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旋转孔径频闪散斑干涉法用于缺陷检测 总被引:1,自引:1,他引:1
介绍了一种利用旋转孔径频闪散斑干涉法检测缺陷的新方法。该方法是一种非接触式的检测方法,不受缺陷形状和位置的影响,能够准确地检测出缺陷的大小和形状。分析了旋转孔径频闪散斑干涉法的基本原理,给出了散斑图全场滤波分析的平均光强解析式和实验结果。结果表明,该方法在一张散斑图上能记录物体动态变形的全过程,并能连续地再现出来,散斑图的信息量丰富;在实时滤波分析观察时,将滤波孔连续进行旋转,可观察到物体动态变形的全过程,散斑图的条纹在变化而缺陷的位置不变。 相似文献
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相移数字散斑剪切干涉技术可以提高检测精度,利用该方法对圆形铝板试件进行测量。为了实现全场相位的精确求解,运用等四步相移Carré算法定量计算相位。将该非接触测量技术与弹性力学理论分析相结合,对四周固支,中心受集中载荷试件的离面位移导数进行测量与分析,另外采用有限元方法进行模拟。最后将实验结果分别和理论结果、有限元结果进... 相似文献
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液晶相移剪切电子散斑干涉术的研究 总被引:1,自引:1,他引:0
本文研究了向列型液晶的相位调制特性,并采用平行式向列液晶作为相移器,建立了相移剪切电子散斑干涉计量系统。该方法将相移技术引入到剪切电子散斑干涉术中,提高了检测精度,采用相关纹法求解相位,简化了计算,相移方法简单,可靠,用该系统进行应变场的测量实验,取得了满意的效果。 相似文献
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旋转孔径时间平均散斑照相法 总被引:1,自引:0,他引:1
本文将旋转孔经散斑照相法和时间平均散斑照相法结合,提出了适合于研究振动模式、测定试件固有频率的新方法.具有精度高、非接触式测量、全场显示、防震要求低等特点.给出了理论分析和实验证明. 相似文献
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本文把Francon所得出的散斑图象相减方法推广到三维漫反射物体的相减。采用多次曝光技术,提高了相减象的质量,实验结果与理论分析符合得很好。并且获得高质量的输出结果。 相似文献
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电子剪切散斑中的相位分析方法 总被引:2,自引:0,他引:2
由于在电子剪切散斑干涉中被测物理量与光学位相直接相关,通过对干涉条纹的处理能够精确获取物体变形场的位相信息,运用相位分析方法即可导出物体在外力作用下的微小位移及形变。本文综述了电子剪切散斑干涉中条纹的位相测量方法,介绍了目前较为常用的几种相位分析方法的工作原理及实验方法,并讨论了各种方法在工程运用上的所具有的特点。 相似文献
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为了扩大传统剪切散斑干涉仪的检测视场,设计了一种反远距成像迈克尔逊式剪切散斑干涉系统。采用负透镜组与标准成像镜头组成反远距成像系统,分析了光路的成像参量,并利用ZEMAX软件进行了模拟;讨论了发散光路时间相移的非均匀性,采用等步长相移算法进行相位解算可以弥补非均匀误差;并对中心加载的橡胶平板进行了测量。结果表明,该系统能有效地扩大成像视场,采用3片焦距为-75mm的平凹镜片可以实现70°视场角的散斑干涉检测,通过调整平凹镜片的焦距和数量可以实时调整成像视场。 相似文献
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针对四波横向剪切干涉(quadriwave lateral shearing interference,QLSI)相位重建中现有常规滤波窗提取差分相位时存在易受噪声、频谱泄漏和其他级次频谱串扰影响等问题,提出了一种采用菱形高斯组合窗滤波的相位重建方法。通过由频谱面内的菱形窗和垂直于频谱面的一系列二维高斯窗组合而成的滤波窗,从QLSI干涉图中提取两正交方向的差分相位,最终由两个差分相位通过基于最小二乘的傅里叶变换法重建出待测相位。采用标准样品进行实际测量,比较了使用菱形高斯组合窗和其他四种常规滤波窗滤波对重建相位的重建相位差、均方根误差(root mean square error, RMSE)和峰谷(peak to vally,PV)误差的影响。结果表明:本文提出的方法重建相位的相位差最接近样品标称值,重建相位的RMSE误差和PV误差均取得最小值,可以有效提高相位重建质量。 相似文献
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基于大剪切方棱镜的三维电子散斑干涉技术 总被引:3,自引:3,他引:0
提出了一个新的测量物体三维形变量的系统.其中,光源部分由3个激光器组成,参考物被粘贴在压电陶瓷(PZT)相移器上,通过该相移器产生参考光并实现相移,物光和参考光通过放置在CCD前方的大剪切棱镜产生干涉.为了验证该系统的可行性,对简支梁进行了位移场的测量,并给出了实验结果.由于大剪切方棱镜采用普通玻璃材料制成,因此不仅克... 相似文献
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离面位移数字散斑干涉系统测量材料内部缺陷 总被引:3,自引:2,他引:1
为了实现对材料内部较深层缺陷的大小和深度的检测,采用弹性理论分析并结合离面位移数字散斑干涉实验的方法,分析了含内部缺陷试件的离面位移分布,并给出了理论解。同时用数字散斑干涉和数值仿真得出试件的离面位移,将3种方法得到的离面位移及其1阶导数的分布做了对比,由对比结果可知,理论、实验及仿真得到的结果非常吻合,并对误差做了分析。从实验得到离面位移的1阶导数可获得缺陷的大小,结合理论计算出缺陷的深度,二者的误差都在允许范围之内。结果表明,利用离面位移数字散斑干涉系统测量材料内部较深层缺陷具有很高的准确性。 相似文献
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