可编程ASIC技术─现代电子系统设计的新潮流

介绍了可编程ASIC的现状与发展，论述了可编程ASIC的选择和开发步骤。在可编程ASIC的开发中，层次结构化设计的广泛采用。最后对TOP─DOWN和BOTTOM─UP设计方法作简要介绍。     

ASIC验证技术

描述ＡＳＩＣ验证方法和过程，有助于ＡＳＩＣ设计者对验证的认识。模拟是验证ＡＳＩＣ并产生测试矢量的唯一途径，设计者可以对ＡＳＩＣ芯片或者在ＡＳＩＣ应用系统中进行功能和时序模拟。     

可编程ASIC发展新趋势

20世纪80年代专用集成电路ASIC以其体积小、性能高、成本低的优越性得到了广泛的发展。进入90年代后,伴随着铜微处理器、硅芯片技术的发展,可编程ASIC 在体积与性能上得到了更加良好的体现。◆ ASICASIC（Application Specific Intergrated Circuits）即专用集成电路,是指应特定用户要求和特定电子系统的需要而设计、制造的集成电路。目前用CPLD（复杂可编程逻辑器件）和FPGA（现场可编程逻辑阵列）来进行ASIC设计是最为流行的方式之一,它们的共性是都具有用户现场可编程特性,都支持边界扫描技术,但两者在集成度、速度以…     

ASIC的可测性设计

随着ＶＬＳＩ的发展，可测性将成为芯片设计的主要依据。本文论述了ＡＳＩＣ可测性设计的三种方法，并对三种方法作出了比较，最后给出了一个实用的可测性设计环境下ＴＥＮ。     

现场可编程模拟ASIC与电子系统设计

以MPAA020为例，介绍了Motorola公司现场可编程模拟阵列的技术基础、基本结构、相应的开发软件及其在模拟电子系统设计中的重要作用。     

ASIC硬件仿真技术

本文阐述了硬件仿真原理和方法，以一个ＡＳＩＣ设计为例，重点描述了硬件仿真应用过程中的几项技术，分析了实际应用效果。     

ASIC器件热设计

本文利用数值传热学基本原理,开发了通用ASIC器件流场及温度场计算程序,在此基础上,对ASICK顺件的热设计技术作定量分析,给出了器件相关结构因素与内热阻之间的定量关系。     

ASIC技术及设计方法

本文首先阐述了ASIC的概念及其分类。然后着重介绍了ASIC设计中有关门阵列的设计和开发过程以及所使用的CAD工具。接着介绍了国外两家ASIC器件制造公司有关门阵列的典型开发过程,最后讨论了ASIC技术的未来发展。     

专用集成电路知识介绍（九）：ASIC的测试

在ASIC的工艺制作过程中,会因各种缺陷而造成器件失效。例如栅氧化层的针孔;多晶硅、扩散区或金属连线的短路或开路;接触孔缺陷、沾污以及芯片的晶体缺陷等。此外,还有设计失误,如门的输出驱动能力不够等。显然,对于这些失效器件,必须通过芯片测试和成品测试检测出来。 过去在测试规模不太大的IC时,测试图案一般由人工生成。但随着电路复杂程度的增加,完全由人工生成测试图案实际上已不可能,因此逐渐被自动生成方法所代替。即便如此,由于其对测试设备的高标准要求以及开发测试程序所需费用的大量增加等因素,仅靠自     

VITAL——设计ASIC模型的VHDL基准

ＶＩＴＡＬ是ＩＥＥＥ新近制定的一个用ＶＨＤＬ建立ＡＳＩＣ模型库的基准，它为ＡＳＩＣ库的建立，电路设计的描述提供了便利的，格式相对固定的描述方法，并为提高模拟性能提供了依据和基础，本文介绍ＶＩＴＡＬ的基本内容，并介绍用ＶＩＴＡＬ描述电路模型的方法。     

一种实用的ASIC设计方法

本文重点介绍了一种实用的以个人电脑(PC机)为开发平台来实现中大规模ASIC电路的设计方法与开发流程。     

一种消除无效操作降低ASIC功耗的设计技术

低功耗设计是当前ASIC研究的热点。本文提出了一种简单的功耗估算模型，针对流水线结构设计了一种工作标志控制单相和双相时钟的机制，消除无效操作以降低ASIC的功耗，并讨论了异步流水线设计的有关问题。     

ASIC设计工具浅谈

本文介绍了我所用于 ASIC 设计的 COMPA 系统软硬件配置情况,并介绍了门阵列自动设计系统、标准单元和积木块自动设计系统的工作流程。     

《促进美国ASIC发展的功臣—MOSIS》

本文以作者在美国从事三年专用集成电路(ASIC)设计与 MOSIS交往的实际体会介绍了美国 MOSIS 机构为推动 ASIC 发展所提供的各种服务及其重大贡献。     

针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术

本文提出了一种简洁有效的，针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术，可消除部分不可测故障，提高故障覆盖率。     

Fuzzy Logic Control ASIC Chip

A fuzzy logic control VLSI chip,F100,for industry process real-time control has been designed and fabricated with 0.8μm CMOS technology.The chip has the features of simplicity,felexibility and generality.This paper presents the Fuzzy control inrerence method of the chip,its VLSI implementation,and testing esign consideration.     

ASIC对测试技术的挑战

本文介绍和分析了当今ASIC发展引起的各种测试难题及其解决办法，包括可测性设计，测试码生成及ASIC测试系统。强调了ASIC的CAT和CAD相结合的发展方针。