放音幅频特性基准校准带的制作

本文介绍了录音机用放音频响校准基准即频响基准校准带制作的基本原理，对制作工艺中重放损耗的修正原则和方法，变换带速法的工艺流程和制作实例。     

特殊音频盒式校准带（二）：混合型及多用混合型校准带

一、概述 TCC系列混合型及多用混合型校准带是音频盒式校准带的一个特殊品种,系采用独特设计的频率混合技术及设备,将若干个不同用途的频率信号,混合后同时录制于磁带的全磁迹上。使用时利用专用滤波器将所需信号取出,用以对收录机或机芯、磁头的性能指标进行校准及测试。以往国内录音机生产厂在收录机的测试过程中很少采用混合型校准带,原因是国内     

Microchip推出带片上单触发校准电路的运算放大器

美国微芯科技公司宣布推出全球首款业界带mCal片上校准电路的运算放大器（运放）系列新品。利用内部上电复位检测器在上电时,或者根据外部引脚的状态,该片上校准电路可对失调电压进行校准,从而为设计人员提供了较低的初始失调电压,以及最大限度地降低随时间和温度而产生的电压漂移。     

Microchip推出带片上单触发校准电路的运算放大器

Microchip宣布推出全球首款业界惟一带mCal片上校准电路的运算放大器（运放）系列新品。利用内部上电复位检测器在上电时，或者根据外部引脚的状态，该片上校准电路可对失调电压进行校准，     

音频磁头校准带

磁头是磁带录音机的关键部件之一,其性能优良与否,要靠校准带来测量。 1.磁头放音特性校准带定量地测量磁头放音特性是把该磁头装在特定的走带机构上,用具有已知带磁通信号的     

录音机放音校准带的要求与使用

放音校准带是作为一种测试和调整录音机的标准工具而出现的,并录有所需要的各种测试和校正用的标准信号。美国是最早制作放音校准带的国家,早在1949年美国广播协会为了录音机的互换性,制定了放音校准带的NAB标准,德国DIN标准制定于1953～1955年,但DIN标准测量方法正式规定的作出却是在1958年。美国国家标准协会1973年用“中波磁性录音磁通的测量方法”作为美国国家标准,1975年,国际电工委员会IEC94－2号文件对放音校准带的信号和频率作了统一,录音特性由各国自己制定、统一。我国制作放音校准带的时间始于60年代。为了解决广播…     

广播专业用录音机放音校准带及其特性分析

录音机放音校准带是调校,测试录音机的重要依据。它包括抖晃测试带、失真测试带、以及基准磁平定标、方位角校准、幅频特性校准带,其中基准磁平定标,方位角和幅频特性校准带是人们在日常工作中最常用     

一种带自校准的12-bit SAR-ADC设计

逐次逼近型模数转换器(SAR-ADC)相比较于其他类型的ADC,具有结构简单、功耗低、所占面积小等优点,在移动终端、可穿戴设备以及物联网传感器中被广泛使用。但随着科技的进步,应用场景往往会对SAR-ADC的精度提出更高的要求。基于UMC 110 nm CMOS工艺设计了一款采用RC混合结构且带自校准功能的12-bit SAR-ADC,提高了转换精度、减小了电路面积。其自校准结构相比较于传统的SAR-ADC能够在消除比较器失调的同时将误差量化,以此可判断失调是否被校准完毕,从而判断在该工艺下此ADC性能是否满足需求。     

用全磁迹校准带校准立体声录音机的问题

在实验的基础上,对用全磁迹放音校准带校准立体声录音机时,所存在的左、右声道电平差的问题进行了研究和论证。证实了该现象的存在,并对其在实际工作中所引起的问题进行了分析。     

光功率计校准系统的建立：一个建议

本文基于ＨＰ公司的测试设备，提出了光功率计的一种频谱响应度校准系统。本建议包括校准设备和该系统的维护设备。文中的讨论着重于１３００和１５００ｎｍ单厝光纤的激光型校准，同时也主８５０ｎｍ的多模光纤的激光型校准。     

透镜校准模块

美国加州Team Technologies公司生产的柱透镜分层校准模块可用于二极管激光器条式或层叠式二极管激光器(层距0.8mm)。准直透镜装在小型准直结构内。此校准模块用来安装本公司生产的接近衍射极限的柱透镜.这种模块可用于实验室或光、机、电系统装调。此校准透镜可校准1—50条的     

