雷达天线测试中的若干结构问题

波瓣测试是低副瓣、超低副瓣天线研制中不可或缺的一个重要环节,结构人员积极介入其中是必要而有益的。本文就如何处理地面雷达天线远场测试中常见的若干结构问题阐述拙见,祈对测试工作和有关人员有所裨益。     

一种有效的确定测试场地面最大反射位置的方法

本文介绍了在天线远场电性能测试时，通过测量待测天线所在测试场的地面反射波纹，来确定测试场地面最大反射位置的方法，以便对这些反射位置采取相应的措施，消除或减弱测试场地对天线远场电性能（特别是对测量纸，超低天线副瓣）的影响，使测试结果能比较准确地反映天线的实际情况，将这种方法用于超低副瓣雷达天线的远场测量中，测出了较真实的结果。     

超低副瓣天线平面近场测量采样间距误差分析

基于超低副瓣天线测试对精度的要求,利用计算机模拟的方法研究了平面近场测量中采样间距误差对超低副瓣天线副瓣的影响,得到了一些规律和有用的结果,并证明了Nyquisty采样定理在超低副瓣天线测试中的适用性和正确性。     

极低副瓣天线远场测量的新方法

测试极低副瓣天线时，要求测量距离远远大于２Ｌ＾２／λ，其中Ｌ为天线口径尺度，λ为工作波长。为了解决现有远场测试场地测量极低副瓣天线所遇到的测试距离不够的问题，本文提出了一种远场测量修正方法。对在费涅耳区测量的天线波瓣图进行修正，可以获得被测天线的远场波瓣图。对极低副瓣线阵天线的计算机模拟计算表明，该方法是有效的，可以获得满意的校正效果。     

超低副瓣天线测试中系统相位误差的仿真分析

文章利用计算机仿真的方式分析了平面近场测试中系统相位误差对超低副瓣天线副瓣的影响。通过建模分析,得到了系统相位误差对-50d B副瓣影响的量级,为超低副瓣天线测试中误差的分析提供一定的理论依据。     

平面阵列天线面精度测量值的分析计算方法

本文介绍的是平面阵列天线面精度测量值的分析计算方法。由于天线面精度对天线副瓣，特别是低副瓣天线的副瓣影响甚大。近年来越发为设计人员所重视，在完成天线安装后得到可靠的阵面面精度测量数据以便于设计人员进行评估和分析，用本文提出的数据处理方法进行测量值分析计算不失为一种简单易行的办法。     

频扫低副瓣波导窄边缝隙平面阵列天线的研究

介绍了频扫体制低副瓣波导窄边缝隙平面阵列天线的设计方法。对天线样机的测试结果表明，该天线副瓣低于－３０ｄＢ，达到预期目标。     

高增益低副瓣卡塞格伦天线设计

由于卡塞格伦天线具有优良的电气和简单的结构特性,因此被广泛应用于雷达、通信、气象、遥感遥测等领域,但是由于天线副面的阻挡影响,卡塞格伦天线要实现较低的第一副瓣电平非常困难.针对限制卡塞格伦天线实现低副瓣电平的各方面因素,通过合理选择天线结构参数,精心设计高性能、高效率的双模照射馈源,在Ka频段实现了高增益、低副瓣卡塞格伦天线,完成了天线波瓣的远场测试,并给出了相应的测试结果.     

一种有效的确定测试场地面最大反射位置的方法

本文介绍了在天线远场电性能测试时,通过测量待测天线所在测试场的地面反射波纹,来确定测试场地面最大反射位置的方法,以便对这些反射位置采取相应的措施,消除或减弱测试场地对天线远场电性能(特别是对测量低、超低天线副瓣)的影响,使测试结果能比较准确地反映天线的实际情况。将这种方法用于超低副瓣雷达天线的远场测量中,测出了较真实的结果。     

结构紧凑型宽带低副瓣阵列天线

为了满足系统对阵列天线宽带、低副瓣的要求,设计了一款工作在X和Ku波段的结构紧凑型宽带低副瓣阵列天线,相对带宽为54.5%,副瓣电平在-30 dB以下,天线纵向尺寸为4.5λg。阵列天线采用带状线加权馈电网络和宽带带状线偶极子天线一体化设计,偶极子天线用短路探针对馈电分布电容进行补偿并加载寄生贴片,有效展宽了带宽;馈电网络通过拓扑结构设计获得各功分节点最佳功率比值,对各功分节点位置合理布局缩减馈电网络纵向尺寸。在微波暗室利用近场测试系统对阵列天线实物进行测试,验证了仿真结果。     

