TFT-LCD制造过程中的盒厚控制工艺研究

以国内最先进的第5代TFT-LCD生产线为基础,对生产过程中影响盒厚的因素进行探讨和研究,为TFT-LCD生产中的盒厚控制提供参考。主要探讨了TFT-LCD生产中,液晶滴下工艺、垫料散布工艺、封框胶涂敷工艺对液晶盒厚的影响。     

基于FPGA的液晶盒厚快速测量系统

在复杂的液晶显示器制造工艺中,液晶盒厚及其测量对液晶滴入量起着关键作用,进而影响液晶显示器件的底色及响应速度等光电特性.从光干涉原理出发,以FPGA为核心芯片,利用倾角传感器、光电传感器等模组设计了液晶盒厚快速测量系统,通过实验验证,系统具有误差小,设备简单,操作快捷等特点,满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02％以上,充分满足了液晶显示器件生产厂家进行盒厚过程监控和液晶量准确计算的需要.     

PDCA方法支持下的TFT-LCD破片率降低项目应用探究

<正>TFT-LCD行业中,破片一直是影响产品良品率的重要因素之一。本文以8.5G CF面板为基础,将PDCA品质工具应用于TFT-LCD破片率降低应用中,对TFT-LCD破片率降低进行界定、测量、分析、改进和控制,从而优化生产线工艺工况,完善生产管理措施,达到降本增效的作用。TFT-LCD即薄膜晶体管、液晶显示器,制造过程中下设阵列、彩膜、成盒、膜组四大工艺。本文以CF工艺为依托,开     

低驱动电压和快速响应的共面转换液晶显示器

共面转换液晶显示器（IPS-LCD）由于其优异的视角特性和色彩还原能力在TFT-LCD中得到了广泛应用,然而响应速度慢的缺点始终限制着其在高端液晶显示器中的发展。本文中提出一种凸起电极结构的共面转换液晶显示器,并采用TechWiz软件模拟了该结构的电光特性。与传统IPS-LCD相比,我们提出的新结构IPS-LCD的驱动电压降低了2.3 V。在响应时间方面,尽管驱动电压降低了,但是由于凸起电极改变液晶层中的电场状况,因此上升响应速度得到了一定提高。此外,凸起结构减小了液晶层的等效盒厚,因为下降时间正比于液晶盒厚的平方,所以下降响应速度也得到了明显提高,该结构的整体响应速度相比传统结构提高了大约38%。     

一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法

提出了一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法。根据Jones矩阵推导出了Stokes矢量与液晶盒参数的关系,其原理是通过确定经过液晶盒之后偏振光的偏振特性来求解液晶盒盒厚和扭曲角。该方法在测量一个Stokes矢量时,在液晶盒后依次放两种波片,目的是改变经过液晶盒后的光的偏振态,再置一偏振分光棱镜分开水平Ip和垂直Is线偏振分量,测得两组光强,根据公式算得该Stokes矢量,从而求解液晶盒盒厚以及扭曲角。实验中我们用该方法测量了不同盒厚、扭曲角度的TN液晶盒。实验结果证明该方法可行,结果准确,并且可以测量盒厚较小的液晶盒。最后,我们理论分析了实验误差。     

傅里叶分析法求Stokes矢量测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角

本文提出了一种测量扭曲向列相液晶盒盒厚与扭曲角的新方法,在液晶盒和检偏器之间放置四分之一波片,通过旋转此四分之一波片,测量各个调制点的光强,用傅里叶分析法计算线偏振光穿过液晶盒后的 stokes 矢量,从而求出液晶盒盒厚以及扭曲角.实验证明,用此方法测量盒厚比较小的液晶盒厚有较高测量精度.另外,此方法也可以应用到单偏振片反射式液晶盒盒厚和扭曲角的测量.     

