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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 63 毫秒
1.
在钢板轧制过程中,钢板宽度是钢板质量的一个基本参数。在有孔洞缺陷出现的情况下,如何既能正确测量钢板宽度,又可保留孔洞缺陷信号是一个值得研究的问题。 可以用一台2048元线列CCD摄象机和一  相似文献   

2.
常轶民  金永  吴靖 《光电子.激光》2019,30(10):1062-1067
针对基于光栅投影的钢板外观质量检测中孔洞检 测缺陷精度不高的问题,提出一种基于双投影的孔 洞缺陷检测方法。在钢板上方等间距设置两个线激光阵列,交替投影等间隔明暗分布的光栅 场,CCD相机 分别采集两个方向上投影到钢板表面的云纹图像,利用相移法分别求解出两个方向云纹图像 的相位信息, 然后分别重建得到钢板两个方向的三维轮廓。通过背景二值化定位投影盲区,将两个方向的 重建三维轮廓 进行融合,从而完成钢板的三维重建,实现钢板表面孔洞缺陷的测量。实验结果证明:钢板 的厚度测量精度为0.05 mm,孔洞缺陷测量精度可以提高到0.1 mm。  相似文献   

3.
结合线性结构光和CCD摄影测量原理.提出一种新的钢板宽度测量方法。描述该测量系统实现步骤,并分析钢板宽度测量结果。试验表明,该系统测量准确,简单易行,成本低,稳定性好,在工业现场具有一定的实用价值。  相似文献   

4.
结合线性结构光和CCD摄影测量原理,提出一种新的铜板宽度测量方法.描述该测量系统实现步骤,并分析钢板宽度测量结果.试验表明,该系统测量准确,简单易行,成本低,稳定性好,在工业现场具有一定的实用价值.  相似文献   

5.
用激光准直及CCD检测的小角度测量系统   总被引:7,自引:0,他引:7  
蒋本和  陈文毅 《激光与红外》1998,28(4):233-234,243
为了实时提供被测目标的角位移。设计并研制出用激光准直和用CCD摄像头检测的角度测量系统。文章叙述了由激光,CCD及信息处理等部分的小角度测量系统的工作原理,介绍了该系统硬件结构和软件的流程图,叙述了整机的制作调试及性能,在线检测距离为4米,若使用中CCD摄像装置,其角分辨率可以达到0.08毫弧度。  相似文献   

6.
用线阵CCD对高速运动物体的检测   总被引:2,自引:0,他引:2  
刘宝瑛 《敏通科技》1997,(10):29-30
用线阵CCD对高速运动物体检测传感头,为防止图像模糊必需提高行扫频率,然而提高行扫频率必然使曝光的积分时间缩短,检测灵敏度降低。本文介绍解决高速目标检测的行扫频率与检测灵敏度这一对矛盾的两种可行的解决办法,即选用TDI器件或采用脉冲曝光法。  相似文献   

7.
红外检测中缺陷大小和深度的测量   总被引:6,自引:2,他引:4  
文中介绍了红外层析检测的基本原理,重点讲述了缺陷深度和缺陷大小的测量方法。  相似文献   

8.
为了得到最佳的坐标测量精度,本文针对线阵CCD交汇测量系统的结构参数进行优化设计。首先建立了优化设计的数学模型。然后用计算机进行仿真,得出了在不同靶面下满足要求的最优结构参数。并给出了靶面误差分布的三维图。  相似文献   

9.
10.
周建民  刘波  李鹏  杨君 《红外技术》2014,(11):896-899
针对浅表层缺陷与正常区域特征混叠问题,提出了一种基于遗传算法与时序红外热图加权叠加的红外无损检测方法。研究以铝板的16类孔洞缺陷为对象,采集预热试件降温过程的时序红外热图,获取相应时序灰度图;并以时序图中缺陷和正常区域灰度差值的加权和为目标函数,采用遗传算法优化加权系数;基于最优加权系数,对时序灰度图依次进行加权叠加和梯度增强处理,并对增强效果进行评估。结果表明:经加权叠加和梯度增强处理后,缺陷与正常区域的灰度比分别提升8.5%和31.0%。缺陷特征得到显著增强。  相似文献   

11.
罗志勇 《半导体光电》1994,15(4):329-335
文章提出一种新型CCD高温钢坯测长仪的工作原理及其信号处理系统。实验结果表明,它能适应现场情况并获得高的测量精度。  相似文献   

