非工作期微电路的可靠性及其预计

本文通过分析影响非工作期微电路可靠性的主要因素,采用大量现场和试验数据进行归一化——线性化——回归分析,研究各主要影响因素与微电路非工作期失效率之间的定量关系,进而建立可靠性预计模型。用该模型预计的失效率与电子设备非工作现场失效率比较,初步验证效果良好。讨研究成果对改进产品可靠性设计、提高产品全寿命期管理水平、降低费用等有重要意义。     

晶体管非工作期失效率预计

本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作期失效率预计模型，经验证，预计失效率与现场失效率相吻合．通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作期失效率，尤其给出了我国晶体管普通库房贮存失效率和贮存有效期．     

晶体管非工作状态可靠性预计

本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作状态失效率预计模型，经验证，预计失效率与现场失效率相吻合，通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作状态失效率，尤其给出了我国晶体管普遍库房贮存失效率和贮存有效期。     

晶体管非工作期失效机理及可靠性预计

本文较全面地分析了影响晶体管非工作期可靠性的主要因素及其失效机理。进而,在广泛收集现场与试验可靠性数据的基础上建立了我国晶体管在非工作状态下的失效率预计模型。经实践验证,表明该模型的预计效果良好。同时还提供了我国晶体管的贮存可靠性水平与贮存有效期,这一研究成果对军用装备的非工作期可靠性预计、设计、储备、更新以及预防性维修等方面都有深远的意义。     

真空电子器件工作和非工作可靠性的探讨

论述了几个军用真空电子器件在不同应用条件下的工作和非工作的可靠性情况 ,提出器件在非工作贮存期内的预计失效率模型 ,并讨论在长期非工作贮存期内出现的失效机理及定性得出存放寿命与时间相关的结论。     

非工作贮存期对微电路可靠性的影响

为研究国产微电路的贮存可靠性,从82年起对部分漏气率较高的几个型号微电路样品进行了常温自然室内环境贮存试验。本文阐述了对这类样品进行的非工作贮存性能测试、试验、失效分析及其数据的统计处理分析情况。提出了在一般自然条件下,经过12年的非工作贮存的微电路的失效仍然主要由设计、制造技术和生产过程的质量监控水平造成的工艺缺陷引起。强调了提高微电路固有可靠性是微电路延寿的基础。     

国产半导体器件贮存10年的可靠性

电子产品的贮存可靠性正日益被人们所重视.1985年5月,美国罗姆航空发展中心颁布了一个重要文件《设备不工作期间对其可靠性的影响》.该文件提出了计算电子设备及元器件不工作期间可靠性的有关方法,其作用相当于MIL—HDBK—217《电子设备可靠性预计手册》.我国电子产品的贮存可靠性也越来越被大家所关注.近年来,电子部五所数据中心开展了我国电子设备和元器件非工作可靠性与贮存失效率有关数据的收集、研究工作,正在编制出版《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》.     

《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》的介绍──二极管非工作可靠性预计

介绍《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》的主要内容、用途、评价及贡献，以二极管为例阐述电子元器件非工作可靠性详细预计法，并简单介绍电子元器件非工作可靠性简化预计法。     

考虑使用率和非工作状态失效率时的备件分析

考虑装备使用率和非工作状态下的失效率,修正并证明备件模型。实例分析证明,装备使用率和非工作状态失效率对备件数量、采购顺序有显著的影响。     

微波真空电子器件磁控管的失效率模型

以磁控管现场使用数据和失效模式为基础,根据真空电子器件失效率或平均寿命等可靠性指标的考核方法,对新版（ＧＪＢ２９９Ｂ）电子设备可靠性预计手册中的失效率模型与旧版（ＧＪＢ２９９Ａ）进行了验证对比。结果表明,新版比旧版更接近实际,而且其预计精度也有明显提高,新版所建立的失效率数学模型可以满足工程的实际要求。     

行波管可靠性失效率模型的研究

本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础，根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法，参照美国军标ＭＩＬ－ＨＤＢＫ－２１７Ｅ，Ｆ，结合我国具体实际，对行波管失效率的数学模型，采用数理统计回归分析后，定量得出我国行波管可靠性的水平，并用现场数据对失效率模型进行验证，提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。     