平面阵列天线面精度测量值的分析计算方法

本文介绍的是平面阵列天线面精度测量值的分析计算方法。由于天线面精度对天线副瓣,特别是低副瓣天线的副瓣影响甚大,近年来越发为设计人员所重视,在完成天线安装后,必须得到可靠的阵面面精度测量数据以便于设计人员进行评估和分析,用本文提出的数据处理方法进行测量值分析计算不失为一种简单易行的办法。     

带有EBG反射板的缝隙多层宽带微带阵列天线

宽带微带天线多使用缝隙结构和多层结构,在扩展阻抗带宽的同时天线方向图副瓣与后瓣电平变大,降低了天线性能,限制了应用。小型化金属EBG结构反射板具有高阻抗表面特性,可利用其减小天线厚度提升方向图性能。通过结构设计与优化,相对于普通反射板结构,天线前后比提升了1.29dB,最大副瓣电平降低了3.16dB。天线至反射板的距离也被缩小至14mm（＜λ/4）,降低了天线剖面。测试结果说明,对于改善多层天线、缝隙耦合天线方向图特性,提升天线前后比,缩小天线厚度这种结构天线非常有效。     

CINRAD天线测试场的设计

讨论了大型圆口径低副瓣CINRAD天线测试场的设计原则。提出了大型圆口径低副瓣天线最小测试距离条件,即R≥4D~2/λ(R为测试距离,D为待测天线口径,λ为工作波长),并研究了当满足不同锥削幅度准则时,天线的最小架设高度。     

影响反射面天线副瓣性能的机理

由于反射面天线中抛物盒顶部开口所造成结构不连续，使其开口处产生的散射场对抛物盒的反射场干涉而造成口径场畸变，从而导致了天线副瓣性能变差。该文根据天线方向图与其口径场之间的关系，通过理论分析和仿真计算，分析、讨论了口径场分布影响天线副瓣性能的主要机理。     

低副瓣机载雷达罩维修孔影响的数值计算

低副瓣机载雷达罩中维修孔对雷达天线副瓣的影响十分复杂 ,迫切需要理论分析 ,文中建立了维修孔的数学模型 ,采用矩量法对维修孔及孔盖中金属和介质附件中被激励的传导电流和感应电流进行了数值计算 ,得到了维修孔对天线副瓣影响的数值 ,理论分析与测试结果符合较好     

位置误差和相位误差对模块化天线阵的影响

对于采用自定位设计的模块化天线阵，推导了单元位置误差和子阵位置误差的取值范围与天线副瓣累积概率的关系，以及相位误差与天线副瓣累积概率的关系。通过实例证明，欲实现的天线的副瓣值不同，不同方向的位置误差对天线副瓣累积概率的影响是不同的。     

低副瓣机载天线阵设计与实现

针对目前飞机系统中已有机载天线阵的副瓣性能指标无法满足系统电磁兼容特性,详细介绍了一种低副瓣C波段圆极化天线阵的结构设计和调试过程,提出一种全新消减天线单元间互耦的散射体设计方法和一种全新结构的三路功分器,通过构建相应的系统模型、仿真实验以及实物测试,验证了该设计的优越性,机载天线阵第一副瓣相对主瓣增益小-20 dB,有效提升了机载天线的电磁兼容特性。     

小型单脉冲SSR天线的研制

介绍了一种单脉冲SSR平面阵列天线的研制，其特点是在满足天线方向图3dB宽度的情况下，使天线和波束副瓣尽可能低，确保差波束完全覆盖和波束水平副瓣电平，不出现副瓣应答。     

基于波导缝隙阵列的新型太赫兹频率扫描天线

为缩短太赫兹系统成像时间,该文提出将频率扫描天线应用于太赫兹成像系统中,并设计了一种基于波导缝隙阵列的太赫兹频率扫描天线。该文采用泰勒综合法降低副瓣电平,通过软件仿真结合功率传输法设计最优的缝隙分布。太赫兹波导缝隙阵列天线具有加工简单、成本低的优势,通过太赫兹准光测试系统对天线性能进行测试,实测天线扫描角度可达40°,增益约为15 dB,副瓣电平抑制优于–20 dB。测试结果表明太赫兹波导缝隙天线具有扫描角度大和副瓣低的优良特性,在太赫兹成像和目标探测等领域有巨大的应用价值。      

宽带超低副瓣天线阵设计

描述了由16元线阵组成的L频段宽带超低副瓣天线阵的设计,给出了设计过程中所解决的各项关键技术及所采用的技术途径,以及一些设计数据和测试结果。天线近场测试表明,所研制的天线在优于25%频带内天线峰值副瓣电平低于-38 dB,垂直面扫描±30°时,天线峰值副瓣电平低于-35 dB。