X-射线荧光光谱法分析锆英石质耐火材料

介绍了用XRF(X射线荧光光谱法)测定锆英石质耐火材料中的锆含量的定量分析方法。说明了该分析方法所适用的测定范围,并对标样的制备、试验条件的选择和分析结果做出了详细描述。     

X－射线荧光光谱法分析麦饭石及其浸出物成分

用Ｘ－射线荧光光谱（ＸＲＦ）法测定了山西某地麦饭石及其浸出物的成分，给出了ＸＲＦ测试条件。     

勺式取样-X射线荧光光谱法测定钒铁的成分

采用勺式取样-X射线荧光光谱法测定钒铁V、Si、Al、P、Mn和S含量,通过选择合适的取样条件,选用不同生产线生产的具有含量梯度的样品,通过化学定值后绘制校准曲线,以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应。该方法测量结果准确度高,所得结果与湿法化学分析结果一致。     

X射线荧光光谱法快速测定高碳锰铁合金中硅、锰、磷

采用X射线荧光光谱法定量分析高碳锰铁合金中硅、锰、磷元素含量,并利用国家标准样品辅以自制标样在设备软件中绘制工作曲线,根据工作曲线和ARL9900 X荧光光谱仪测量强度,计算出高碳锰铁中硅、锰、磷元素含量.目前此方法已用于生产分析,可降低分析成本及人工劳动强度,同时还可避免人为因素所带来的不确定性,完全能够满足于日常生...     

X—射线荧光光谱法分析麦饭石及其浸出物成分

用Ｘ－射线荧光光谱法测定了山西某地麦饭石及其浸出物的成分，给出了ＸＲＦ测试条件。     

X射线荧光光谱法测定连铸保护渣的化学成分

根据连铸保护渣成分及试样特点,对试样预处理、试样熔融条件、熔制程序及干扰校正等进行试验研究,运用X射线荧光光谱法测定连铸保护渣中主要化学成分的含量。测定结果显示,各成分校准曲线相关系数大于0.999,相对标准偏差小于0.5%,与化学法对照结果无显著差异。     

基于EDXRF光谱法的水系沉积物中多种重金属成分分析

采用粉末样品压片制样,用能量色散X射线荧光光谱仪对长春南湖湖底沉积物中Ba、Pb、As、Cr、Co、Ni、Cu、Zn多种元素进行测定。重点研究了元素的测定条件、背景选择和谱线校正问题。经检验,结果符合标准,方法的检出限和精确度能够满足环境检测化探试样的分析要求。用GWB07305水系沉淀物成分分析标准物质进行测试,精密度（RSD）除Cr〈15%外,其余元素均〈9%。结果表明,EDXRF光谱法的精密度和准确度能够满足水系沉积物检测要求。     

x射线荧光法测定铬质引流剂的化学成分

根据铬质引流剂难熔、难以制备玻璃熔片的特点,对熔剂选择和混合熔剂比例选择、试样量熔剂量比例选择、脱模剂选择用量试验、熔制程序干扰校正等进行了试验,建立了X射线荧光光谱法,以此测定了铬质引流剂的化学成分。各成分测试标准偏差≤0.12%,与化学法测定结果无显著性差异。     

X射线荧光光谱法测定氧化铝中PdO和La2O3的含量

用X荧光光谱法准确测定氧化铝中PdO和La2O3的含量,采用超声波分散人工合成标样,粉末压片法制样,经验系数法与散射线内标法校正基体效应.测量范围0.01%~1%,加标回收率91.06%~97.14%,相对标准偏差均在0.36%以下,测量一个样品所需时间仅3 min,具有准确、快速、简便的特点.     

保护渣的X射线荧光光谱分析

试样经预处理后再熔融制样,采用X荧光光谱仪分析保护渣,理论a系数校正.选用炉渣及耐火材料标样,添加光谱纯试剂配制了数点合成标样,使得分析曲线点分布均匀.铝、硅、钙元素的含量范围较大,将分析结果与化学法对照,各组分的定量结果令人满意.     