12.
本文详细描述了基于CCD线阵的非接触曲面形状的测量原理,给出了DMA数据采集方式硬件框图及软件功能。  相似文献   

13.
用通用运算放大器构成的用于线阵 CCD 输出信号处理的相关双σ取样电路,其取样速率可达250kHz。电路简单实用。本文着重讨论了有关元器件参数的选取原则,这对于设计高速双σ采样/保持电路有一定参考价值。  相似文献   

14.
IDDQ or steady state current testing has been extensively used in the industry as a mainstream defect detection and reliability screen. The background leakage current has increased significantly with the advent of ultra deep submicron technologies. This increased background leakage noise makes it difficult to differentiate defect-free devices from those with defects that draw significantly small amount of currents. Therefore it is impossible to use single threshold IDDQ testing for today’s technologies. Several techniques that improve the resolution of IDDQ testing have been proposed to replace the single threshold detection scheme. However, even these techniques are suffering from loss of resolution that is required for detection of subtle defects in the presence of leakage currents in excess of a few mA. All these techniques use a single IDDQ measurement for detection and thus the scalability of these techniques is limited. Quiescent Signal Analysis (QSA) is a novel IDDQ defect detection and diagnosis technique that uses IDDQ measurements at multiple chip supply pads. Implicit in our methodology is a leakage calibration technique that scales the total leakage current over multiple simultaneous measurements. This helps in decreasing the background leakage component in individual measurements and thus increases the resolution of this technique to subtle defects. Defect detection is accomplished by applying linear regression analysis to the multiple supply port measurements and using outlier analysis to identify defective devices. The effectiveness of this technique is demonstrated in this paper using simulation experiments on portion of a production power grid. Predicted chip size and leakage values from the International Technology Roadmap for semiconductors (ITRS) are used in these experiments. One of the other major concerns expressed in ITRS is that of significant increase in intra-die process variations. The performance of the proposed technique in presence of such variations is evaluated using three different intra-die process variation distribution models.  相似文献   

15.
利用面阵CCD和计算机数字化技术建立针对钢板尺寸的自动检测分析系统。阐述了该系统的关键技术,包括图像采集、匹配、边缘采集等。实验表明,该系统具有功能实用、操作方便,高精度优点,其检测精度<0.05 mm,满足现代工业检测精度。  相似文献   

16.
三线阵CCD视频信号处理系统研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
张达  刘栋斌 《光机电信息》2010,27(12):167-171
本文简要分析了三线阵CCD的原理结构,根据其输出视频信号特征及系统要求,需要实现相关双采样、可编程增益控制、行校准等综合处理的方法。TDA8783是CCD专用视频信号处理器,包含上述功能,且性能优异,本文详细阐述了其实现方法,并成功应用于研制的线阵CCD相机,得到了行频360Hz的理想视频图像,信噪比达到55dB。  相似文献   

17.
彩色线阵CCD用于物体尺寸精密测量的研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
现有精密尺寸测量系统采用单阵列的线阵CCD作为光电传感器,不能检测像元的排列方向与物体尺寸方向的夹角γ,而当夹角γ在测量中发生变化时将引起测量误差,本文采用彩色线阵CCD(TCD2901D)作为光电传感器进行精密尺寸测量,检测出夹角变化带来的尺寸测量误差,得到了误差的修正方法。  相似文献   

18.
本文讨论应用 CCD 作为尺寸自动检测中的三个问题:1.在直接测量中工件到 CCD 距离 L 和光束孔径角 u 及节距 q 之间的关系;2.远心光路中物体移动时像平面上光斑直径的表达式,讨论脉冲当量、允许物距误差、光束孔径角的关系;3.讨论远心投影物镜像差和 CCD 节距的关系,给出远心投影物镜校正像差的依据。  相似文献   

19.
线阵CCD面积测量及标定方法研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
用线阵CCD测量不规则的薄的形体面积,需要对测量系统进行精确的标定。本文介绍一种实现标定的原理和方法,用规则形体进行标定,得到不同排列方式下的标定常数,其值随方向不同而变化。由单片机完成数据采集,PC机完成标定系数优化和面积的计算,从而进一步提高了测量精度。  相似文献   

20.
李明伟  张倩  王用涛   《电子器件》2007,30(4):1332-1336
根据CCD光电参量的定义和测试方法,设计一种线阵CCD参量测试系统.硬件上该系统以LED为光源,用CPLD驱动线阵CCD采集光线,由USB接口传输数据;软件上用Veriolog HDL开发CCD驱动程序,keil C开发USB接口固件程序,VC 开发USB上位机驱动程序、界面操作及数据处理程序.该系统能够方便地观察CCD的驱动时序及输出信号,实现主要光电参量的测量,并且结构简单、操作方便,适宜高校实验室应用.  相似文献   

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