放音校准带的录制及录音机调校中的若干问题

本文扼要阐述了放音标准带的录制方法，对其采用的原理、依据和工艺过程等做了说明。本文还对测试带的使用和录音机的调整和校准中的问题做了描术这。     

Microchip推出具备可编程校准和多种工作模式的烟雾探测器IC

Microchip（美国微芯科技公司）宣布,推出集成喇叭驱动器和升压稳压器的RE46C190 3V光电式烟雾探测器IC。RE46C190 IC是全球第一款可在低电压下运行,并具备可编程校准和多种工作模式的烟雾探测器IC,有多种工作模式可供选择并可在制造过程中进行校准。     

有源相控阵天线的近场校准

为实现对相控阵天线的校准,降低幅相误差和阵元失效对天线性能的影响,提出了一种考虑互耦效应的近场校准方法。在利用近场扫描法完成逐一通道校准的基础上,使用旋转矢量法进行二次校准。在应用旋转矢量法（ REV)时,为使被测信号的变化明显,将大规模相控阵天线分为中间、边缘区域进行分区校准。通过二次校准可判定阵元是否失效,提高相控阵天线的幅相一致性;通过分区校准减小阵元间互耦的影响,缩短校准时间。仿真结果表明：此方法用于大型相控阵的校准具有较高的准确性,可改善校准结果。     

红外校准设备

由于遥感和其他红外探测的需要,要求提高美国国家标准局红外校准的性能。最近完工的新的红外校准设备可校准-40～100℃的黑体。其所用主要仪器是一个红外宽带辐射计和美国国家标准局设计的变温黑体。辐射计带宽8～14.5微米,有效波长约     

带单bit参考通道的TIADC时间失配校准

提出了一种带单bit参考通道的校准算法,用于校准时间交织模数转换器(Time-interleaved analog-todigital converter,TIADC)的时间失配误差。该算法引入一条单bit的参考通道,其输出与TIADC子通道的输出进行相关运算获得误差信息,然后反馈到多相时钟产生器,形成反馈环路,达到校准的目的。该算法只引入了一条单bit的参考通道,硬件消耗低,对输入信号的频率没有限制,且可以扩展到任意通道数。算法应用于一个4通道12bits的TIADC,当输入信号归一化频率fin/fs=0.484 8时,MATLAB仿真结果表明,经本算法校准后SNR从14.39dB提高到73.92dB,证明了该校准方案的有效性。     

耳声发射测量仪校准系统设计

耳声发射测量仪测量值的准确与否直接影响听觉疾病的检测和诊断。本文设计并实现一套耳声发射测量仪校准系统。基于PXI总线设备搭建硬件系统;基于LabVIEW语言开发校准软件;对某诊断型耳声发射测量仪进行校准实验。实验结果表明,该校准系统能够对耳声发射测量仪进行校准,可用于日常校准工作中。     

流图法在光探测器芯片高频特性测量校准上的应用

在采用光调制法测量光探测器芯片高频响应特性的过程中,测试系统往往忽视光调制器响应、高频探针衰减以及端口间失配等误差中的一项或几项.为了降低校准不完善对结果造成的误差,文中提出了基于信号流图的系统校准分析方法,考虑了各种频响误差及端口间失配的影响,推导出校准公式.利用该法对一种光探测器的典型测试系统--基于LCA(lightwave component analyzer)的测试系统做了进一步校准分析,在130MHz～20GHz范围内,测量了一种新型光探测器的高频响应参数S21,结果表明经流图法校准的S21参数比仅使用原有校准算法有明显改善,证明了该方法的可行性.     

流图法在光探测器芯片高频特性测量校准上的应用

在采用光调制法测量光探测器芯片高频响应特性的过程中,测试系统往往忽视光调制器响应、高频探针衰减以及端口间失配等误差中的一项或几项.为了降低校准不完善对结果造成的误差,文中提出了基于信号流图的系统校准分析方法,考虑了各种频响误差及端口间失配的影响,推导出校准公式.利用该法对一种光探测器的典型测试系统--基于LCA(lightwave component analyzer)的测试系统做了进一步校准分析,在130MHz～20GHz范围内,测量了一种新型光探测器的高频响应参数S21,结果表明经流图法校准的S21参数比仅使用原有校准算法有明显改善,证明了该方法的可行性.     

一种用于短距离器件的带自校准的Σ-Δ分数分频频率综合器

介绍了一种应用于433/868MHz频段短距离器件的分数分频频率综合器. 采用带自适应频率校准的宽带压控振荡器来覆盖要求的频段,并采用3位量化、3阶的Σ-△调制器来实现分数分频和改善锁相环的带外噪声. 测试结果表明,自适应频率校准能够正常工作,压控振荡器的频率调节范围为1.31~1.18GHz,在3MHz频偏处的带外噪声为-139dBc/Hz,分数毛刺低于-60dBc. 芯片采用0.35μm CMOS工艺,芯片面积仅为1.8mm2,功耗仅为57mW.