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吴庆芳 《固体电子学研究与进展》1994,(1)
摩托罗拉公司加速GaAsIC制造计划据日本(SemiconductoWorld)1993年第8期报道,美国摩托罗拉公司GaAsIC批量生产前期工程制造厂正在进一步推行逻辑存储器的生产计划。始于1991年1月的GaAsIC前期工程技术开发计划原定36个... 相似文献
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孙再吉 《固体电子学研究与进展》1996,(3)
20Gbit/s HBT调制器驱动IC据《NEC技报》1995年第5期报道,NEC公司新开发的AIGaAs/GaAsHBT,应用于20Gbit光调制器驱动IC中,获得了良好的超高速和高压输出性能。在IC制作中,NEC采用了独特的异质护环HG-FST工... 相似文献
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本文重点论述GaAs IC CAD方法,包括:精确的GaAs MEsFET、HEMT和HBT等有源器件模型;大、小信号模型参数提取;噪声模型;成品优化;高频、高速微带传输线模型;电路模拟与优化;砷化镓门阵等。还评述了GaAs IC CAD集成软件包及进一步工作。 相似文献
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兆铮 《固体电子学研究与进展》1996,(2)
140GHz工作的放大IC据《日经》1995年第626期报道,美国TRWInc.的EkctronicsSystemsandTechnologyDivision已制成工作频率140GHz的InAIAs/lnGaAs/InPHEMT两级单片放大IC,可用... 相似文献
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江兴 《固体电子学研究与进展》1996,(3)
1WKu波段AlGaAs/GaAs功率HBT最大功率附加效率达72%《IEEETransactionsonElectionDevices》1995年第42卷11期报道,通过采用最佳发射极镇流电阻器和电镀热沉(PHS)结构已经成功地获得了Ku波段大功率... 相似文献
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简述了GaAsICCAD技术开发应用的现状及发展趋势,提出了我国在GaAsICCAD技术开发应用方面的建议。 相似文献
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简述了GaAs IC CAD技术开发应用的现状及发展趋势,提出了我国在GaAs IC CAD技术开发应用方面的建议。 相似文献
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GaInNAs是一种直接带隙半导体材料,在长彼长(1.30和 1.55μm)光通信系统 中具有广阔的应用前景.通过调节 In和 N的组分,既可获得应变 GaInNAs外延材料,也可制 备GaInNAs与GaAs匹配的异质结构,其波长覆盖范围为0.9-N2.0μm.GaInNAs/GaAs 量子阱激光器的特征温度为 200 K,远大于现行 GaInNAsP/InP激光器的特征温度(T0=50 K). GaInNAs光电子器件的此优异特性,对于提高光纤通信系统的稳定性、可靠寿命具有特 别重要的意义.由于GaInNAs和具有高反射率(高达99%)AI(Ga)As/GaAs的分布布拉格 反射镜(DBR)可生长在同-GaAs衬底上,因此它是长波长(1.30和 1.55 μm)垂直腔面 发射激光器(VCSEL)的理想材料.垂直腔面发射激光器是光纤通信、互联网和光信号处理的 关键器件. GaAs基的超高速集成电路(IC)已有相当成熟的工艺.如果 GaInNAs-VCSEL 与 GaAs-IC相结合,将使光电集成电路(OEIC)开拓出崭新的局面.本文还报道我们课题 组研制高质量 GaNAs/GaAs超晶格和大应变 InGaAs/GaAs量子阱结构取 相似文献
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本文简要介绍了1994年GaAsIC讨论会概况以及所展示的GaAsMMIC的进展,并侧重于其应用领域的介绍。 相似文献
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陈东尔 《固体电子学研究与进展》1994,(1)
最高工作频率12GHz的预标记GaAs IC据杂志1993年第576期报道,RI41404是最高频率为12GHZ的预标记GaAsIC。该IC是由GaAsHBT构成的。主要用于测试和光纤传输等。4分频器的电源电压为一6V(标准),耗散功率为270mw。... 相似文献
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本文介绍了国内外SI-GaAs材料的市场现状应用,简述了SI-GaAs材料制备新工艺和提高质量水平的途径,指出SI-GaAs材料的发展方向及市场前景,并对我国SI-GaAs材料与国外相比所存在的差距作了分析,提出了今后的方向。 相似文献
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刘鹏 《信息技术与信息化》1996,(2)
本文介绍了国内外SI-GaAs材料的市场现状及应用,简述了SI-GaAs材料制备新工艺和提高质量水平的途径,指出SI-GaAs材料的发展方向及市场前景,并对我国SI-GaAs材料与国外相比所存在的差距作了分析,提出今后发展的方向。 相似文献
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试图从器件应用角度来评价空间生长半绝缘GaAs单晶性能。为此我们选择了设计制备相对成熟、对材料性能要求的侧重面又不尽相同的器件和IC,并选择了六个与材料关系密切的参数作为评价的标称参数。实验结果表明,空间生长的半绝缘GaAs单晶的全面电性能均优于常规IEC半绝缘GaAs单晶。 相似文献
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GaAs亚微米自对准工艺技术研究 总被引:2,自引:2,他引:0
总结了在50mmGaAs圆片上实现自对准介质膜隔离等平面工艺技术的研究,着重描述了离子注入、自对准亚微米难熔栅制备、钝化介质膜生长、干法刻蚀、电阻和电容制备等关键工艺的研究结果。这套工艺的均匀性、重复性好,在50mmGaAs圆片上获得了满意的成品率。采用这套工艺已成功地研制出多种性能良好的GaAsIC和GaAs功率MESFET,证明国家自然科学基金委员会这一重大课题的选择对发展我国GaAsIC确实具有重大意义。 相似文献
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GaAs器件及MMIC的可靠性研究进展 总被引:2,自引:0,他引:2
来萍 《固体电子学研究与进展》1995,15(4):381-390
介绍了国外GaAs微波器件及MMIC的可靠性研究进展情况,给出GaAsMESFET、HEMT和MMIC的主要失效模式和失效机理以及在典型沟道温度下的平均寿命代表值。 相似文献