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针对周期信号之间的小相位差难以检测的问题,提出了一种基于ARM Cortex高性能微控制器,采用相位差放大处理技术的相位差检测方法,先使用放大器和比较器对初始信号进行处理,产生3个方波信号,然后利用ARM Cortex处理器I/O口的中断功能来检测相位差。根据本方法进行了系统的软件、硬件设计和实际信号测试,测试结果表明:信号在1 kHz时不确定度能达到2%。 相似文献
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基于压电器件的等效电路模型,利用导纳圆理论图测量压电器件阻抗特性参数及过零检测相位差测量原理,构建了一套完整的压电器件性能参数阻抗测试系统。通过单片机控制信号产生幅值固定、频率可变的正弦信号,经功率放大后驱动压电器件产生超声高频振动,并采集压电器件两端的电压、电流及相位差信号,通过串口传给上位机。上位机采用基于Labview人机交互界面,实现压电器件阻抗特性参数计算和图形显示。实验结果表明,本测试系统能测量压电器件各主要相关参数,并动态显示阻抗特性曲线,可用于压电器件的参数测试与性能评估。 相似文献
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基于压电器件的等效电路模型,利用导纳圆理论图测量压电器件阻抗特性参数及过零检测相位差测量原理,构建了一套完整的压电器件性能参数阻抗测试系统。通过单片机控制信号产生幅值固定、频率可变的正弦信号,经功率放大后驱动压电器件产生超声高频振动,并采集压电器件两端的电压、电流及相位差信号,通过串口传给上位机。上位机采用基于Labview人机交互界面,实现压电器件阻抗特性参数计算和图形显示。实验结果表明,本测试系统能测量压电器件各主要相关参数,并动态显示阻抗特性曲线,可用于压电器件的参数测试与性能评估。 相似文献
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雷达系统性能测量在雷达装备研制过程中具有重要作用,基于LabWindows/CVI开发了便携式雷达测试系统。文中给出了总体设计框架,依据测试需求完成了软件框架的设计,并给出软件的运行流程。具体介绍了参数测量功能模块中信号带宽测量的实现情况。应用情况表明,该测试系统操作方便,人机界面友好,分析性能稳定。 相似文献
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《集成电路应用》2014,(4)
正德州仪器(TI)宣布推出12款器件最新产品系列,进一步壮大TI逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)产品阵营,其可提供业界最宽的模拟电源及共模电压范围。该单通道ADS8881系列包含高性能超低功耗18及16位SAR ADC,提供100kSPS至1MSPS范围的速度选项。ADC应用从高性能测量测试设备、高精度计量以及工业自动化的高精度传感器发送器等到电池供电测量测试与便携式医疗设备。ADS8881系列的主要优势:最宽泛的输入共模:大多数最新ADC都提供比其它器件宽20倍的输入共模范围,不仅可简化信号调节,而且还可帮助系统设计人员更便捷地将两个独立 相似文献
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《信息通信》2017,(4)
随着无线通信技术的发展及其在民用、军事、国防等领域的广泛应用,天线系统对功率有了更高的要求。在阵列天线系统中,天线单元通过功率合成提高发射功率,相位差是功率合成技术的关键,是科学研究不可缺少的部分。因此,如何获得可靠的相位差是值得研究的课题。基于AD8302芯片的相位差检测方法是常用的相位检测法,其检测频率范围大,检测精度高,硬件电路实现简单,但该芯片在测量某些相位差时,由于特性曲线的问题测量误差较大,在实际应用中造成了很大的困难。所以文章针对该问题设计了一套基于神经网络的处理方法,有效地补偿了AD8302自身的缺陷,使得相位差测量精度在为0.1°,误差约为±0.5°。 相似文献
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介绍了一种在火控系统应用中用来确认填弹部位的位置具有定位功能的电路。该电路具体为利用轴角位置测量元件即旋转变压器,控制400Hz频率的正弦波信号,经调制处理使其相位角与一定的直流电压值相对应,从而产生出两路相位差为90°的正弦信号。采用模拟电路进行了模块化设计,并对其原理进行了详细的叙述。实际产品经与整机系统联试,满足现场使用要求。该电路具有转换精度高,电路简洁实用,使用温度范围宽的特点,可广泛应用于多个相关领域。 相似文献
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频率特性测试仪的设计 总被引:1,自引:0,他引:1
以89C51单片机和FPGA构成的最小系统为核心,实现了一定频带范围内对一个未知四端网络的幅频特性和相频特性的测量。该系统由扫频信号发生器,幅度测量模块,相位测量模块,示波器显示模块等构成。用数字频率合成技术设计扫频信号发生器。用户通过按键测量特定频率的频率特性。扫频测量时,可以选择扫频输出信号的下限和上限以及步进值。示波器显示出幅频和相频的曲线,界面友好。 相似文献
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An optical system for easy introduction of phase-difference bias to optimise the sensitivity of the optical fibre laser gyro is proposed. The preliminary test set-up has been constructed and tested. A detectable limit of rotation of 8.7×10?4 rad/s has been achieved. 相似文献
