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相似文献
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1.
用平行平晶检定外径千分尺(以下简称干分尺)时,将千分尺的网测量面与平行乎晶相接触,并调整好手行平晶使其接触点在同一侧。记录两测量面上出现的干涉条纹数,然后以两测量面干涉条纹数之和乘以(波长),即争行度一干涉条纹数之和Xtr。要注意的是,千分尺平行度的确定,要用一组平行平晶(共四块)分别去检定,以其中所产生的干涉条纹数最多的为准。在具体操作时,要注意平行平晶的工作面是否与两测量面充分接触。在观察干涉条纹时,要将于分尺翻转l扭y,才能观察到另一测量面的干涉条纹。为此,笔者在检定时,在工作台上放一块平面镜…  相似文献   

2.
用平行平晶检定外径千分尺两测量面不平行度时,在靠近固定测砧处放置一平面反射镜。(可用光学计上的进光反射镜,因该反射镜带有支架,可以方便地移动和调整角度。)这样只需从一端观察就能很方便地同时读取两测量面上出现的干涉带条数。这种方法对检定  相似文献   

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小经验两则     
1.一种观察干涉带的方法检定千分尺两测量面的平行度时,将平行平晶水平放置于检定桌上,在平晶左端不远处与平晶轴线垂直方向立放一面镜子。检定员左手持千分尺尺身,右手拧动棘轮,当千分尺两测量面与平晶工作面接触时,透过平晶观察千分尺左端测量面(即固定测砧测量面)上的干涉带情况;再从镜面上观察千分尺右端测量面(即微分丝杆测量面)上的干  相似文献   

4.
我们在检定公法线千分尺时 ,发现不平行度合格与否对示值的影响远比其它因素的影响大。规程JJG82— 98要求公法线千分尺的平行度采用平行平晶或量块检定。但在实际工作中 ,因测头圆盘直径大 ,用平行平晶检定不便于观察干涉带 ,干涉带显示不明显。量块检定时 ,量块放在测量面  相似文献   

5.
在千分尺检定规程(JJG21-81)中,千分尺两测量面的平行度检定有如下规定:测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度用平行平晶检定,也可用量块进行检定.但是,用平行平晶和用量块作此项检定时,检定误差是不一样的。下面试举例说明。 用平行平晶进行检定,其误差主要有基准件平行平晶平行度误差。根据检定规程,尺寸至90mm的平行平晶平行度误差1μm,考虑千分尺面积只有平行平晶面积的1/25,因此此项误差为1/25μm。另外还有读数误差,因为小于一条干涉带的误差就无法读出。此项误差为0.3μm,考虑平行平晶两面读数,因此此项误差为2次。 而用量块进…  相似文献   

6.
本文介绍一种垂直观测法,将青岛标准计量局实验工厂生产的千分尺检定架改装成一种夹具,辅助检定千分尺测量面,其效果很好。如图所示,将千分尺检定架上装卡量块用的工作台拆下,换上反射镜1。把千分尺装卡在卡爪3内并用紧固螺丝4固紧,然后将平行平晶2置于千分尺两测量面间,调整平行平晶与千分尺测量面间的相互位置,使干涉带的总  相似文献   

7.
薛祖钧 《工业计量》1995,5(5):38-38
千分尺平行性的判断与修理f千分尺是一种常用量具;由于结构简单,使用方便,测量准确度较高,故在工厂使用极为普遍。同时修理工作量也极大,修理时两测量面的平行性是必修项目。有许多文章专门介绍使用平行平晶检查千分尺平行性及根据干涉条纹判断两测量面的平行情况,...  相似文献   

8.
用平行平晶(或平行平晶组合体)检定千分尺平行度时,操作者不仅要注意保证平晶工作面与两测量面充分接触,头部及上身还须在平晶两侧左右移动来观察,计算测量面出现的平沙带条数。由于头部,上身要左右移动来观察,手持不易平稳,影响检定结果。如果我们在检定时利用日常生活用的平面镜,可以使操作方便,提高工作效率,获得准确的检定结果。现将使用方法简介如下: 检定时,首先将平行平晶(或平行平晶组合体)放置在工作台上,平面镜放置在平行平晶的左侧,注意调整好观察位置。然后手持千分尺使两测量面与平晶工作面充分接触,观察、计算测杆测量面出现…  相似文献   