一种星载电子产品老练试验加速因子估计方法

提出一种基于可靠性预计数据的星载电子产品老练试验加速因子的估计方法。在该方法中,温度对产品失效过程的影响通过器件失效率预计模型中的温度应力参数予以刻画。通过比较产品在工作环境温度与老练试验温度下的预计失效率数据来估计老练试验加速因子。该方法简单、易行,含义明确,有望增强可靠性评估结果与可靠性预计结果的可比性。     

光电设备应用中的可靠性问题研究

分析了影响光电设备非工作期和工作期可靠性的因素,以及这些因素对光电设备各构成部分的不同影响,给出了提高光电设备应用可靠性的一些方法.     

基于Bellcore标准的电子产品可靠性预计方法及案例研究

介绍了Bellcore标准进行可靠性预计的理论基础,包括元器件失效率与单元失效率模型等。利用Bellcore现行的TelcordiaSR-332标准手册,对某用于商用环境中的单板计算机进行了可靠性预计。给出了该单板计算机MTBF预计的过程和方法,以及失效率和MTBF的预计结果,并与军用标准的预计结果进行了对比,说明了Bellcore标准目前存在的一些问题。     

美国军用手册217F中的可靠性预计方法及其应用

介绍美国军用手册217F中的两种可靠性预计方法——部件应力分析法与部件计数分析法,分别讨论其适用条件和失效率模型,并给出可靠性预计方法在计算数字计时芯片和发动机失效率时的具体步骤。     

IEC TR62380可靠性预计通用模型分析

分析了国外典型电子元器件数据手册——IEC TR 62380《电子组件,PCBs和设备的可靠性预计通用模型》,并简要介绍了该预计手册中电子元器件的可靠性预计模型和方法.分析结果表明,模型直接考虑了环境的影响,并以设备任务剖面的热循环代替了难以评价的环境因子;在部件失效率中包含了与部件焊接相关的故障.     

可靠性问题讲座 第四讲 系统可靠性设计(下)

四、可靠性分配 1.目的和要求: 可靠性分配,是把系统所允许的失效率,对于系统中的部件进行合理分配的过程。这个分配的主要目的,是对各种元件建立一个可靠性指标,使得元件研制单位,能够明确对自己的可靠性要求。这些指标影响到价格、重量、时间安排以及与研制有关的其他因素。允许失效的合理分配,首先需要知道元件的相对失效率,这就需要知道实际予计时需要的所有资料,如基本失效率、环境因子、降额工作周期等。这样相对可靠性的预计就成了整个考虑的主要组成部分。如同作预计工作一样,在作分配工作时,元件的预计可靠性也以同样的方法计算出     

锌银蓄电池失效分析及预防措施

以工作电流和工作温度为主要考虑因素,建立了锌银蓄电池基本失效率模型和工作失效率模型。以试验数据为基础,采用失效率模型,通过数值计算得到基本失效率预计值,将预计值与试验值进行了比较,结果表明,得到的失效率模型可以应用于工程实践,为预防锌银蓄电池失效提供了理论基础,对锌银蓄电池在飞机上的正确使用具有重要意义。     

行波管可靠性失效率模型的研究

本文以行波管现场使用数据和失效模式为基础，根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法，参照美国军标ＭＩＬ－ＨＤＢＫ－２１７Ｅ，Ｆ，结合我国具体实际，对行波管失效率的数学模型，采用数理统计回归分析后，定一得出我国行波管可靠性的水平，并用现场数据对失效模型进行验证，提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。     

智能电能表的可靠性预计方法研究

可靠性预计是一种定量地评价智能电表的可靠性的有效手段,也是一种指导智能电能表设计改进的技术方法.首先,根据智能电表的特点,对比分析了现有的可靠性预计标准和手册的优缺点;其次,以GJB/Z299C中提供的方法和数据为基础,对标准中未给出的定制型器件的失效率计算模型进行了分析,提出了对应的失效率预计函数和方法;然后,对智能电表的可靠性预计进行了实例分析;最后,结合智能电能表的可靠性预计结果,分析了不同元器件、模块对智能电能表的可靠性的影响,并给出了设计改进措施.