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相似文献
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1.
刘艳军  王庆康 《微电子学》1999,29(4):272-274
采用微波参量分析方法能有效地分析高速GaAsIC在微波域内的频响特性。文中根据电路和工艺技术,给出了已报导的一种GaAs放大器单元电路的一组特定参数,并进行了微波参量特性研究。  相似文献   

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本文简要分析了数字集成电路测试系统中的逻辑测试单元。  相似文献   

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冯兆兰 《微电子学》1990,20(6):19-23
本文介绍一种ECL电路结构形式的ASIC逻辑单元的设计和应用。该单元使用2.5V的电源,内部开关电流设计为0.5mA,逻辑摆幅设计为340mV,输入输出均采用双向互补信号。它具有信息的基本记忆功能,用它进行多级组合配套设计,可制作不同模数的分频器、寄存器和计数器等。设计灵活,功能强,电路速度快,功耗低,仅为具有相同功能的普通ECL电路的1/30。这些电路可用在通讯机、电子控制系统、电子测量系结中作高速数字锁相环,数字信号处理的专用集成电路。  相似文献   

8.
微波MCM电路的设计与制作   总被引:1,自引:0,他引:1  
王钧  施建俊 《电讯技术》1998,38(6):48-53
本文介绍一种新的封装技术-微波多芯片组件(MCM)技术。详细阐述了其设计环节并分析了设计要点,提出了通用的设计方法。此外还介绍了微波MCM电路的制作流程。  相似文献   

9.
本文对SDH数字微波收发信单元的工作原理进行了分析,对SDH数字微波收发信单元常见的故障实例进行了分析和处理,并对处理故障的经验进行了总结。  相似文献   

10.
本文采用超高速光电采样技术研究了半导体微波器件和单片微波集成电路(MIMIC)的时域特性和频域特性.阐述了该方法的原理及优越性,对时域波形进行了分析和修正.并利用FFT技术将时域波形转换为频域图形,得到半导体微波器件的S参数.我们建立的系统测量可达100GHz以上  相似文献   

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陈坚强 《电声技术》1999,(10):24-33
根据中国目前的生产和工程设计的实际情况来看,可以从以下六个方面的客观物理特性来认识扬声器单元。(注:主观听音评价是认识扬声器单元的另一种重要方法,随着科学技术的进步,客观物理特性的描述与主观听感愈来愈趋于一致。也就是说,随着科学技术的发展,将能够用客观物理特性的描述来表达主观听音的心理感受。)1T/S参数T/S参数是由THIELE和SMALL先生首先提出的扬声器系统数学模型的基本参数。T/S参数在扬声器系统设计的指导作用已经被生产厂家、工程设计人员所接受,在几乎所有常见的电声测试系统、扬声器系统设计软件上…  相似文献   

13.
介绍了被动微波遥感的两个新的技术-综合孔径微波辐射计和全极化参量微波辐射计.综合孔径微波辐射计采用干涉测量技术,用小天线的干涉基线组合合成大孔径天线的思想,提高被动微波遥感的空间分辨率,并实现视场范围的数字成像;全极化参量微波辐射计是一种新的微波遥感参数的探测技术,它测量目标微波辐射的全部4个Stokes极化参量,对于表面粗糙度各向异性特性的探测和目标的分类与识别具有很好的前景.  相似文献   

14.
用FD-TLM法对高速数字微波而面带线端接电阻及非线性终端-半导体二极管时的瞬态响应特性的模拟及分析,并提出了一种适用于处理传输线结构终端吸收边界问题的简单,实用的方法。  相似文献   

15.
多层微带线S参量模拟研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用CST Microwave studio对多层微带线的S参量进行了仿真模拟,以微带线的线条宽度为参量考察了微带线的传输及反射特性,并对模拟结果进行了分析.  相似文献   

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分析了一个型号的数字集成电路会产生出多个不同的图形符号的几种原因。  相似文献   

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利用集成电路测试系统,可以完成小于1mV和1mA的直流电压和电流的测试.而想要确保测量值准确可靠,还要使用相应的校准技术进行微小微电子参量的校准.基于这种认识,本文对微小微电子参量特性展开了分析,然后对其校准技术展开了研究,从而为关注这一话题的人们提供参考.  相似文献   

18.
朱鲜芙 《无线电工程》1997,27(4):45-46,61
利用小信号S参数对串联反馈微波振荡器进行了分析,并给出设计方法。该方法对微波点频式压控振荡器的设计十分有效,且便于工程应用。实验表明,此方法简单有效,对工程技术人员有参考价值。  相似文献   

19.
微波晶体管振荡器的计算机优化设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文用负阻概念分析了微波晶体管振荡器的基本工作原理及设计方法,着重讨论了微波振荡器的电路特性,给出了精确可靠的数学模型,并编写出最优化设计程序,从而提高了微波振荡电路的设计效率和精度。  相似文献   

20.
模拟IC自动测试系统的直流参数测试单元   总被引:1,自引:0,他引:1  
马宁  韩磊 《电子设计工程》2014,(12):121-123
模拟IC自动测试系统主要针对模拟IC的直流参数和交流参数进行测试,其中直流参数的测试是整个测试过程的重要部分。直流参数测试单元可以为芯片提供稳定的、精确的电压或电流,主要实现两种功能:一种是对待测芯片施加电压从而测量电流值,简称FVMI(加电压测电流)功能;另一种是对待测芯片施加电流从而测量电压值,简称FIMV(加电流测电压)功能。  相似文献   

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