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多通道OLED器件寿命分析测试系统研制 总被引:3,自引:2,他引:1
研发了一种多通道、多功能的OLED寿命分析测试系统。该系统可以在恒定驱动电流、恒定驱动电压、恒定发光强度3种不同驱动模式下同时对512路OLED器件进行寿命测试,并可实现对测试环境温度和湿度的控制,控制器件老化的环境。测试系统具有高精度和宽测试范围,操作电流范围为0.02~100mA,操作电压范围为0~24V。系统采用模块化设计,可以根据用户需求灵活地搭建512,256,128,64,32路测试系统。基于LabVIEW开发环境编写的系统软件具有非常友好的操作界面和断电自保护功能,保证了测试的连续性。 相似文献
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互连器件接触电阻检测,一直是系统连接后判别每个接点接触是否可靠良好,必须解决的实际问题。随着高密度、小型化的互连器件在电子电气设备上的广泛应用,如何解决互连器件接触电阻的在线自动检测,己成为确保互连器件质量和可靠性的关键。文中在详细阐述接触电阻检测原理的基础上,介绍了新研制的TDO-MCR-07A多接点接触电阻检测仪特点、检测方法和主要技术参数,以及连接电脑和工装组成自动检测系统后,成功用于保险丝盒接触电阻自动检测的实例。 相似文献
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DDS技术在高频石英晶体测试系统中的应用 总被引:1,自引:1,他引:0
在此介绍了一种以DDS芯片AD9912作为信号源的高频石英晶体测试系统。AD9912是一款直接数字频率合成芯片。一方面,AD9912内部时钟速度可高达1GSPS,并集成了14位数/模转换器,可以直接输出400MHz信号;另一方面,AD9912的频率控制字为48位,可以小于4μHz的分辨率输出信号。由于采用了DDS芯片AD9912作为信号源,所设计的石英晶体测试系统能够在20kHz~400MHz范围内测试石英晶体的串联谐振频率。与国内目前普遍使用的基于振荡器和阻抗计测试方法的测试仪相比,该测试系统具有测试频率范围宽、重复精度高等优点。 相似文献
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为了提高相位式测距仪的测量精度,采用移相相关方法来估计两同频正弦信号的相位差。首先将每路信号移相2π后和原信号做相关来计算自相关,以减少噪声的影响;其次用少许数据初步估算相位差,并将一路信号移相,使两路信号的相位差移到π/2(或3π/2)附近;然后用较多的采样数据计算两路信号的相位差,将结果再减去移相量得到最终的相位差。同时分析了频率误差对相位差计算精度的影响,进行了理论分析和仿真实验验证。结果表明,该方法计算的误差大大减小。这对提高测距仪的测量精度是有帮助的。 相似文献
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Efthymiou A. Bainbridge J. Edwards D. 《Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on》2005,13(12):1384-1393
Asynchronous design offers a solution to the interconnect problems faced by system-on-chip (SoC) designers, but their adoption has been held back by a lack of methodology and support for post-fabrication testing. This paper first addresses the problem of testing C-elements, an important building block of asynchronous circuits. A simple method for generating test patterns is described which is shown to be applicable for a wide range of implementations. Based on the C-element testability, a partial scan technique was developed that achieves a test coverage of over 99.5% when applied to an asynchronous, network-on-chip, interconnect fabric. Test patterns are automatically generated by a custom program, given the interconnect topology. Area savings of at least 60% are noted, in comparison to standard, asynchronous, full-scan level-sensitive scan devices (LSSD) methods. 相似文献
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