用剪切干涉仪检验非球面一种新方法

本文详细讨论了二次曲面横向剪切理论干涉图形,并在棱镜剪切干涉仪获得的白光剪切干涉图形上验证了与理论讨论的一致性。本方法具有简单易行等优点。文后附录提供了所用棱镜剪切干涉仪的制做技术要求。     

平行光束中消球差二次非球面的设计、加工与检验

一、前言在光学系统中采用非球面的光学另件,它的性能将得到显著改善,这是许多人都知道的事。在无限多种非球面中,二次非球面(抛物面、椭球面、双曲面等)占特别重要的位置。很早以前牛顿等人在反射望远镜中的主镜和副镜就采用了二次非球面,这些都是很有名的范例。直到今天,在天文仪器中,大口径准直管;光谱仪及优质聚光镜等都使用了二次非球面。由于二次非球面的特殊性,它提供了完善的检验方法,采用古典加工工艺,就能得     

一种新型光学非球面──渐开非球面

本文推导了一种新型光学非球面──渐开非球面的一般方程式。并分析介绍了它的几何特性、象差特性和工艺特性。它在光学系统中有良好的实用价值。     

非球面透镜的加工

一、概述: 在光学系统中,采用非球面不仅可以简化光学仪器的结构,而具有利于像差的矫正,提高光学系统的成象质量。由于非球面光学零件加工困难,工艺尚未成熟,至今没有得到广泛的应用。非球面加工其所以复杂是由于它的一系列特性所决定的,例如,非球面大多数可有一个对称轴,其表面比较复杂,一般只能单件加工。非球面曲面各点曲率不同,在抛光时难以修     

非球面的光学测试技术

介绍非球面及其相关知识，讨论了非球面光学检测的研究现状．按照测量原理的不同，对干涉法、阴影法、激光扫描法等几类典型的非球面测试技术进行了分析．通过比较各种方法的优缺点和适用范围，提出了在线检测小型非球面的研究方向．     

光学非球面度的探讨

非球面度是描述非球面光学零件的重要参数,其值大小将影响到采用的加工方法、加工量的大小等.本文分析了几种非球面度的定义,研究了不同定义方法对采用计算机控制光学表面成形法指导加工的影响,从光学零件加工的角度探讨了光学非球面度的合理确定.     

非球面面形检测系统

<正>由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度测量。涵盖光学/光电研究院所、光学/光电子元器件生产企业等应用领域。开发具有独立知识产权的非     

非球面光学面形检测仪

该仪器采样相移式横向剪切干涉技术，是一种数字波面测试技术，其原理是将相干两个剪切波面中的一个波面作阶梯式或连续变化，从而使干涉场中的干涉条纹作阶梯式或连续式扫描，用CCD相机获取干涉场中各点的光强，利用图像中各点光强的变化关系，求出被测波面的位相信息或波面面形．由于横向剪切干涉技术是利用被测波面自身实现干涉的，不需要标准的参考面，测试装置简单，测量速度快，测量精度高，且可以实时对剪切干涉图进行采集与处理，得到被测原始波面的信息．     

非球面面形检测系统

正由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度测量。涵盖光学/光电研究院所、光学/光电子元器件生产企业等应用领域。开发具有独立知识产权的非     

非球面面形检测系统

正由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度测量。涵盖光学/光电研究院所、光学/光电子元器件生产企业等应用领域。开发具有独立知识产权的非     

非球面光学面形检测仪

该仪器采用相移式横向剪切干涉技术，一种数字波面测试技术．其原理是将相干两个剪切波面中的一个波面作阶梯式或连续变化，从而使干涉场中的干涉条纹作阶梯式或连续式扫描，用CCD相机获取干涉场中各点的光强，利用图像中各点光强的变化关系，求出被测波面的位相信息或波面面形．由于横向剪切干涉技术是利用被测波面自身实现干涉的，不需要标准的参考面，测试装置简单、测量速度快、测量精度高，且可以实时对剪切干涉图进行采集与处理，得到被测原始波面的信息．     

非球面面形检测系统

<正>由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快     

非球面面形检测系统

正由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度测量。涵盖光     

非球面面形检测系统

正由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度测量。涵盖光学/光电研究院所、光学/光电子元器件生产企业等应用领域。开发具有独立知识产权的非     

非球面Ronchi检测的误差分析

为了较高精度地检测大型非球面面形,需要分析检测装置对测量误差产生的影响。基于Ronch i检测法,将正弦光栅代替Ronch i光栅应用在非球面反射镜的检测上,采用同步相位探测技术和几何原理获得所有被测点的面形偏差梯度信息,然后利用区域波前重构法恢复面形偏差,进而重建被测面形。利用此方法首次分析了叠栅条纹图、非球面度、光栅对比度对重建被测面形的影响。数值结果表明,条纹图的重叠和光栅的对比度均对非球面的检测精度有影响,重建面形误差随着被测面形非球面度的增加而增大。对测量误差的分析可为Ronch i检测装置的设计提供有效、可靠的依据。     

非球面光学系统偏心计算程序

一、原理在球面光学系统里,若其偏心了,进行象差计算时,一般是采用坐标平移的方法,即把球面偏心后,面倾角对应的球心偏离量,加到光线入射点原来的坐标上。对于非球面,若其偏心了、仅考虑坐标的平移是不够的,一般情况是平移加旋转。坐标平移后,一点M(x、y、z)对新轴的坐标:     

一种检测非球面的崭新方法

根据特殊阴影法──小孔法原理，研制了一种检测非球面的装置，并进行了一些实验．实验结果显示，这种崭新的方法具有简单易操作的优点，并能定量地测量较大口径的非球面．     

检测非球面的准万能补偿器设计

本文利用法线象差补偿法〔１〕检测非球面面形的理论，研究了准万能补偿器的设计方法。根据Ⅲ级象差理论〔２〕，通过一实例计算并用光学设计软件优化得到一组准万能补偿器的透境结构参数。该补偿器可用于泰曼——格林干涉仪中，检测一定范围的抛物面、椭圆面和双曲面，其补偿精度达到０．０１λ     

光学非球面先进制造关键技术的探讨

在光学制造领域计算机控制技术的发展促进了非球面先进制造技术的不断进步。使用计算机控制光学表面成形法、计算机控制应力盘抛光技术和磁流变抛光技术可以实现高精度的非球面加工,其关键在于计算机数字控制技术的综合运用。提出了光学非球面的固着磨料研磨加工。