覆层测厚仪示值误差测量不确定度评定

本文结合实际工作,根据JJF 1059. 1-2012《测量不确定度评定与表示》规范及JJG 818-2018《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪》检定规程,对A、B、C、D各级别的覆层测厚仪示值误差的不确定度进行了评定,其结果对量块的检定性工作有一定的参考价值。     

超声波测厚仪测量金属门钢板厚度的不确定度评定

对用超声波测厚仪测量金属门钢板厚度的过程进行研究,分析了钢板厚度测量过程主要不确定度的来源并对其进行评定。介绍了钢板厚度测量不确定度的评定方法和步骤,对各不确定度分量进行量化,得到了测量钢板厚度的合成不确定度和扩展不确定度。     

纸板厚度测量不确定度的评定

本文按照纸板厚度试验的基本要求,对瓦楞原纸厚度测量中的不确定度进行了评定。结果表明,仪器设备的精度对厚度测量结果影响较大;此外,当测量次数减少对结果的影响在允许范围之内,实验室待测纸样有限的情况下,可适当减少厚度测量的取样量。     

数字示波器校准测量结果不确定度评定

随着科学技术的发展,测试计量技术越来越应用于科技的众多方面,其中测量结果的不确定度评定是彰显计量技术机构测量标准能力的重要方面,属于测量标准的核心内容,本文采用举例说明的方式从测量结果的不确定度来源、不确定度计算等多个方面对测量结果的测量不确定度进行了分析。     

SemDex型晶片厚度测量仪的校准与不确定度评定

SemDex型晶片厚度测量仪是一种半导体行业专用的晶片检验仪器,目前国家还没有检定规程或校准规范。本文给出了一种使用型号为LOGITECH非接触测厚仪对晶片厚度进行定标,然后使用定标的晶片校准晶片厚度测量仪的方法,并给出了测量不确定度的计算方法,使其可溯源至国家基准。     

校准实验室测量不确定度评定步骤和表示

ＩＳＯ/ＩＥＣ 1 70 2 5国际标准 5 4 6 1中规定 :校准实验室或进行自校的检测实验室必须对所有校准项目和校准类型制定并实施测量不确定度评定的步骤。而且对校准而言 ,该步骤对各类校准是一致的 ,对检测实验室 ,该步骤则因不同的检测项目和类别会有所区别。例如 :有的检测包括取样和样品制备 ,有的则不包含这两个步骤。对校准实验室测量不确定度评定的步骤 ,目前国内还没有作出统一规定 ,本文参考欧洲实验室认可合作组织 (ＥＡ)推荐的六个评定实例 ,归纳了如下评定步骤 ,供有关人员参考。另外 ,我国对如何表述实验室的测量不确定度能力说…     

电线电缆绝缘厚度测量不确定度的评定

对电线电缆绝缘厚度的测量进行了测量不确定度评定。通过对测量不确定度有主要影响的3个分量即读数的分散性、仪器的最大允许示值误差和环境温度影响的不确定度评定得出了标准不确定度依次为:0.00234mm、0.00231mm、0.00032mm;合成标准不确定度为0.0033mm。     

电离真空计现场校准的测量不确定度评定

依据JJF1062-1999《电离真空计校准规范》,结合现场校准的实际工作情况,对测得的量值进行不确定度评定,建立包含黑箱模型的测量模型,分析计量标准、校准装置、被校仪器及环境条件四个方面的影响量,分别采用不确定度的A类评定和B类评定方法进行计算,合成标准不确定度分量合成,计算得到扩展不确定度。     

光照度计校准值的测量不确定度评定

光照度计是一种专门测量光度、亮度的仪器仪表,广泛应用于工农业生产、医疗卫生、建筑、影视等行业与人们日常生活中,本文依据实例对光照度计校准过程中的影响因素进行分析,对校准结果的测量不确定度进行评定。     

Manufacture and Measurement of Film Thickness Sample for Calibration of Coating Machine

镀膜在国民经济生活中得到广泛应用.影响镀膜性能的一个主要参数是膜层在整个基片上的厚度均匀性.利用挡板在基片上多个区域沉积台阶,测量台阶高度的差值用于分析膜厚的均匀性.通过集成非接触聚焦式测头的纳米测量机进行测量,针对镀膜产品上各个特殊的曲面台阶,以参差平方和为标准,用基底无台阶区域的曲线模型拟合台阶底部曲线,参考ISO 5436-1:2000的台阶评价方法,对镀膜基片上多台阶进行了评价.该方法可以用于镀膜机的验收.     

湿膜厚度规校准装置研究

分析了湿膜厚度规在建筑、喷涂等行业的应用技术要求,提出了一套实用并满足技术要求的校准装置设计方案,最后给出了误差源分析和校准结果的不确定度估算.     

耐磨试验机校准数据测量不确定度评定

随着我国制鞋事业的发展以及对产品质量越来越高的要求,用于鞋子质量的重要检测仪器耐磨试验机的准确与否起着非常关键的作用。本文将对耐磨试验机校准数据测量不确定度进行分析,为从事制鞋行业特别是鞋业计量仪器检测的人员提供借鉴。     

一种新的膜厚测试技术

在“Y”型光纤一个端面上垂直放置涂有透明薄膜的基片 ,入射光在光纤—薄膜层—空气的界面处两次反射 ,由于两束反射光之间存在光程差 ,所以反射光发生干涉。不需要测量干涉条纹 ,仅通过对反射光谱的分析计算 ,可以测出薄膜的厚度以及折射率的数值。在单晶硅基片上做非晶的PSiO2 膜的甩膜实验中使用该方法测试PSiO2 膜的厚度 ,实验证明 ,该方法测量精度高、速度快 ,对薄膜无破坏作用。用卤素白光和红光的准单色光( 60 0nm～ 860nm)作为光源 ,膜厚范围为 0 5到几十微米 ,测量误差小于 4 0nm。进行了实验验证 ,给出了对噪声的处理方法     

HPLC测定饮料中山梨酸不确定度评定

依据JJF1059-1999<测量不确定度评定与表达>的原理和方法,分析了饮料中山梨酸的不确定度与影响不确定度的因素;计算出饮料中山梨酸测定值的相对扩展不确定度,HPLC测定饮料中山梨酸的相对扩展不确定度为2%.     

利用双波长测量金属膜的厚度

本文为测量金属膜的厚度提供了一种新的用双波长的测量方法。该方法测量简便，精度高，同时也适用于透明介质膜的厚度测量，测量范围从几十个波长至１ｃｍ。     

漆膜划格器校准方法探讨

本文主要探讨漆膜划格器的计量特性及其依据;使用工具显微镜或影像测量仪对漆膜划格器进行校准的方法及不确定度分析。     

漆膜表面对比率测量结果的不确定度评定

对比率是指施涂于规定反射率的黑色和白色底材上的同一漆膜的反射率之比.对比率反映的是白色和浅色涂料消除底材颜色的能力,涂料的对比率越低,产品的遮盖性能越差,起不到消除底材颜色的作用.在实际应用中,以反射率测定仪测得黑底上的反射率和白底上的反射率,并以黑底上反射率除以白底上的反射率求得对比率,本文用反射率测定仪对涂料漆膜的对比率进行了测量,并对其测量结果进行了不确定度评定.     

心电图机定标电压示值误差测量结果的不确定度评定

本文根据国家计量技术规范JJF1059-1999(测量不确定度评定与表示)对心电图机定标电压示值误差测量结果不确定度进行评定