液晶盒厚的均一性研究

根据液晶量的计算模型进行了理论模拟,基于模拟结果对各因子进行实验设计,并在实际生产中对提升盒厚均一性的方案进行了验证。实验结果表明,影响液晶盒厚均一性的关键因子是隔垫层、像素间段差和阵列基板侧段差,对盒厚工程能力指数的影响分别为0.9、0.8和0.6。在阵列基板侧使用有机膜可以将盒厚的工程能力指数提升0.6,采用交叉隔垫层可以将盒厚的工程能力指数提升0.9。降低彩膜侧段差最有效的方法是导入平坦层进行平坦化,高平坦性材料和普通材料的平坦层可分别将盒厚的工程能力指数提升0.5和0.2。     

弱锚定垂面排列液晶显示器的响应时间

研究了弱锚定垂面排列液晶显示器中液晶的响应时间.应用等效液晶盒厚的方法可以将弱锚定液晶盒看作强锚定液晶盒.等效盒厚为液晶层厚度加上由于弱锚定边界条件而引起的外推长度.文中应用两种不同的方法推导了该外推长度,并对两种方法对应的响应时间进行了比较和分析.     

硅基液晶显示器液晶盒贴合工艺研究

研究制备了LCOS显示器,重点研究了LCOS液晶屏的贴合工艺,基于实际测量数据给出了获得所需液晶盒厚度与施加在基板上的压力关系曲线,并展示出实际LCOS液晶盒厚截面的扫描电镜照片.     

垂直排列硅上液晶显示器件反射率的提升

为了提升垂直排列硅上液晶(VA-LCoS)器件的反射率,本文通过建立常黑型VA-LCoS的三维光学模型,分别用圆偏振光和线偏振光入射,研究了预倾角、液晶盒厚和入射光波长对VA-LCoS器件的反射率的影响.结果 表明:使用圆偏振光入射能彻底消除亮态像素内黑色区域.本文条件下,1.6 μm盒厚的VA-LCoS在圆偏振光入射...     

液晶模组项目加速向中国大陆转移下游整机装配开始转向越南等国

众所周知,TFT-LCD面板产业分为三个制造环节：阵列、成盒和模组。如今越来越多的企业把液晶模组厂转移到中国大陆。     

液晶显示器的清洗技术(三)

文章首先对液晶显示器的发展历程进行简要回顾，并对各种液晶显示器的工作原理、结构特点作了介绍，其中对薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的基本结构和生产工艺流程做了重点介绍，文章还对液晶显示器的制备过程中采用的洗净技术以及目前国外技术发展的新动向做了较详细的介绍。     

辊压法制备柔性双稳态液晶显示器件

基于PET塑料薄膜取代硬质玻璃作为基板材料制备柔性液晶盒时,采用传统制备工艺会产生盒厚度不均以及盒中残留气泡等现象,导致柔性液晶器件性能变差。采用辊压工艺可以有效地解决上述问题,文章对其工艺流程进行了详细描述。实验发现,通过在辊压工艺中加热两片基板以降低溶液的黏度,能够有效地避免气泡残留,获得厚度均匀的柔性液晶盒。应用辊压工艺和聚合物分散胆甾相液晶,成功地制备了尺寸为7cm2的反射式柔性双稳态液晶盒。利用正交偏光显微镜观察了聚合物分散液晶的相形态,紫外分光光度计测试了其光电性能:最高反射率为22.8%,对比度为2.259,阈值电压为78V,饱和电压为99V。     

大尺寸薄膜晶体管液晶显示器的一种条状显示不均的分析和改善研究

研究了大尺寸薄膜晶体管液晶显示器产品开发中遇到的一种新的条状显示不均。通过扫描电子显微镜、四探针测试仪和分光光度计设备对这种显示不均进行了分析,这种显示不均与薄膜晶体管阵列基板上的金属配线的膜厚周期性波动有关,金属膜厚的周期性波动导致了液晶显示器的液晶盒盒厚的不均匀,从而造成显示不均。这种膜厚的周期性波动与液晶高世代线广泛采用的平面靶材溅射设备构造有关。通过对设备结构的改造,提高了基板面内的金属膜厚的均一性,改善了此不良。     

