基于测试码的测试：多测试位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键问题

1介绍 多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足,使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展,寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,以实现更高的并行测试效率。     

图形测试:多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键

多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足致使并行测试效率(PTE:ParallelTestEfficiency)降低。测试系统架构不断地发展寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,产生更高的并行测试效率。     

图形测试:多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键(第二部件)

多工位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量生产测试的基石.随着测试工位数的增加,模拟和混合信号测试系统设计者需要努力克服历来限制并行测试效率(PTE:Parallel Test Efficiency)的架构上的不足。在第一部分中,我们介绍了并行测试效率PTE及其随工位数增加对测试成本的影响,突出了一些效率高的多工位测试系统的重要特性。第二部分我们将介绍pattern-based测试和有关的SmartPin硬件和软件。     

Aqilent混合信号测试解决方案——ADC的测试

1前言 模拟/数字信号转换器(ADC)和数字/模拟转换器(DAC)是两种基本的电子应用模块,用于实现模拟和数字信号之间的转换.作为独立器件或者集成到各种混合信号芯片中,广泛的应用于各种电子产品.因此,在对这些混合信号芯片进行测试的时候就要对其中集成的ADC/DAC的性能设计相应的测试方案.     

以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

对日益复杂的消费产品不断增长的需求引发了应用于消费类电子,汽车,工业和通讯领域的混合信号集成电路的需求急剧上升.时至今日,半导体制造商们把高速的数字逻辑电路和先进的模拟电路集成在一起制造出功能越来越强大的混合信号IC.器件的复杂度在不断上升,但是其售价不可能随之飙升,半导体公司都发现他们面临着这样一个难题,即如何在降低测试成本的同时保证复杂的IC产品的质量.半导体公司发现他们需要改进测试构架,更先进的测试仪器,增强的测试开发环境以取得更高的测试产量并保证在测试上的投资有高的回报.为了应付这些挑战,项尖的测试系统结合了高性能的架构和先进的测试仪器以取得高端测试仪的产量而所花的成本只是传统ATE系统的一小部分.在ATE上开发应用程序时,新一代的混合信号测试仪不仅能降低测试成本而且可以灵活地适应将来不同应用场合下的需要,这将有力的保护你在测试设备,硬件资源,数代混合器件上的工程投资.本文将要讨论混合信号器件测试的主要趋势,及其对测试成本的影响,和一些新的测试结构,这些新的结构在满足当前测试需求的同时还将有能力灵活得适应未来正在形成的测试需求.     

Agilent混合信号测试解决方案-ADC的测试

1前言 模拟/数字信号转换器(ADC)和数字/模拟转换器(DAC)是两种基本的电子应用模块,用于实现模拟和数字信号之间的转换.作为独立器件或者集成到各种混合信号芯片中,广泛的应用于各种电子产品.因此,在对这些混合信号芯片进行测试的时候就要对其中集成的ADC/DAC的性能设计相应的测试方案.     

以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

对日益复杂的消费产品不断增长的需求，引发了应用于消费类电子、汽车、工业和通讯领城的混合信号集成电路的需求急剧上升。时至今日，半导体制造商们把高速的数字逻辑电路和先进的模拟电路集成在一起制造出功能越来越强大的混合信号IC。器件的复杂度在不断上升，但是其售价不可能随之飙升，半导体公司都发现他们面临看这样一个难题，即如何在降低测试成本的同时保证复杂的IC产品的质量。半导体公司发现他们需要改进测试构架、更先进的测试仪器、增强的测试开发环境以取得更高的测试产量并保证在测试上的投资有高的回报。为了应付这些挑战，顶光的测试系统结合了高性能的架构和先进的测试仪器以取得高端测试仪的产量，而所花的成本只是传统ATE系统的一小部分。在ATE上开发应用程序时，新一代的混合信号测试仅不仅能降低测试成本而且可以灵活地适应将来不同应用场合下的需要，这将有力地保护你在测试设备、硬件资源、数字混合器件上的工程投资。本文将要讨论混合信号器件测试的主要趋势，及其对测试成本的影响，和一些新的测试结构，这些新的结构在满足当前测试需求的同时还将有能力灵活地适应未来正在形成的测试需求。     

测试和测量

面向数字和混合信号器件测试的93000超小型测试头（CTH）；功率分析仪增加了以太网、USB功能；[编者按]     

