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运行温度对 NbTi 管内电缆导体瞬态稳定性的影响实验研究与分析 总被引:2,自引:5,他引:2
在SULTAN测试设备上进行了含分离铜股线NbTiCICC在不同温度裕皮下的瞬态稳定性的实验研究,应用脉冲场对样品的高场区的中心段(长度是390mm)进行感应加热,发现设计的含分离铜股线CICC有很强的抗磁扰动能力,该文分析了这个现象的原因,研究了股线上的运行温度对稳定性的影响并对3个CICC导体进行稳定性差异分析,通过理论计算,对理论计算值和实验测量值进行了比较,为HT-7U纵场和极向场NbTi CICC的运行温度的选择提供实验依据。 相似文献
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通过对两种不同尺寸、不同磁导(P_c=0.26和P_c=0.57)的磁体进行分析,考察在最高工作温度下长时间保持的耐久性能,即实验前后的磁体开路磁通变化、材料磁性能变化以及磁体的温度系数。实验发现,同样性能(牌号)、但不同磁导的磁体在磁路中所处的工作点不同,抗热退磁能力也不同,即使经历相同的实验条件,磁性能下降也不同。相对于P_c=0.26的样品,P_c=0.57的样品其热稳定性和抗热退磁能力更好,即使长时间的高温作用,仍然保持较高的磁性能。这不仅对电机设计提供了指导,同时为电机设计时校核磁体退磁风险提供依据和参考。 相似文献
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采用磁控溅射的方法在300℃下,分别在热膨胀系数相差较大的玻璃和NaCl单晶基片上沉积了Cr_(90)Ru_(10)(002)/Rh(002)/Fe_(40)Co_(60)(002)/Rh多层膜,以研究热应力对FeCo薄膜的磁晶各向异性能的影响。对样品进行X射线衍射(XRD)分析,研究了薄膜的外延生长关系。通过计算样品磁滞回线的面积得到了样品的磁晶各向异性能。实验结果表明,沉积在NaCl基片上的FeCo薄膜的厚度在1 nm、2 nm时磁晶各向异性能的值高达1.2×10~7 erg/cm~3,较大热应力的引入对于提高磁晶各向异性能有显著的效果。 相似文献
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《高电压技术》2020,(6)
直流偏磁下,变压器励磁电流畸变,损耗显著增加,导致变压器局部过热甚至绝缘老化。为研究直流偏磁对铁芯铁磁材料磁特性的影响,在经典Jiles-Atherton(J-A)理论基础上,依据损耗分离理论,建立了动态J-A模型。利用优化算法与损耗分离理论分别辨识与计算未引入直流偏磁量的静态模型参数和动态损耗系数,并通过仿真结果与实测数据对比,验证了模型的准确性。搭建电工钢磁性能测试系统,获得不同直流偏磁条件下电工钢的损耗及磁性能数据,并用于分析直流偏磁量对磁滞损耗、动态损耗的影响规律。基于分析得到的规律,提出一种对不同偏磁条件下铁磁材料的磁滞回线及磁损耗进行预测的新方法。对比预测结果与实验结果,发现二者拟合较好,验证了该方法的正确性和有效性。 相似文献
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直流偏置磁场会造成磁致伸缩材料磁滞回环的畸变与不对称,影响材料的损耗数值与磁滞特性,且现有的磁能损耗模型无法对变直流偏置磁场下的损耗进行准确的表征和计算,因此有必要研究直流偏置对磁致伸缩材料磁特性的影响规律及数学表述,这对提高大功率磁致伸缩器件的输出性能具有重要意义。该文在变直流偏置激励条件下,测试了Terfenol-D样品在不同交流激励频率和磁通密度幅值下的动态磁滞回线,发现了其变化规律并提取了损耗特性和磁滞特性参数;基于Bertotti损耗分离理论和实测数据,采用Levebverg-Marquard算法,建立计及直流偏置影响的磁致伸缩材料高频损耗计算模型,该模型采用多元参数回归方法,通过引入直流偏置相关项对损耗系数进行修正;多种工况下的损耗计算值与实验值对比分析表明了计及直流偏置影响的磁致伸缩材料高频动态损耗特性模型的准确性。 相似文献
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为了研究复合纳米TiO_2材料的磁电阻特性,通过磁控溅射方法和原位退火工艺制备了Co掺杂TiO_2薄膜样品。利用X射线衍射仪和扫描探针显微镜观测薄膜样品的微结构特征,利用振动样品磁强计和多功能物理性质测量系统测试样品的磁特性和磁电阻。结果表明,Co掺杂量对TiO_2薄膜的磁电阻特性有重要影响:磁性金属含量较高的薄膜样品出现较大的磁电阻,磁电阻峰值为-14%,峰值温度为250K;磁性金属含量较低薄膜样品具有较小的磁电阻值;由于Co掺杂影响了薄膜的微结构和导电性,导致出现了特殊的磁电阻效应。 相似文献
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对软磁材料的设计和应用来说,磁性参数测试的精确性至关重要。软磁材料测试条件各异,加上材料磁特性的非线性、不可逆性及对温度的敏感性,使得磁参数测试存在一定的偏差。选取适用频率范围较宽的功率铁氧体PC50磁环样品,通过对不同频率f及磁感强度Bm下的损耗测试过程中样品的温升进行监测,考查了磁芯损耗测量过程中不同励磁条件对样品温升的影响。结果分析发现,温升与测试时间、励磁信号的强度和频率呈正相关;根据损耗分离公式通过最小二乘拟合得出其函数关系式。拟合结果与实测数据对比表明该拟合方法可行,由此可估测任意测试条件下的样品温升,在测试前对可能因此引起的误差作出初步判断。 相似文献