浅谈CMOS集成电路的IDDQ测试

介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法,CMOS IC本质上是电流可测试的,IDDQ测试可有效地提高产品质量,降低芯片生产价格,并且它对失效响应分析(FEA)是非常有用的。     

IDDQ测试方法的研究与实现

ＩＤＤＱ测试是当前倍受国内外业界人士关主的一种新的ＣＭＯＳ集成电路测试方法的技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试ＣＭＯＳ电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早斯失效器件。ＩＤＤＱ测试的关键技术是测试向量自动生成及高效的测试实现技术。     

Guest Editor's Introduction: ITC Examines How Test Helps the Fittest Survive

The theme of the 2005 International Test Conference is “Test: Survival of the Fittest.” In conjunction with this year's ITC, this special section examines how test helps the fittest of the industry's chips, boards, and systems survive manufacturing to reach its customers. These articles discuss topics such as X-tolerant test response compaction, reducing yield loss using a constrained ATPG, and using IDDQ testing with today's high background currents.     

基于脉冲漏磁原理的涂覆层下腐蚀缺陷检测

脉冲漏磁检测技术在铁磁性板材、管道的裂纹、腐蚀等缺陷的检测方面有很大的优势.但是由于腐蚀类缺陷产生的漏磁信号非常微弱,导致常规的对称励磁结构型脉冲漏磁传感器对不同程度的腐蚀缺陷的检测灵敏度不高.为解决这一问题,提出一种新型非对称励磁结构型传感器.并利用有限元分析以及实验的方法验证了新型非对称励磁结构型传感器对无涂覆层以...     

Manufacture of microfluidic chips using a gap-control method based on traditional 3D printing technique

The solution to the commercialization of polymer microfluidic chips lies in the development of a low-cost and concise method. We present in this paper a gap-control method for obtaining low cost microfluidic chips on PMMA (polymethyl methacrylate) sheets based on traditional 3D printing technique—fused deposition modeling. The influence of 3D printing parameters such as printing temperature, printing speed, wire flow rate and initial layer thickness on printing quality is studied by experiments. The effect of O₂ plasma parameters such as chamber power and treatment time on the adhesion strength between printed PLA (polylactic acid) structures and PMMA substrate is investigated. The dye filling tests demonstrate that there is no blocking or leakage over the entire microchannels. With this newly developed technology, low-cost and large scale microfluidic chips can be fabricated, which allows commercial manufacturing of microchannels over large areas.

     

基于组态的管道泄漏检测系统研究与应用

提出了采用模块嵌入式基于组态的输油管道泄漏诊断方法;将泄漏诊断模块嵌入到SCADA组态系统中,为了高速获取实时数据信息,采用DDE数据交换技术直接从PLC服务器中读取远程各站点管道参数信息,通过泄漏检测程序判别泄漏及定位,并将结果写入组态进行声光报警;实践证明,该系统定位精度高,开发成本低,移植性好,已成功应用在实际输油管线上,并取得了良好的效果.     

多源融合信息泄漏检测方法

密码设备的侧信息泄漏检测是侧信道分析中的重要技术环节,旨在客观地评估密码设备的物理安全性。不同类型的侧信息在密码设备运行过程中同时存在,仅仅从单源侧信息的视角进行信息泄漏检测难以全面反映密码设备的真实泄漏威胁情况。因此,发展基于多源侧信息的融合信息泄漏检测方法,建立综合利用多源侧信息的泄漏检测方法体系,以期实现对密码设备物理安全性更全面、更客观地评估,是一种现实技术需求。本文基于如何融合利用多个信道的侧信息提出了3种多源融合信息泄漏检测方案：多源简单融合信息泄漏检测、多源时频融合信息泄漏检测以及基于多元T检验的多源信息泄漏检测。其中,多源简单融合信息泄漏检测在时域上组合利用多个信道的侧信息;多源时频融合信息泄漏检测综合利用了多个信道侧信息的时域信息及频域信息;基于多元T检验的多源信息泄漏检测基于多元假设检验方案构造。对比单源的信息泄漏检测方案,模拟实验和真实实验结果表明本文提出的多源融合信息泄漏检测方案可以降低检测出泄漏所需的侧信息数量,提高泄漏检测的效率。     

