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研究爆炸性环境下微间隙放电过程及特性对本质安全电路的研究具有指导性意义,但目前爆炸性环境下的微间隙放电特性尚不明晰,且大多从宏观角度进行研究,缺少微观层面的理论分析,该文根据程控微间隙放电实验装置的电极结构,基于流体动力学理论模拟研究了甲烷/空气混合气体在低电压微间隙放电动态过程。通过改变极距、甲烷/空气混合气体体积分数的变化来分析对电子密度、各种正离子数密度、电场强度和平均电子能量的影响,从微观层面分析了微间隙放电机理,并通过试验验证了仿真结果的真实性和可靠性。经研究发现:阴极板附近的正离子鞘层区使得阴极板场强发射发生畸变,畸变为原来的3~5倍,电场强度大于场致发射所需临界电场强度,放电过程中存在场致发射;甲烷体积分数在3.5%~13.5%范围变化时,体积分数每增加5%,CH4+数密度约增加2×1015 m-3;当针板距离小于10μm时,电场畸变较大,满足场致发射条件,汤森放电和场致发射共同存在,平均电子能量上升两次;大于或等于10μm时,电场强度畸变程度变弱,低于场致发射电场强度临界值,放电机制... 相似文献
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为了研究220V低压线路接触不良放电的一般规律,系统的开展了低压线路接触不良放电的模拟试验。在大量试验的基础上,总结了低压线路接触不良放电的一般规律:相线和中性线接触不良放电时相线电压波形存在相同的放电多发区域,该区域的放电次数均达到最大放电次数的70%,相位区间分别为0°~20°、40°~80°、100°~140°、160°~200°、220°~260°、280°~320°、340°~360°。该相位分布规律不随接触类型、间隙大小、负荷类型和负荷大小的改变而出现偏移或缺失;在电流增大到一定值,接触不良放电的平均放电量随不良接触面积和间隙的增大而线性增大且值均大于25pC;最后由ANSYS仿真结果分析了低压接触不良放电影响因素的放电机理。 相似文献
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<正> 这里介绍的是日本大同工大、名古屋工大、富士电机公司、中部电力公司等共同就GIS接点接触不良引起放电造成绝缘下降的实验、分析结果。 实验方式 在接点部位设置微间隙,作为GIS接点接触不良的模拟,用以研究微间隙产生的电弧放电、即微放电对接点部位与箱壁之间的绝缘击穿特性的影响。 相似文献
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在测量电容式电压互感器(CVT)的过程中发现介损仪的测量线“Cx”接触不良会对测量结果造成偏大的影响,通过对CVT测量原理图的具体分析,得出由于测量线接触不良而产生一附加电阻Rf,由于Rf的影响使测量结果偏大,运行十几年的变电站设备不同程度的存在老化锈蚀现象,在进行电容型设备介质损耗试验时,接线是否接触良好,特别是测量线“Cx”接触是否良好将直接影响到测量结果。 相似文献
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在测量电容式电压互感器(CVT)的过程中发现介损仪的测量线“Cx”接触不良会对测量结果造成偏大的影响,通过对CVT测量原理图的具体分析,得出由于测量线接触不良而产生一附加电阻Rf,由于Rf的影响使测量结果偏大,运行十几年的变电站设备不同程度的存在老化锈蚀现象,在进行电容型设备介质损耗试验时,接线是否接触良好,特别是测量线“Cx”接触是否良好将直接影响到测量结果。 相似文献
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目前,利用“IEC本安电路火花试验装置”,对时间常数较大的电容性电路试验,在多数情况下都采用拔钨丝数来实现。经过近十多年的实际驼行表明,这种简单的替代可能降低了试验电容性电路的灵敏度。本通过对阻容性电路的充放电时间及IEC火化试验装置打火间隔的理论分析和计算,找出了灵敏度低的原因,并探讨了在不影响IEC火花试验装置性能指标的前提下,试验电容性电路的新途径。 相似文献
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导线与导线、导线与电器、导线与配电装置等的接点随处可见,如果对这些接点处理不当或检修不及时,会带来很多的危害,甚至引起火灾。 相似文献