9.
外径千分尺测量面平行度误差超差严重,用通常的修理工艺(四块研磨器法)是难以修复的,其原因是因为活动测量而在旋转一周的过程中与固定测量面的平行度误差的位置难以判断。通过较长时间的修理实践,我们用平行平晶判断平行度误差位置指导修理,收到了事半功倍的效果。现以0-25mm外径千分尺为例介绍。首先,用油石打磨千分尺测量面,以除毛疵。如果测量面磨损严重,还须进行一般性研磨,以能出现清晰的干涉带,并使测量面平面度误差在1μm内为宜。然后用平行平晶判断测量面平行度误差位置。如图1所示,依次用四块平行平晶以活动测量面为检查基准面检查  相似文献   

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<正>0引言外径千分尺两测量面的平行度是指在千分尺测量范围内,活动测杆做任意转动时两测量面的平行程度。平行度误差的大小实际上是由两测量面相对于轴线的垂直度所决定的。外径千分尺的平行度使用一组四块平行平晶检定。依次将四块厚度差为四分之一螺距的平行平晶放入两测量面间,使测量面与平行平晶接触,转动棘轮机构,并轻轻转动平行  相似文献   

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一、上期问题答案长度计量 16.答:属于1级千分尺。因用5等量块检定的,所以示值误差在±4μm内均定为1级。 17.答:当平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时,根据两测面上产生的干涉条总数确定为两测面的平行度。 18.答:用4等或1级量块检定。  相似文献   

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本文以千分尺为对象,分析用平面平晶检定仪器平面度的方法和基本原理,以干涉带的形状来判断仪器的平面度。同时还分析了用平面平晶在检定千分尺平面度过程中的影响因素,并对其测量不确定度进行了评估。  相似文献   

13.
外径千分尺两测量面的平行度符合要求与否对其所给出测量结果正确性的影响不容忽视,本文讨论了以平行平晶和量块两种方法对外径千分尺两测量面的平行度进行检定的方法并加以简单分析,从而得出在实际检定工作中如何恰当运用两种方法的结论.  相似文献   

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目前所使用检定规程只对测量上限至100mm 的千分尺两测量面的平行度检定作了比较详细的说明,即可以用平行平晶检定,也可用量块检定。但对于测量上限大于100mm 的千分尺两测量面的平行度只说明用专用工具检定,并没有具体解释。我们单位使用  相似文献   

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二、两工作面的平行度测砧和测量杆的工作面平行度,通常采用平行平晶或量块检定。平行平晶或量块的尺寸根据被检千分尺的测量范围确定,且在测量范围的中间尺寸段,即在A+12mm~A+16mm(A为测量下限)内选取依次间隔0.12~0.13  相似文献   

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本文介绍了外径千分尺平行度超差的原因,用平行平晶检查平行度时出现的几种情况、判断方法及修理方法.  相似文献   

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平晶是目前工厂中用来检定某些计量器具工作面平面性或平行性的主要量具。由于受条件限制,许多厂至今仍沿用以标准平晶与被检平晶接触,用观察干涉带弯曲的方法来检定平晶的平面性。这种检定方法容易出现以下两种现象: 1.检定时被检平晶和标准平晶光胶住了  相似文献   

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大千分尺两工作面平行度的检定 ,由于尺寸大 ,量具自身重 ,若采用量块或平行平晶与量块组合进行检定 ,不仅工作效率低 ,而且测量结果不准确 ,影响检定质量。为此 ,我们利用过去已报废的一盒(100~1500)mm内径千分尺进行改装 ,组成一套可检定测量上限至1500mm的大千分尺平行度的专用检具 ,既经济又实用。平行度检具结构如图所示 ,主要由套管、可换接长杆、钢球装置和微分头组成。经使用证明 ,基本上满足了大千分尺平行度检定工作的需要。1 大千分尺测砧2、7 套筒3、6 钢球装置4 可换接长杆(空心)5 微分头总成6 大…  相似文献   

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研磨外径千分尺两测量面的平行性(以下简称平行性),是修理千分尺的一道重要工序,也是保证千分尺测量精度的重要一环。所谓平行性,是指在千分尺刻度范围内活动测杆作任意转动时,两测量面的平行程度。要达到这个要求,先决条件就是两测量面都应垂直于微分丝杆的旋转轴线(以下简称  相似文献   

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采用长沙光学仪器厂生产的开槽并有十字线的平行平晶对560型投影仪进行检定,效果很好。专用平行平晶的结构如图所示。刻有十字线的分划板与平行平晶胶合为一体,十字线的交点正好处于平行平晶圆弧槽边上。使用时,将此专用平行平晶置于仪器工作台面上,上下移动工作台,直至在仪器影屏上见到清晰的专  相似文献   

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