共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
《计算机辅助设计与图形学学报》2017,(8)
针对芯片测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间的问题,提出一种广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案.首先构建有向图,将完全测试集映射到有向图中;其次查找有向图中最长路径,将完全测试集分割成若干个广义折叠集;最后存储广义折叠集的种子和广义折叠距离.另外,提出了广义折叠集的解压结构.理论上可以将整个测试集的存储转化成若干个广义折叠种子和广义折叠距离的存储.对部分ISCAS89标准电路中规模较大的时序电路进行实验的结果表明,在同样实验环境下,该方案在压缩效果方面优于Golomb码、FDR码、EFDR码和折叠集等成熟的压缩方法. 相似文献
2.
一种共游程码的测试数据压缩方案 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种新的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法:共游程码(SRLCS)编码,它在使用较短的代码字来代替较长的游程的传统游程编码基础上,进一步充分利用了相邻游程之间的相关性,使用一位来代替与前一游程相同的整个后一游程,这样整个后一游程可以用一位来表示,达到从多位到一位的转换,进一步压缩了测试数据.由于测试数据中存在大量的无关位,对无关位适当的赋值,可以增加连续游程长度相同的概率,提出了一种针对共游程码的无关位填充算法.理论分析和实验结果证明该方案具有高数据压缩率、硬件实现简单等特点. 相似文献
3.
SoC测试面临的挑战之一是测试数据量过大,而测试数据压缩是应对这一挑战行之有效的方法。因此,提出了一种新的双游程交替的测试数据压缩方法,该方法对测试集中0游程和1游程交替编码,并且后一游程类型可以根据前一游程类型转变得到。这样在代码字中不需要表示游程类型,减少了游程所需代码字的长度。实验结果表明,该方法能够取得比同类方法更高的压缩率,而且解压结构简单,因此能够达到降低测试成本的目标。 相似文献
4.
5.
提出了一种无理数字典码的测试数据压缩方案,能有效地压缩芯片测试数据。方案利用无理数序列建立字典,编码时只需进行相容性检查,无需填充无关位,简化了操作步骤;同时,选择局部压缩率最大的一组数据作为最终编码结果,保证压缩效果可以达到局部最优。对ISCAS 89标准电路Mintest集的实验结果显示,该方案的压缩效果优于传统压缩方法,如Golomb码、FDR码、混合定变长码等。 相似文献
6.
7.
以减少系统芯片SOC测试时间和测试数据量为目标,引入量子进化算法完成层次型SOC在功耗约束条件下的建模和算法设计并得到相应的测试集,通过共享广播技术整合多个芯核的测试集,采用交替游程编码的方法压缩测试集,该方法同时考虑测试数据中的“0”和“1”游程,可以大大减少长度较短的游程数量,针对国际标准片上系统芯片验证表明,与其他算法相比,量子进化算法有效满足了功耗要求同时获得了较短的测试时间,与其他压缩编码方法相比,提出的方法获得了更有效的压缩效果。 相似文献
8.
9.
10.
提出一种类似于字典索引的编码压缩方法,将与参考数据块相容的测试数据块用"1"标记来压缩测试数据,解压体系结构只需要一个有限状态机和一个与数据块等长的循环扫描移位寄存器.与在Golomb码和FDR码中所需要的与测试向量等长的循环扫描移位寄存器相比,该方法的硬件开销较小.实验结果表明,该方法可以有效地压缩测试数据,且效果优于Golomb码和FDR码. 相似文献
11.
范海波 《数字社区&智能家居》2012,(5X):3494-3496
该文提出了一种基于折叠关系压缩方案,该方案是利用折叠技术,将SOC芯片中芯核的测试数据整体进行折叠关系的判断,并且能够根据是否存在折叠关系把原测试数据分为两段,在此基础之上并分别对有折叠关系的测试数据进行折叠压缩,对没有折叠关系的测试数据使用相容压缩。目前,减少测试应用时间和测试数据容量是测试领域的努力方向。该文提出的这种方法可以有效的减少存储容量和降低测试时间从而有效的降低了测试成本。与类似的纯编码压缩方法相比,如:Golomb码,统计码,基于字典的编码等压缩方法,其压缩效果更为显著。 相似文献
12.
提出了一种新的基于连续及非连续长度块编码的测试数据压缩方法,该方案从提高码字利用率的目的出发,利用定长的二进制码字表示连续长度块的长度信息,同时,将连续位长度不足的序列按一定的策略划为非连续块,并且不对其进行编码,故有效地避免了用长码字替换短游程序列的情况。该方案的编码规则减少了使用前、后缀形式编码的复杂性,所以其编码及解码过程简单,同时具有简单的通讯协议。对ISCAS-89标准电路Mintest集的压缩结果表明,提出的方案较FDR码和Golomb码都具有更好的压缩效率。 相似文献
13.
用扫描链重构来提高EFDR编码的测试压缩率和降低测试功耗 总被引:1,自引:1,他引:0
为了解决系统芯片测试中日益增长的测试数据和测试功耗的问题,提出一种不影响芯片正常逻辑功能的扫描链重构算法--Run-Reduced-Reconfiguration(3R).该算法针对扩展频率导向游程(EFDR)编码来重排序扫描链和调整扫描单元极性,重新组织测试数据,减少了游程的数量.从而大人提高了EFDR编码的测试压缩率并降低测试功耗;分析了扫描链调整对布线长度带来的影响后,给出了权衡压缩率和布线长度的解决方案.在ISCAS89基准电路上的实验结果表明,使用3R算法后,测试压缩率提高了52%,测试移位功耗降低了53%. 相似文献
14.
应用扩展前缀编码的测试数据压缩方案 总被引:1,自引:1,他引:0
提出一种扩展前缀编码的测试数据压缩方案,采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由前缀和尾部组成,用扩展的前缀表明编码的游程类型;不引入额外的标记位,并能有效地压缩芯片测试数据量.理论分析和实验结果表明:扩展前缀编码能取得比FDR编码更高的压缩率,能够更好地适应于多样的编码对象.解压时使用一种特殊的计数器简化控制电路,解码电路硬件开销小且较易实现. 相似文献
15.
随着超大规模集成电路制造技术的快速发展,单个芯片上已能够集成的晶体管数目越来越多.由于各种知识产权芯核集成到一个芯片上,这样给集成电路测试带来了巨大的挑战,测试数据压缩技术能够有效降低对昂贵的ATE性能要求.提出一种对称编码方法,能有效地提高测试数据压缩率,降低测试成本.传统的编码技术采用对0游程或1游程进行编码,但由... 相似文献
16.
17.
18.
19.
使用重复播种和Golomb编码的二维测试数据压缩 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种用于SOC测试的二维测试数据压缩方案.先利用线性反馈移位寄存器重复播种技术,对带有无关位的测试向量进行压缩,并获得种子差分序列;然后用Golomb编码的方法对其作进一步的压缩;同时给出了Golomb码参数。的确定方法和相应的二维解压结构、实验结果表明,该方案在保证较高故障覆盖率的前提下,既能显著地减少测试序列长度、缩短测试时间,又能有效降低对测试数据带宽的要求. 相似文献