CMOS电路瞬态电流测试方法研究

集成电路设计与测试是当今计算机技术研究的主要问题之一。集成电路测试技术是生产高性能集成电路和提高集成电路成品率的关键。基于固定型故障模型的测试方法已不能满足高性能集成电路,尤其是对CMOS电路的测试要求。CMOS电路的瞬态电流(IDDT)测试方法自80年代提出以来,已被工业界采用,作为高可靠芯片的测试手段。     

基于分布式光纤传感器的输气管道泄漏检测方法

针对传统方法难以精确诊断输气管道泄漏的难题,提出采用准分布式光纤B ragg光栅(FBG)传感技术实现天然气管道泄漏的在线监测技术。利用一条FBG光缆作为传感器,并行铺设在天然气管道附近,拾取管道由于泄漏、附近机械施工和人为破坏等事件产生的压力和振动信号,通过匹配光栅法和自动识别技术检测管道泄漏并进行定位。实验结果表明:该方法可以实现对天然气管道泄漏进行诊断并定位。     

DES差分功耗分析研究及仿真实现

在分析CMOS芯片工作时功率消耗原理的基础上,提出一种简洁高效的功耗模型,设计一种针对DES加密算法的差分功耗攻击方案,并在自主开发的功耗分析仿真器上完成破解 DES加密算法中的48位子密钥,结果表明未加防护的DES加密系统存在安全隐患,该仿真器亦为功耗攻击方法及抗功耗攻击的研究提供一种简洁、直观、快速、有效的评估平台,最后对抗功耗攻击方法进行分析。     

PPTE传感器在输油管道泄漏检测与定位系统的设计探讨

本文从输油管道泄漏产生的负压波着手,通过对智能化传感器(PPTE)的特点分析,结合现场的应用要求和技术特点,探讨了基于双压力传感器的泄漏判断、定位分析的硬件与软件设计,对关键技术上进行了重点分析与讨论,并对基于负压波小波分析、压力点分析和相关分析技术等进行了简要介绍.     

机密数据库泄漏源检测与量化评估方案

针对机密数据库泄漏源检测问题以及现有技术存在的不足,提出了一种基于复合型数据库水印的检测方法与量化评估方案.设计了复合型数据库水印的添加与检测算法,利用水印添加与数据分发协议,将机密数据与其所有者和用户的身份绑定,实现了泄漏源检测与追查过程中对参与双方的公平保护.使用概率分析的方法实现了检测结果的可靠性量化评估.最后通过实验分析了算法的计算性能,验证了方案的有效性和可行性.实验结果表明该方案具有较高的实用价值.     

采用最大修改字节重定向写入策略的相变存储器延寿方法

现代存储系统一般是由多个存储芯片通过并列数据线、共享地址线的方式构成的.因此,在多片相变存储芯片并联构成的内存系统中,如果多个芯片间的磨损存在较大差异,那么该系统的寿命将会因短板效应而受到影响.模拟实验和数据分析均确认了这一问题在实际系统中的存在.在此基础上,提出了一种混合内存设计,用于延长相变内存的寿命.该方法引入了一种动态识别机制,可以在每次写入时识别遭受最多磨损的相变存储芯片,并将该芯片未来的写入转移到另一个长寿命的存储芯片中.这一措施可以减少对相变存储芯片的总写入量,并缩小相变存储芯片间的写入量差别.实验表明：使用RMB设计的内存系统的寿命最多可达无任何寿命延长方法时的7.9倍,可达使用经典方法PRES的5.14倍.     

