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本文用相对论多组态Dirac-Fock广义平均能级模型计算了可能成为激光工作物质的类氟AsXXV、SeXXVI、BrXXVII、KrXXVIII、RbXXIX、SrXXX、YXXXI和ZrXXXII的2s~2p~5、2e2p~6、2s~22p~43s、2s~2p~43p组态的各30个精细结构能级和54个3s-3p跃迁波长,大部分计算值都是本文首次预言的。 相似文献
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类氟CoⅪⅩ,NiⅩⅩ,CuⅩⅪ,ZnⅩⅫ,GaⅩⅩⅢ和GeⅩⅪⅤ精细结构能级和跃迁波长的相对论多组态Dirac-Fock计算 总被引:1,自引:0,他引:1
本文用相对论多组态Dirac-Fock广义平均能级模型(MCDF-EAL)计算了可能成为激光工作物质的类氟CoⅪⅩ、NiⅩⅩ、CuⅩⅪ、ZnⅩⅫ、GaⅩⅩⅢ和GeⅩⅩⅣ的2s~22p~5、2s2p~6、2s~22p~43s、2s~22p~43p组态的精细结构能级和若干3s-3p组态跃迁波长值。大部份计算值都是本文预言值。 相似文献
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本文用相对论多组态Dirac-Fock广义平均能级模型(MCDF-EAL)计算了可能成为激光工作物质的类氟ScXIII、TiXVI、VXV、CrXVI、MnXVII和FeXVIII的2s~2p~5、2s2p~6、2s~22p~43s、2s~22p~43p组态的精细结构能级和若干3s-3p跃迁波长值。预言了一些离子的3p组态能级和3s-3p跃迁波长值。 相似文献
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ThLXXXI、ULXXXIII离子2P~53l组态能级及2P~53l-3l’跃迁波长和振子强度计算 总被引:1,自引:0,他引:1
我们使用相对论多组态Dirac-Fock程序计算了ThLXXXI和ULXXXIII离子的2p~53l组态精细结构能级,以及2p~53l-3l′态跃迁波长和振子强度.计算结果表明,ThLXXXI、ULXXXIII离子在激光等离子体中能够产生波长λ<0.3mn软X射线相干辐射.这是天然最重的稳定元素类氖离子2p~53l组态能级跃迁所能产生的最短相干辐射波长值. 相似文献
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Excitation cross sections for some of the2p^{4} - 3p upper laser states of neon and4p^{4} - 5p states of krypton have been calculated by assuming a fast electron strips away one of the bound valence electrons of the neutral atom in a very short time compared to the relaxation of the ion. Exact wavefunctions for the upper laser states of neon II and krypton II in terms of pureLS wavefunctions are found. 相似文献
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用高温熔融法制备了Tm3+/Ho3+共掺碲酸盐玻璃(TeO2-ZnO-Na2O),根据测量得到的吸收光谱,应用Judd-Ofelt理论计算分析了玻璃样品中Ho3+离子的强度参数Ωt(t=2,4,6)、自发辐射跃迁几率A、荧光分支比β和荧光辐射寿命τrad等各项光谱参数。同时,测量得到了不同Ho3+离子掺杂浓度下玻璃样品的荧光发射谱。结果显示,在808nm抽运光激励下Tm3+/Ho3+共掺碲酸盐玻璃样品发射出较强的2.0μm中红外荧光。分析表明,较强的Ho3+离子中红外荧光来自于Tm3+/Tm3+离子间共振的能量传递过程,以及Tm3+/Ho3+离子间基于零声子和单声子辅助非共振的两部分能量传递过程。由此进一步计算得到了Tm3+/Tm3+、Tm3+/Ho3+离子间的能量传递微观速率、临界半径和声子的贡献。最后,计算分析了Ho3+…5I7→5I8能级间跃迁的2.0μm波段吸收截面、受激发射截面和增益系数。研究表明,Tm3+/Ho3+共掺TeO2-ZnO-Na2O玻璃可以作为2.0μm波段中红外固体激光器的潜在增益基质。 相似文献
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测定了室温下Na5TbxEu1-x(MoO4)4的发射光谱。发现随x的增加,Tb^3+离子546nm(^5D4→^7F5)的荧光发射亦随这增加。同时观察到,当x>0.7时,发光相对强度变化会出现突变。 相似文献
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研究了室温下 NdP_5O_(14)晶体中 Nd~(3+)的4F_(3/2)态的荧光寿命。观察到高泵浦强度下影响光学增益的荧光双指数衰减曲线。从能量传递过程进行理论分析。简单描述了脉冲若丹明6G 激光器选择泵浦的τ计。 相似文献