TN型产品Zara Domain理论研究与分析改善

Zara Domain是高PPI TN型TFT-LCD制成中较为常见的一种不良,为了提高产品品质,急需改善Zara Domain。以3.97in TN产品(PPI 235)为例,Zara Domain发生率30%,对产品良率影响较大,文章结合生产情况对Zara Domain发生的原因进行理论分析和实验验证,得出改善Zara Domain的方法。首先,产品设计上可以通过增加平坦膜改善彩膜侧平坦度。其次,材料上可以选择高预倾角的配向膜以及低Pitch的液晶分子。最后工艺上优化摩擦强度和对盒后冷却工艺。实验结果表明:通过设计,材料,工艺三方面改善,最终生产过程中Zara Domain发生率1%,提高了产品品质。     

负性液晶垂面排列(VA)盒中壁的研究

文章从理论上概述了外场作用下向列相液晶盒中出现的Bloch壁,使用负性液晶对两种垂面排列(VA)盒进行实验研究。两种液晶盒均使用垂面聚酰亚胺(PI)作为取向层,一种盒涂敷PI后使用了后工艺过程,另一种盒涂敷PI而没有后工艺过程。第一种VA盒在强场作用下出现壁,它事实上验证了涂敷PI后工艺过程的有效性。在外场作用下,第二种VA盒出现不同的不稳定现象。     

负性液晶垂面排列（VA）盒中壁的研究

文章从理论上概述了外场作用下向列相液晶盒中出现的Bloch壁,使用负性液晶对两种垂面排列（VA）盒进行实验研究。两种液晶盒均使用垂面聚酰亚胺（PI）作为取向层,一种盒涂敷PI后使用了后工艺过程,另一种盒涂敷PI而没有后工艺过程。第一种VA盒在强场作用下出现壁,它事实上验证了涂敷PI后工艺过程的有效性。在外场作用下,第二种VA盒出现不同的不稳定现象。     

中国TFT-LCD产业发展之路

纵观世界TFT-LCD产业发展的历程,探讨中国TFT-LCD产业发展的道路.建议尽快建成以TFT液晶显示屏为中心的上、下游产业链,增强零部件的自我配套能力,以促进我国显示产业长足地稳定发展。     

液晶显示器新技术

常见的液晶显示器分为TN-LCD、STN-LCD、DSTN-LCD、TFT-LCD四种类型。其中,DSTN-LCD和TFT-LCD被广泛应用到计算机系统、PDA、移动通信等领域。尤其是TFT-LCD已在笔记本电脑领域得到推广。目前,由于TFT-LCD技术的不断完善,再加上DSTN-LCD自身存在的缺陷,使得TFT-LCD成为当前计算机市场中前景最好的液晶显示器。由于显示工作原理不同,LCD显示器的有些性能(技术)参数与CRT显示器大同小异,而有些则区别较大。主要参数包     

TFT-LCD面影像残留改善研究

影像残留是一种TFT-LCD屏的固有特性。主要是由于长时间显示静态画面时液晶材料的极化敏感性造成的。这种极化影响了液晶材料的光学特性,并阻止液晶分子完全恢复到正常松弛状态。本文主要探讨了通过改变TFT设计来改善面影像残留现象的方案。通过设计实验变更TFT-LCD的主要参数(Pixel设计、Aperture Ratio、ΔVp等),提出了4种面影像残留改善方案并制作了样品。对这4种改善方案的试制样品进行了TFT-LCD面影像残留水平测量和评价,分析了各像素设计因素对面影像残留水平的影响;同时对试制样品的画面品质进行了评价,为解决相关画面品质问题对该方案进行了设计优化,最终获得了一种较佳的面影像残留改善方案。