LOCST: A Built-In Self-Test Technique

A built-in self-test technique utilizing on-chip pseudorandom-pattern generation, on-chip signature analysis, a ``boundary scan' feature, and an on-chip monitor test controller has been implemented on three VLSI chips by the IBM Federal Systems Division. This method (designated LSSD on-chip self-test, or LOCST) uses existing level-sensitive scan design strings to serially scan random test patterns to the chip's combinational logic and to collect test results. On-chip pseudorandom-pattern generation and signature analysis compression are provided via existing latches, which are configured into linear-feedback shift registers during the self-test operation. The LOCST technique is controlled through the on-chip monitor, IBM FSD's standard VLSI test interface/controller. Boundary scan latches are provided on all primary inputs and primary outputs to maximize self-test effectiveness and to facilitate chip I/O testing. Stuck-fault simulation using statistical fault analysis was used to evaluate test coverage effectiveness. Total test coverage values of 81.5, 85.3, and 88.6 percent were achieved for the three chips with less than 5000 random-pattern sequences. Outstanding test coverage (≫97%) was achieved for the interior logic of the chips. The advantages of this technique, namely very low hardware overhead cost (≪2%), design-independent implementation, and effective static testing, make LOCST an attractive and powerful technique.     

电力系统智能化运维中GIS设备SF6气体泄漏检测方法研究

现有技术中的变电站GIS设备内SF6气体泄漏浓度较大,检测精度较低,本文设计了TMS+XD芯片提高巡视机器人性能,采用离子迁移法设计SF6检测技术,利用扫描窗口提供的SF6浓度分析离子波谱,更为精准地判断气体泄漏规律;采用差分能量检测(Differential Energy Detection DED)算法和概率学公式掌握SF6气体泄漏浓度,进而制定出最佳填充范围,增加变电站GIS设备的安全性。试验表明,本研究检测系统输出的SF6泄漏浓度为15.8mol/ml,检测精度为92.5%,SF6气体泄漏浓度少,检测精度高。     

国内乳化液浓度检测与自动配比技术研究进展

阐述了我国乳化液浓度检测、配比技术的概况,对比研究了乳化液浓度检测技术、乳化液自动配比技术和乳化液浓度检测与自动配比技术的发展现状,分析了它们各自的技术特点,指出:结合传感检测技术和计算机控制技术的乳化液浓度在线检测和自动配比是符合现代化矿井生产技术的发展趋势;研发精度高、实用性强的乳化液浓度传感器是现阶段的主要研究内容;乳化液浓度的自动检测配比系统将朝着智能化和数字化的方向发展,它将与乳化液的泄漏监控子系统结合,对整个乳化液泵站系统进行监控,以保证综采工作面液压支护系统正常工作。     

脉冲漏磁检测技术中新型传感器设计及实验验证

漏磁检测法广泛应用于铁磁性材料的缺陷检测.应用有限元法对一新型脉冲漏磁传感装置下钢管缺陷产生的漏磁场进行了仿真分析,仿真结果表明提取缺陷漏磁场三维分量进行缺陷识别,相比较传统的提取一维或二维缺陷漏磁场分量而言,可获取更多有关缺陷尺寸、位置等信息,提高对缺陷的识别能力.采用所设计的新型脉冲漏磁传感器,对脉冲漏磁三维检测分量信号进行了分析,由三维检测信号峰值扫描波形可有效识别缺陷,并评估缺陷长度、深度等信息;实验结果与仿真分析有较好的一致性.     

核电站泄漏监测系统湿度取样时间优化研究

对第三代原子能反应堆核电站泄漏监测系统取样过程进行研究.介绍了当前核电站泄漏监测的现状,对各类泄漏监测方法的原理进行了调查.研究过程采用数值模拟方法,对湿度测量过程中的湿蒸汽取样机理进行研究.湿度取样测量方法相比其他方法,动态特性较差,测量结果显示存在滞后性.研究表明:泄漏监测系统当前采用的湿空气取样时间还有一定的优化...     

基于RC电路的直流支路漏电定位检测技术

目前,支路漏电流定位检测通常采用剩余电流传感器进行支路巡检,但在航天测发系统工程中,不能承受穿芯传感器的安装代价,对此,提出基于RC电路的直流系统支路漏电流定位检测方法,以满足航天测发系统工程中快速、简单、可靠定位漏电支路的要求.针对不同漏电情形,分析了定位检测原理,并给出绝缘阻值计算公式.基于Multisim仿真软件,建立了三支路直流系统电路仿真模型,并结合实际给出模型参数,进行仿真分析.仿真结果表明,基于RC放电原理的直流系统支路漏电流定位检测方法能够简单、准确、快速地判断出漏电支路和漏电情形,并计算出绝缘阻值,最大误差为2.84％.