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主要回顾了近年来有关Ag3PO4合成与表征方面的研究进展。通过较全面的综述,使人们对该材料的发展现状有了较为直观的认识。首先,介绍了光催化剂的工作原理、类型、应用以及发展态势等。总结并分析了国内外在Ag3PO4领域较为活跃的研究小组的最新研究成果。其次,简单介绍了Ag3PO4光催化剂的主要合成方法,并比较了这些方法的优劣。最后,展望了Ag3PO4的应用前景,并分析了当前研究中尚待解决的一些问题。并针对其提出了一些改进措施,包括在合成过程中添加表面活性剂以提高产物的比表面积、对产物进行表面包覆以增强稳定性或与TiO2复合以降低成本等。 相似文献
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本文在流动余辉装置上,研究了亚稳态H2(2^3S)原子与N2H4分子碰撞传能,观察到了激发态产物NH(A^3п→X^3∑^ )、NH(c^1п→a^1△)、NH2(A^~A1→X^2△B1)的发射光谱,由相对光谱强度求得了形成各产物的通道比;分析NH(A^3п,v′=0)的转动分辨谱的结果表明,v′=0能级上的转动布居是“双模”分布,激光态产物NH(A)、NH2(A)的形成机理可能是:He(2^3S) NH2H4 N2H4→NH2H4^*→NH(A) NH2(A) H。 相似文献
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Dutta S. Jackson H. Boyd J. Davis R. Hickernell F. 《Quantum Electronics, IEEE Journal of》1982,18(4):800-806
Significant reductions in the optical scattering losses of Si3 N4 , Nb2 O5 , and Ta2 O5 waveguides fabricated on SiO2 /Si substrates have been measured following CO2 laser annealing. The largest improvements were observed for Si3 N4 waveguides, where waveguide attenuation values of about 6.0 dB/cm before laser annealing were reduced to as low as 0.1 dB/cm afterwards. An improvement of more than an order of magnitude was obtained for a Nb2 O5 waveguide upon laser annealing, the attenuation coefficient decreasing from 7.4 to 0.6 dB/cm. In the case of one Nb2 O5 waveguide no improvement was obtained upon laser annealing. The attenuation coefficient of a reactively sputtered Ta2 O5 waveguide was found to decrease from 1.3 dB/cm before laser annealing to 0.4 dB/cm afterwards. In the case of a thermally oxidized Ta2 O5 waveguide a small initial improvement in waveguide attenuation was followed by degradation upon further laser annealing. 相似文献
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Mengkai Li Zhuo Wang Changlong Liu Junqi Liao Yanyan Shen Lili Zhang Bing Yuan 《Journal of Electronic Materials》2009,38(9):1990-1994
n-Type Si(100) wafers with a thermally grown Si3N4 layer (∼170 nm) were sequentially implanted with 160 keV He ions at a dose of 5 × 1016 cm−2 and 110 keV H ions at a dose of 1 × 1016 cm−2. Depending on the annealing temperature, surface exfoliations of two layers were observed by optical microscopy and atomic
force microscopy. The first layer exfoliation was found to correspond to the top Si3N4 layer, which was produced at lower annealing temperatures. The other was ascribed to the implanted Si layer, which was formed
at higher temperatures. The possible exfoliation processes are tentatively discussed, and potential applications of such phenomena
are also suggested. 相似文献