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一、发生黑垫之机理与改善
1.1 黑垫的探讨
化镍浸金的焊锡性(Solderability)一向不错,不管板子经过几强热仍然非常好焊。然而焊锡性的优异,并不代表焊点强度(Solder Joint Strength)或后续之可靠度也就良好,ENIG的天生宿命正是最好的活例子。 相似文献
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拆除及贴装BGA/CSP芯片的基本步骤包括:建立温度曲线;拆除不良的芯片;清理准备焊盘;助焊剂或焊锡膏涂敷;回流焊接;检测。 相似文献
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电子产品无铅化的转变加速了对元件焊端镀层的无铅化研究,目前候选无铅镀层有纯锡、锡铋或锡铜合金。当然,Sn—Ag—Cu焊料和以上这些镀层结合而构成的焊点的可靠性是大家关注的重点。Sn—Ag—Cu焊料和元件焊端镀层若不相容会导致焊点变脆、强度降低、缺乏热疲劳抵抗力,特别在产品生命周期的后期。对焊点的可靠性影响尤为明显。在本中我们研究了由Sn-3.8Ag-0.7Cu焊料和不同的元件焊端镀层:纯锡、Sn-3Cu、锡铋合金(铋的重量百分比分别为1%、3%、6%)组成的SMT焊点可靠性。中给出了焊点金相分析、焊点老化前和老化后的引脚拉伸测试的试验结果,首次发表了SMT焊点加速热循环试验的结果,也提到了Sn—Bi和Sn—Pb镀层对波峰焊焊点可靠性的少量研究结果。通过我们的研究发现,所有试验元件的无铅镀层和Sn—Ag—Cu焊料构成的焊点性能至少和常规的锡铅焊点一样好。 相似文献
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文章主要在于明确可焊性、焊接能力和焊点可靠性三者之间的联系和区别,指出对它们进行评估和测试时其各自关注的主要特性和常见的评估和测试方法,同时简单介绍影响它们的关键因素。 相似文献
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波峰焊及再流焊无铅焊点组织演变规律的研究 总被引:5,自引:1,他引:5
以电子封装线上的波峰焊无铅焊点Sn-0.7Cu/Cu、回流焊无铅焊点Sn-3Ag-0.5Cu/Cu为对象,研究了150 ℃时效过程中无铅焊点处金属间化合物(IMC)、焊料合金组织的演化规律及界面处金属间化合物生长的动力学.试验结果表明:两种无铅焊点处IMC层的厚度随着时效时间的延长而增加,IMC层的生长基本上符合抛物线规律,因此IMC层的长大受元素扩散控制;且两种无铅焊点处IMC层的生长速率常数相近,但Sn-0.7Cu焊料中Sn的晶粒尺寸较Sn-3Ag-0.5Cu中的大;长期时效后,在试样的IMC层内发现有孔洞产生. 相似文献
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Sn-Ag-In系焊料的实用化与今后的课题 总被引:3,自引:0,他引:3
焊料合金低融点化是实现无铅化的关键技术。经研究表明,Sn-Ag-In系焊料在焊接可靠性方面能够满足要求,有广阔的应用前景。 相似文献
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Experimental Wettability Study of Lead-Free Solder on Cu Substrates Using Varying Flux and Temperature 总被引:2,自引:0,他引:2
Dong-Xia Xu Yong-Ping Lei Zhi-Dong Xia Fu Guo Yao-Wu Shi 《Journal of Electronic Materials》2008,37(1):125-133
The selection of soldering flux plays a critical role in promoting wetting and product reliability of printed circuit board
assemblies. In this study, the effects of fluxes on the wetting characteristics of the Sn-3.0Ag-0.5Cu solder alloy on Cu substrates
was researched by using various flux systems at different soldering temperatures. Because of the distinct characteristic of
the lead-free solder—poor wettability—three kinds of fluxes [no-clean flux with high solid content (NCF), rosin mildly activated
flux (RMA) and water-soluble flux (WSF)] were chosen for the wetting experiments. The wetting time and force were the evaluating
indicators. The experimental observations indicated that the wettability clearly depended on the soldering temperature and
flux system when using the same solder. Furthermore, the corrosion potential of flux residues was measured by surface insulation
resistance (SIR) testing. Scanning electron microscope (SEM) and energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) were used to determine
the contents of the flux residues and corrosion products. 相似文献