X线荧光光谱法测定中低合金钢组分

介绍了X荧光光谱法对中低合金钢中Si、Mn、P、S、As、Ti、Ni和Cr8种化学成分的分析方法。选用国家标准样品建立工作曲线,利用经验系数法进行基体校正,谱线重叠校正、基体干扰校正等。结果采用国标样品标准值进行验证,并与火花源原子发射光谱法分析结果进行比较;实验证明,相对标准偏差均<2%,准确度在允许偏差范围内,方法可靠性满足生产需求。加强了与直读光谱之间的比对实验,弥补了直读光谱维修期间的分析工作。     

X射线荧光光谱分析动力学法的原理

提出了动力学法用于Ｘ射线荧光光谱分析的基本原理，并推导了用于定量分析的四个公式     

X射线强度对无损检测质量的影响

X射线检测技术在石油化工中应用很广,其检测效率高且检测图像可长期保存,使其成为常用的检测方法之一。从影响X射线强度的因素出发,分析其对检测质量的影响。     

荧光光谱法测定啤酒中核黄素的含量

探讨了酸度和光降解作用对核黄素吸收和荧光光谱的影响.利用改进后的荧光光谱法测定了不同品牌啤酒样品中游离核黄素的含量,结果表明,所选啤酒样品中的核黄素含量在0.025 97～0.034 29μg/mL范围内.该方法操作简单、结果可靠,为定量测定基体复杂样品中的核黄素含量提供了新的方法.     

磁性工件的X射线检测方法研究

带有图像增强器的X射线实时成像系统检测磁性工件时,图像易发生畸变,进而影响评片的准确性.分析了图像增强器的工作过程和图像畸变产生的原因,针对工件产生的磁场引起X射线像增强器内部电子束发生偏转最终导致图像出现畸变的现象,提出采用了动态磁场补偿器来改变驱动电流的大小和方向.此方法是通过改变磁场强度和磁场极性,消除磁性工件对图像增强器内电子束运动的影响.该动态补偿器结构简单,操作简便,性能稳定可靠.实验验证,此方法有效改善了成像质量,消除了图像畸变,得到清晰准确的检测图像.     

基于Si（Li）探测器的X射线荧光分析

本实验将Pu238作为同位素激发源进行X射线荧光分析,利用其发射的X射线激发待测样品,测量样品中激发出的X射线能量,从而分析样品中的主要元素。实验中利用Si（Li）半导体探测器探测X射线,由Fe、Cu、Pb、Mo标准样品进行能量刻度,然后再测量未知样品分析其元素组成。     

熔融制样－Ｘ射线荧光光谱法测定锰矿石中的１４种组分

采用熔融制样,以Ｘ射线荧光光谱法（ＸＲＦ）实现了同时测定锰矿石中Ｍｎ、ＴＦｅ、ＳｉＯ_２、Ａｌ_２Ｏ_３、Ｋ_２Ｏ、Ｎａ_２Ｏ、ＣａＯ、ＭｇＯ、ＢａＯ、ＴｉＯ_２、Ｐ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｎｉ等１４种主次量组分。选择锰矿石国家标准物质、人工合成混合标样以及化学定值样品,通过灼烧减量校正建立校准曲线,解决了各类锰矿石中的多种组分的测定问题。探讨和分析了影响熔融条件的各种因素,获得了最佳的制备条件：样品与Ｌｉ_２Ｂ_４Ｏ_７ －ＬｉＢＯ_２混合熔剂稀释比例为１∶２０,加入０.１０ｇＮＨ_４Ｂｒ作脱模剂,０.３０ｇＮＨ_４ＮＯ_３ 作氧化剂,于７００℃预氧化５ｍｉｎ,１１００℃熔融时间８ｍｉｎ制备玻璃熔片。对锰矿石样品进行精密度考察,除了低含量的Ｎａ_２Ｏ的相对标准偏差（ＲＳＤ,ｎ＝１２）为８.９３％外,其他各组分测定结果的相对标准偏差均小于５％。将本文方法用于锰矿石样品的测定,结果与样品湿法测定值相一致。     

硬x射线望远镜主探测器的有限元分析

以硬X射线望远镜主探测器单体为研究对象,结合有限元基础理论研究,对探测器单体模型进行了简化;应用INVENTORIO软件和MSC．Patran＆MSC．Nastran有限元分析软件,建立了多种设计方案的有限元模型;通过对多个设计方案有限元计算结果的对比分析,对设计方案进行了评价,评价结果为硬X射线调制望远镜的设计和实验提供参考及理论基础．