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硅通孔(TSV)技术是三维集成电路中的关键技术,对信号传输以及热量的传导起到关键的作用,其热可靠性的问题一直都是研究热点。基于Comsol Mulitiphsics平台,通过有限元仿真分析,研究了金属基复合材料对TSV热应力的影响。并进一步研究了在不同通孔直径以及不同TSV高度下,碳纳米管(CNTs)、碳纳米管铝(CNTs/Al)以及碳纳米纤维铜(CNFs/Cu)等复合材料和传统金属材料的等效热应力情况。结果表明:与传统金属材料相比,金属基复合材料CNTs/Al以及CNFs/Cu均能有效降低TSV的热应力,提高TSV的热可靠性;并且对于CNTs含量不同的金属基复合材料,其TSV的等效热应力也会有所不同,需综合考虑合理选择CNTs的含量。 相似文献
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首先,对诱发显示器故障模式的主要环境因素进行了分析,确定了影响显示器的可靠性的敏感环境应力;其次,以某型显示器为研究对象,通过设计试验剖面,制定了相应的可靠性强化试验方案,并进行了实际应用;然后,在试验实施的过程中成功地将产品的缺陷激发为了可被检测的故障,有效地发现了产品设计的薄弱环节;最后,通过分析其故障模式和失效机理,提出了有效的改进措施,提高了产品的健壮性和可靠性. 相似文献
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可靠性仿真试验是基于故障物理原理和计算机技术,利用计算机仿真分析软件,对雷达等电子设备进行数字模型可靠性分析和计算的过程。通过软件在电子样机上施加产品所经历的载荷历程,分解到产品的基本模块上,进行应力分析和应力损伤分析,从而找出产品的设计薄弱环节;通过仿真预计产品的失效时间分布并分析,指导和辅助可靠性设计优化;通过可靠性仿真量化评估,比较设计方案,为可靠性综合评价提供支持。研究表明:可靠性仿真试验缩短了雷达研制周期,提高了雷达可靠性水平。 相似文献
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产品的固有可靠性,只有通过设计过程的可靠性活动才能获得。它是可靠性设计、可靠性试验和可靠性管理的结果。要验证产品的可靠性,就必须对产品进行大量试验分析和研究工作。可靠性增长试验,就是在产品的研制阶段,采用模拟的综合环境,对产品等进行的试验。通过“试验—分析—解决”的途径,暴露产品缺陷,采取纠正措施,及早地解决大多数可靠性问题。 本文主要介绍了两种角速率传感器参加的可靠性增长试验以及试验方法和数据分析等情况。 相似文献
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无失效数据可靠性分析的贝叶斯方法 总被引:1,自引:0,他引:1
Bayes方法是对无失效数据问题进行可靠性分析的有效途径之一。针对某一产品,在确定了其寿命分布类型之后,建立了无失效数据模型,并利用Bayes方法对产品进行了可靠性分析。 相似文献