的教程以及练习。     

NI全面打造汽车测试平台

前不久，美国国家仪器(NI)在北京向专业媒体的记者演示了他们在汽车测试领域的解决方案——建立在LabVIEW基础上的汽车测试平台。公司中欧地区技术及市场主管Rahman Jamal先生和大中国区总经理陈大庞先生介绍了在NI平台上开发的诸多用户解决方案。陈总告诉记者，虽然NI不是一个汽车测试领域的专业厂商，但是其通用的平台可以让开发汽车测试系统的厂商和汽车制造商得到莫大的益处。     

NI推出高性价比的USB接口便携式测试系统CompactDAQ

美国国家仪器有限公司（NI）推出基于USB的模块化数据采集系统NI Compact DAQ。该系统提供了一个8槽机箱，其I／O模块在单个系统下可测量256个通道的电气、物理、机械和声波信号，非常适合在工作台、工程现场和生产线上进行传感器和电气测量。通过将即插即用的USB接口与灵活的高性能模块化仪器相结合，体积小巧、使用简便且价位合理的NI CompactDAQ可以实现快速、精确的测量任务。     

NI推出针对自动化视觉检测应用的嵌入式视觉系统

美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）近日发布了全新的嵌入式机器视觉系统,可帮助制造行业工程师和系统集成商在进行产品分类、装配验证以及包装检查等应用时,快速建立高速实时机器视觉系统。NIEVS-1464RT嵌入式机器视觉系统配备一个高性能的多核控制器,能够处理多个IEEE1394和GigE相机中的图像。     

NI深化射频测试应用竞争力

越来越多的消费电子产品里面集成了无线通讯功能,无线通信标准越来越多,多标准共存以及标准的快速演进都成为目前无线测试中非常重要的全新需求,为无线测试提出了新的挑战。美国国家仪器公司依赖其通用的图形化系统设计软件架构及PXI模块化平台,提供给工程师涵盖射频技术研发和测试,无线通信标准测试及射频微波信号分析等完整的解决方案,依靠模块化平台的灵活性,帮助客户     

NI携手FIRST 共同推出第二届FTC科技挑战赛

2012年3月4日,美国国家仪器公司（Nationfl Instruments,简称NI）携手FIRST共同在同济大学嘉定校区举办第二届FIRST科技挑战赛（FTC）2012年上海赛区决赛和中国赛区总决赛。今年,FTC的参赛范围已从去年的国际学校延伸到国内的高中,这次比赛共有来自9个省市的40家高中代表队参与角逐。获得最高荣誉”科技启迪奖”的成都七中银杏之光队,获得中国区比赛冠军的上海格致中学一路同行队和获得中国地区大使奖的北京西城科技馆代表队将作为中国区代表参加和观摩在美国举行的FIC世界锦标赛。此次比赛还专门设立了“上海LabVIEW逻辑奖”,颁发给最具有逻辑思维和最佳程序架构能力的团队,最终此奖项由杭州国际学校获得。     

NI推出新型CompactRIO可编程自动化控制器

美国国家仪器有限公司近日推出高性价比的NI CompactRIO可编程自动化控制器（PAC）,为工程师和科学家在高级控制和监控应用领域提供了理想的解决方案。新型cRIO-9073系统支持新近推出的LabVIEW8．6实时模块中具备的扫描模式编程功能,集成了266MHz工业级实时处理器和可重配置的200万门FPGA,具有针对NIC系列I／O模块的8槽底座。工程师可以根据具体应用从60多个NI和第三方C系列I／O模块中进行选择,以连接一系列模拟、数字、     

NI发布2009年测试与测量发展趋势

如今全球经济现状对于预算成本有着严格的限制,测试工程师现今面临的挑战将是如何寻找更高效的测试方法。美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）,作为全球测试测量行业的领导者,指出2009年将极大改进测试测量系统效率的三大趋势一软件定义的仪器系统,并行处理技术以及无线和半导体测试新方法。它们将帮助工程师在减少测试总成本的条件下,开发更陕、更灵活的自动化测试系统;全球各公司以及所有的工业部门都将认识到通过使用这些方法和技术而获得的巨大优势。     

NI推出可有效简化高级控制应用的新型Compact RIO系统

美国国家仪器有限公司（简称NI）推出高性价比的NICompactRIO可编程自动化控制器（PAC），为工程师和科学家在高级控制和监控应用领域提供了理想的解决方案。NICRIO-9073系统具备集成的硬件构架，在一个机箱上集成了嵌入式实时处理器和用户可编程的FPGA芯片。利用LabVIEW8．6图形化系统设计平台和NIPAC（如cRIO-9073）中的FPGA进行编程时，工程师可以快速地进行用户自定义的模拟和数字控制、数据采集以及高速信号处理，实现以较低的成本满足高级控制应用的需求。     

NI发布用于Mobile WiMAX的测量套件

2009年12月14日,美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）发布了用于Mobile WiMAX（IEEE802．16e-2005）的NI测量套件,该套件同模块化射频仪器一起,可以实现对Mobile WiMAX设备的自动化测试。     

NI图形化开发环境扩展自动化测量和实时应用

美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)宣布推出NI图形化开发环境的最新升级版本——LabeVIEW 7．1。Lal)VIEW 7．1版包括用于NI模块化仪器和NI-DAQmx的全新ExpressVI(快速VI)、LabVIEW 7．1 Real-Time(实时)模块的高级调试和底层的执行定时功能．有了这些垒新的Express VI和新增的功能，     

NI发布2011年自动化测试技术展望

美国国家仪器有限公司（National InstrumentS,简称NI）近日发布了“2011年自动化测试技术展望”．就影响测试测量的技术与方法发表了研究结果。该报告所阐述的发展趋势覆盖了消费电子、汽车、半导体、航空航天、医疗设备和通信等众多产业,帮助工程师和企业管理人员利用最新策略和最佳实践案例,优化测试组织架构。     

NI推出针对LEGO MINDSTORMS机器人对象的新版本LabVIEW

美国国家仪器公司（NI）近日在专业旗舰产品LabVIEW图形化系统设计软件的基础上,推出LabVIEW for LEGO MINDSTORMS教学软件。这是一款专为高中生设计,配合乐高教育机器人,用于课堂或竞赛的教学工具。学生不仅可以可视化地对MINDSTORMS NXT机器人进行控制和编程,     

NI:通过开放式软件和可重配置硬件全新定义测试仪器

正2014年5月27日,由美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)主办的第十一届PXI技术和应用论坛(PXI Technology Application Conference,即2014 PXI TAC)在上海拉开帷幕。为了更好地服务中国不同区域客户,本届PXI TAC有了新的变化——从每年只选择一个地方举办论坛改为多地举办。除了上海,2014 PXI TAC还将陆续登陆深圳、西安和北京等地。本次活动吸引了8家知名PXI供应商和系统集成商参加,预计有800名     

NI将于4月主办第二届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司（National Instruments）宣布主办第二届“设计、验证及测试论坛”（Design Validation Test Forum,即DVTF 2005）。延承2004年第一届DVTF的成功之势，本届论坛将于2005年4月15日在上海国际会议中心举行，NI诚邀行业内外相关领域的多家优秀企业，如英特尔（Intel）、科梁科技（AEETEK）等共同参与，为广大测试测量行业的工程技术人员提供一个绝佳的学习与交流平台。