底片黑度对射线照相灵敏度的影响

射线探伤是以射线照相底片来评定探伤结果的，底片质量是射线探伤的核心要素。影响底片质量的因素有多种，就其中一个因素底片黑度展开探讨，揭示底片黑度对射线照相灵敏度的影响。     

黑度对射线照像底片质量的影响

射线探伤是以射线照像底片来评定探伤结果的。因此，底片质量直接影响检测结果。影响义片质量的因素较多，本文仅就黑度对底片质量的影响进行研究，并对最佳黑度范围等问题进行探讨。     

射线底片评定中需注意的几个问题

1射线底片评定需注意的几个问题，射线检测是承压类特种设备检验的一种重要手段，下面就射线底片评定中需注意的几个问题谈谈笔者自己的想法。     

焊缝射线底片质量分级微机系统

用电脑代替人工进行焊缝射线底片质量分级是目前国际上一大研究热点，本文介绍了微机焊缝射线底片分级系统的硬件系统以及软件模块。     

工业射线底片减薄与加厚的原理及方法

通过对射线底片减薄和加厚方面的一些资料分析，介绍了几种处理工业射线照相底片的方法，可以降低或提高底片的黑度，而不损伤底片的质量，并通过科学实验，取得了宝贵的数据和经验。详细描述了实验中的现象，总结了操作中应该注意的事项，还给出了各种化学药品的特性，便于一般人员的学习、识别和操作。     

特殊情况下射线底片的补救办法

介绍一种特殊情况下射线底片的补救办法     

射线底片快速标识方法

射线底片透照部位的标识是重要的组成部分,能充分反映底片信息。本文介绍了一种用于射线底片快速标识的方法,阐述了该方法的设计要点,使用该方法后可大大提高底片的标识效率。     

X射线照相底片复制技术

自制了底片复制曝光箱，进行了X射线照相底片复制试验，成功地复制了熔焊缺陷图谱所用的底片。     

射线底片上伪缺陷的识别与消除

本文介绍了射线底片上伪缺陷形成原因、识别及及消除方法。     

不应忽视的射线底片质量问题

介绍射线检测中常出现却被忽视的底片质量问题，以及如何监督检查。     

加速底片水洗干燥小技巧

射线底片的常规冲洗方法是将定影后的底片放人流动的水中冲洗，冲洗的效率和效果与冲洗用水的净度、水温、水流量以及被冲洗底片的数量有关。一般当温度在16℃以下时，冲洗过程较缓慢；当温度在30℃以上时，冲洗完成的时间相对较短。为使底片水洗时间缩短，以便及时评片，笔者做了许多尝     

薄板射线照相的最佳黑度

研究了薄板平焊缝在不同条件下Ｘ射线照相底片黑度与射线照相灵敏度之间的关系，发现通过实验方法可以确定不同厚度的平焊缝达到最高灵敏度时底片的黑底范围。     

提高自动洗片机底片处理稳定性的研究

针对自动洗片机处理X射线胶片时出现的底片质量不稳定现象,分析了导致底片质量不稳定的原因,得出显影温度对底片黑度影响较大.通过试验得出显影温度与底片黑度的关系曲线,对提高采用自动洗片机处理的X射线胶片质量有一定的指导意义.     

高温合金叶片常见缺陷的射线检测

对铸造高温合金叶片射线检测底片常见缺陷进行分析，并对黑白线和衍射斑纹异常显示进行研究，射线底片上的黑白线显示原因为型芯不连续，即型芯断裂或型芯错位，型芯不连续随射线束透照角度变化在底片上可能会呈现白线、黑线或黑白线共存的显示；衍射斑纹是等轴晶叶片经常出现的一种影像，可通过改变透照电压或改变射线束透照角度进行识别。通过对射线底片黑白线显示和衍射斑纹影像的形成原因进行分析，并通过相应的确认方法进行影像判别，能够对射线底片影像准确定性，为射线检测员的准确判断提供指导意义。     

射线探伤工艺和曝光条件最佳化的讨论

1 影响射线底片质量的因素分析在无损检验领域里,射线探伤是最直观的内部质量检验手段,但由于其本身的工序繁杂,且投入的成本较高而受到限制.因此,人们一般从提高底片质量的角度出发,尽量减少重拍、废片等情况,从而相对减少人力物力的损耗,提高射线探伤的利用率.为此,本文就影响底片质量的主要因素进行分析.1.1 从理论的角度进行分析如图1所示     

工业X射线底片数字化存储管理系统

重点阐述了工业Ｘ射线底片数字化存储管理系统的构成、原理、特点以及发展前景。     

X射线照相底片数字化处理中信息损失分析

结合目前X射线照相底片的信息化处理方法，针对底片处理效果，分析了底片在扫描阶段的信息损失原因，提出了改善扫描效果的方法。     

X射线底片假彩色编码

利用白光信息处理系统,对X射线底片采用空间频率假彩色编码技术处理,使射线底片假彩色化,以提高对缺陷的辨认能力.     

钛合金压力容器焊缝X射线照相灵敏度影响因素分析

通过大量工艺试验,较系统地分析了影响钛合金压力容器焊缝X射线照相灵敏度的各个因素。研究结果表明:在诸多因素中,底片黑度、底片对比度、影像不清晰度、颗粒度是影响X射线照相灵敏度的主要因素。在优化探伤工艺后所透照的X射线底片,其灵敏度和清晰度已完全达到了X射线标准。     

用^75Seγ射线透照小管径对接焊接接头

对小管径管道的射线探伤采用了^75Seγ射线,^75Se放射源能量较低符合射线探伤的工艺要求而且^75Se射线在小径管射线透照中具有较高的灵敏度和较好的宽容度,使小管径管道的透照时间缩短,提高了工作效率;而且降低了散射线的影响,降低了射线底片的灰雾度,提高了底片的成像质量,使底片的对比度、灵敏度和清晰度符合标准要求,可获得理想的射线底片质量,有效地检出焊缝内部缺陷。