混合IC测试系统有效降低测试成本

Credence推出的Sapphire D-10是为满足，消费电子产品市场的低成本测试需求而设计的混合信号IC测试系统。Sapphire D-10是一个高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，该方案是为微控制器、无线基带、显示驱动器和消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而特别设计的。它具有集成度高、体积小、模块化、较高的并行测试能力等特点。     

IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究

本文采用复杂可编程逻辑器件（CPLD）和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块（ABM）开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。     

浅析模拟与混合信号电路测试与故障检测方法

模拟和混合信号电路本身具有相当高的复杂性及专业性,使得模拟和混合信号电路测试与故障检测无法在传统数字电路测试方法下得到满足。文章通过介绍模拟和混合信号电路测试与故障检测的研究现状,分析了模拟与混合信号电路的测试与故障检测方法,并在传统测试技术的基础上研究了新的诊断方法,具有参考价值。     

测试与测量

用于器件开发的7Gb／S的HDMI TMDS信号发生器平台，串行数据链路分析（SDLA）软件，具备20MHz信号处理能力的矢量信号发生器，MIMO射频测试解决方案，用于混合信号测试的虚拟示波器     

用于测试混合信号测试的任意波形发生器

AWG5000系列任意波形发生器基于与AWG7000系列相同的平台。客户可以使用一台AWG5000，生成高分辨率信号，在测试混合信号设备中模拟电路和数字基带电路和中间频率（IF）电路，提高测试效率，降低测试成本。     

Zetex半导体选择科利登的ASL3000测试其类型广泛的模拟和混合信号器件

半导体业界从设计到生产测试解决方案世界领先的供应商美国加州MILPITAS——科利登系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。Zetex半导体总监兼团队主管Ted Wiggans说：“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。     

利用IEEE1149.1和1149.4进行模拟测试

所面临的挑战是发展一种从响应不可预测的混合信号器件的模拟部分获取数据的方法     

用下一代基于数字信号处理的仪器应对新兴多频带模拟测试挑战

满足性能需求的仪器。新的多频带模拟仪器的引入,使工程师能够应对从音频到视频,成本敏感的消费类混合信号器件的模拟测试挑战。通过提供更多的供电能力,这些新仪器进一步加强了自动化测试设备的能力,从而降低了市场领先应用的测试成本。     

应对目前模拟混合信号器件的复杂测试挑战

介绍 随着计算机、通讯和消费类市场便携式应用的不断增长,对复杂模拟混合信号(AMS)器件的需求全也大幅增加.AMS器件为高量产产品,如手提电脑、音频/视频设备、DSL调制解调器和机顶盒,提供信号转换,电源管理和其它物理接口功能.由于需要提供这些功能,新型的AMS器件为半导体制造商带来了大量新的测试挑战.     

RF测试解决方案

单一模块的RF解决方案能够准确、低成本的测试多端口的RF SoC器件。公司的T2000测试平台装配了频率高达12GHz的宽带信号发生／分析装置。设备的32位RF信号输入／输出端口能够并行测试多端口的RF器件。此外,该设备还能够并行测试四个器件或16端口宽带器件。通过高速误差矢量量测（EVM）测试算法,     

基于IEEE1149.4标准的验证电路设计

介绍了基于IEEE1149.4混合信号测试总线标准的验证电路设计,利用复杂可编程逻辑器件(CPLD)、模拟开关ADG202A和电压比较器LM3¨等器件,实现了该标准所定义的测试结构.它的设计与可观性实验及可控性实验验证了标准的有效性,对于今后推广标准在混合信号芯片中的应用将起到积极的作用.     

A540测试系统内部基准的检定及校准

一A540简介A540测试系统为AVLSI数模混合信号测试系统，具有先进的图形基础及很高的稳定性，测试精度及定时精度，具备同时产生及处理数字信号和模拟信号的能力。为了对AVLSI数模混合信号进行测试和充分体现AVLSI的测试特点，A540具有现代模拟和数字技术水平的测试配备和复杂的高速处理和控制能力，物个数字通道，每通道26／50MHZ时钟和数字速率，16个模拟通道，低频可达256kHZ，高源可达10MHZ。此外，具有DSP一基准AC电源。复盖DC－10MHZ的信号数字化系统。H、A540测试系统量值传递设想为了确保A54O混合信号测试系统测试的…