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《电子质量》2015,(2):69
具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法.以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势 相似文献
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《电子质量》2012,(3):89
具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势 相似文献
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《电子质量》2013,(11):63
具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势文章,从而深入剖析目前行业内的重点技术,找到市场与技术的结合点。 相似文献
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《电子质量》2015,(4):59
具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势文章,从而深入剖析目前行业内的重点技术,找到市场与技术的结合点。 相似文献
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钟锋浩 《电子工业专用设备》2014,(3):48-51
集成电路测试系统对测试精度、测试速度、测试功能等方面提出了越来越高的要求,测试系统并行测试和乒乓测试结合可以更好地利用现有的硬件资源,最大限度地提高系统的测试效率,降低测试成本。针对CTA8280测试系统结构、关键技术、应用案例进行分析介绍。 相似文献
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本文对超宽带无线电设备可能涉及到的测试内容进行了全面的介绍,包括区域性法规测试、辐射性能测试、空中控制测试、一致性测试、互联互通测试、环境性能测试,并对各个测试内容所涉及到的测试平台进行了介绍. 相似文献
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为了解决高低温环境测试中测试时间长,设备利用率低,数据记录数据量大等一系列测试问题,提出了基于C#和软件自动化测试理论的高低温自动化测试系统。该系统采用C#软件开发,利用计算机通信和控制技术,通过对测试设备和测试流程的自动控制,在保证测试安全、准确的前提下完成整个高低温测试实验,自动记录测试数据,并在测试结束后自动得出测试结论,达到了提高高低温箱测试利用率及减少测试浪费的目的。 相似文献
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针对数字微流控生物芯片阵列的并行测试过程进行建模,利用测试时间和所需检测测试液滴个数来衡量测试成本,并利用成本函数给出最优的并行测试分块方法.通过matlab分析表明:对任何规模的芯片阵列,其测试成本随着分块数的增大呈先减少后增大的趋势,而成本的最低点就是最优的并行测试分块方法.另外,在并行测试分块数小于测试成本最低点所对应的测试分块数时,测试成本随着测试时间在测试成本中所占的比重的增加而增大,随着测试所需测试的液滴数的增大而减小.而并行测试分块数大于测试成本最低点所对应的测试分块数时,测试成本随着测试时间的比重地增加而减小,随着所需测试的液滴数的增加而增大.这些结论给并行测试的优化提供了重要了依据和指导. 相似文献
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可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高。为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化,测试向量数量减少。经实验验证,运用优化后的测试矩阵进行测试可以有效缩短测试时间,提高测试效率,降低测试成本。 相似文献
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为了提高调制解调器测试效率,提出了一种调制解调器自动化测试系统的设计方案。分析了调制解调器自动化测试需求,进而对自动化测试系统设计中的关键技术进行了详细的讨论;最后,对构建的测试平台进行了验证测试。结果表明,自动化测试较人工测试大幅缩减测试时间,能有效满足调制解调器研制生产的测试需要。 相似文献
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基于TCG图和模拟退火算法的SoC测试调度 总被引:1,自引:0,他引:1
为了降低系统芯片测试成本,需复用IP的测试电路和测试矢量,过去几年已经涌现了许多新型测试结构.测试包和测试轨由于其结构简单,已经广泛应用于系统芯片的测试方案中.但基于测试包和测试轨的测试调度算法复杂度很高,难以获得测试调度的最优解,从而降低了测试效率.本文提出了基于传递闭合图(Transitive Closure Graph)的测试调度表示法,该表示法符合P-admissible准则,使组合优化算法适用于SoC测试调度问题.最后本文用模拟退火算法来优化测试调度,实验结果表明此算法调度的测试时间要比报道的结果都好. 相似文献
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详细介绍了EPC测试挑战和IXIAEPC测试解决方案。主要测试包括LTE网络测试、UMTS和IMS测试、用真实的用户模型测试性能。 相似文献
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介绍了基于TestStand软件对DDS特性参数进行自动化测试的流程管理.DDS测试参数包括常规参数和特性参数,常规参数由普通的专用测试设备即可测试,而特性参数由于测试项目繁多,测试要求高,采用普通的测试设备难以测全所有参数,且精度难以保证,通过外接高性能专用仪器对其测试是比较好的测试方案.由此带来的问题是测试资源杂多,需要一个统一的测试管理平台,对测试资源和测试流程做统一的测试管理.TestStand软件是一款非常优秀的测试管理软件.应用TestStand软件对DDS复杂的自动测试流程进行管理,方便了测试开发过程,极大地提高了测试开发效率. 相似文献
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有线数字机顶盒是进行数字化转换的主要终端设备,在国内已经得到大规模的普及使用。有线数字机顶盒在入网时射频接收、视频指标、音频指标等都必须符合国家相关技术标准和网络要求后才能下发到网络中使用。其中射频接收测试包括调制方式测试、频率范围测试、频率捕捉范围测试、符号率范围测试、接收电平范围测试、解调门限测试、抗微反射(E/D)能力测试、抗频率抖动能力测试、抗同频单频干扰能力测试、抗脉冲干扰能力测试、抑制邻频道模拟信号干扰能力测试、抑制邻频道数字信号干扰能力测试、输入、输出反射损耗测试以及LNB环通输出频响测试和本振泄漏测试。 相似文献