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Sn-Ag基无铅钎料Nd:YAG激光重熔界面研究 总被引:2,自引:0,他引:2
通过Nd∶YAG激光重熔和热风二次重熔试验,得到了Sn3.5Ag和Sn3.0Ag0.5Cu无铅钎料球在Cu焊盘的钎料凸台.利用扫描电子显微镜分别分析了激光重熔和热风二次重熔后两种无铅钎料与铜焊盘界面反应及组织形貌,并对激光一次重熔无铅钎料凸台进行了剪切试验,观察了凸台的剪切断口.结果表明,在合适的激光功率和加热时间条件下能够获得成形良好的无铅钎料凸台,Sn3.5Ag和Sn3.0Ag0.5Cu两种无铅钎料与Cu焊盘所产生的界面化合物主要为Cu3Sn和Cu6Sn5,凸台界面反应组织形貌以及剪切承载力与激光功率和加热时间密切相关,而且激光重熔形成的界面化合物影响热风二次重熔界面的组织形貌. 相似文献
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《中国无线电电子学文摘》2004,(3)
TN60 2004030494铜锢钊硫对Sn一Ag基无铅焊料性能的影响/林培豪,刘心宇,成钧(桂林电子工业学院)11电子元件与材料‘一2 003,22(10).一33-34研究了Cu、In、Bi、S元素对Sn一Ag基无铅焊料熔点和铺展性的影响.结果表明:Sn一A片Cu三元合金成分为9 5.5%Sn3.5%Agl%Cu时具有较低熔点(215℃)和好的铺展性;加入适量的In可降低Sn一Ag合金的熔点和改善铺展性能;随二(B劝的增加Sn-Ag一Bi三元合金熔点降低、铺展性变好;Sn一Ag合金熔点随、(S)的增加而升高,加入少量S能改善Sn一Ag合金的铺展性.图8参5(刚)影响,发现随着硫酸浓度增加,温度对隧道… 相似文献
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铝软钎焊时钎料元素的化学选择吸附作用 总被引:2,自引:0,他引:2
铝软钎焊的关键问题是钎焊接头耐蚀性差。本文以普通 Pb—Sn 软钎料为基体,加入能与 Al 形成界面化合物的合金元素改变钎焊接头界面电极电位和改善钎料与母材间的结合,从而提高铝软钎钎焊接头的耐蚀性。试验研究表明:加入合金元素 Ag的 Pb—Sn 钎料钎焊 Al 时,Ag 向 Al 表面的化学选择吸附作用明显,由于形成 Ag—Al 化合物使耐蚀性显著提高。本文还提出不同工艺因素对铝软钎焊接头耐蚀性影响的试验结果。 相似文献
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采用Sn-Ag-Cu焊球(直径200,300,400和500μm),镀Ni盘,研究1,3,5次回流焊条件下焊点的IMC厚度及显微组织与焊球尺寸间的关系。结果表明:对于同一尺寸的焊球,随着回流焊次数的增加,IMC的厚度增大,形状由平直状逐渐过渡为体钎料一侧凹凸不平;在同一回流焊次数下,随着焊球尺寸的增大,IMC厚度减小,形貌相对没有明显差别。IMC的组成成分随着Ni向体钎料方向的不断扩散而从Sn、Ag、Cu合金变成Sn、Ag、Cu、Ni合金,其主要组成部分为(Cu,Ni)6Sn5。 相似文献
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稀土改性的Sn-58Bi低温无铅钎料 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了微量稀土对Sn-58Bi低温钎料的改性作用.试验添加质量分数为0.1 ?组混合稀土的无铅材料,并对比Sn-58Bi和Sn-58Bi0.5Ag合金.观察了钎料显微组织的变化并做了定量分析,采用DSC测试了钎料的熔化温度,同时测量了钎料的润湿性能、接头强度与硬度.结果表明,微量稀土添加细化了Sn-58Bi钎料合金的显微组织,对钎料的熔化温度几乎没有影响,能显著改善Sn-58Bi钎料的润湿性能和接头剪切强度,而且改善的程度优于添加微量Ag对Sn-58Bi钎料的作用. 相似文献
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介绍了澳大利亚插头产品的法规要求及插头的型式、尺寸、参数和测试要点,分析了插头的电流额定值和配线之间的关系,强调了插销绝缘套的要求。对重要的试验项目,如弯曲试验、插销绝缘套的耐磨试验、温升试验、高温压力试验进行了说明。 相似文献
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该文以直接论述的方式,指出国家对质量工作的重视,就当前元器件和整机企业中存在的质量问题进行深入剖析,从宏观和微观层面对企业生存和发展的关键提出切实可行的建议和对策。 相似文献
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根据矢势和标势满足的波动方程,分析了电磁波传播时电场的纵向分量与横向分量之比值,用量级分析的疗法证明了其纵向分量可以忽略。 相似文献
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通过计算和实验首次探讨了异材浸润性的两个评价指标浸润角与铺展面积之间的关系,弄清了滴座实验方法与铺展实验方法的适用范围,在此基础上提出测量浸润角0M45”的氧化膜与玻璃之间的浸润性时应采用铺展实验方法。 相似文献
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励磁系统的PID参数对发电机组和电网稳定的可靠性和动态品质具有重要的作用。检验励磁系统PID参数准确性的方法主要是进行发电机空载阶跃响应试验。本文采用中国电力科学研究院研制的电力系统综合仿真程序PSASP对沧东电厂4号机励磁系统进行了5%机端电压阶跃仿真试验,然后根据仿真结果进行了现场试验,结果表明仿真结果对现场试验具有重要的指导意义,不仅节省了现场调试的时间,而且进一步提高了现场试验的安全性。 相似文献
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对比小型熔断体产品的欧洲、北美标准体系,分析了两类标准在额定值、外形尺寸、电气性能试验方面的差异,以及小型熔断体IEC标准的发展趋势。 相似文献