用线性码构造伪穷尽测试集

在本文中，我们给出了一种用线性码构造伪穷尽测试集的测试码生成方法。这种方法在减小测试时间方面较以往的方法又进了一步。实验结果表明这种方法是完全可取的。     

用一个初始状态生成伪穷尽测试集

本文给出了一种适合于级敏扫描方法（ＬＳＳＤ）的伪穷尽测试集生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路，使得只需要一个初始状态就可生成整个伪穷尽测试集。由于这个特点，消除了必须在ＲＯＭ中存储多个初始状态的要求，从而简化了测试控制电路及测试过程。     

标高伪码产生器设计模拟及测试码生成

本文通过ＡＳＩＣ电路伪随机码产生器的设计过程，详细介绍了一种采用高级语言描述其行为功能，检证其功能正确性的方法，从而获得正确的测试向量。最后给出了实验结果的相关的设计技术。     

面向功耗优化的伪随机测试矢量生成

随着集成电路设计复杂度和工艺复杂度的提高，集成电路的测试面临越来越多的挑战，内建自测试作为一种新的可测性设计方法，能显著提高电路中随机逻辑的可测性，解决一系列测试难题，但它同时也引起了测试功耗问题，本文提出了一种面向功耗优化的伪随机测试向量生成方法，在保证故障覆盖率的条件下，大大降低了测试功耗。     

一种适用于无线通信测试集的生成技术

无线通信测试是无线通信项目工作中的其中一个重要环节。测试的目的就是通过各种相关手段对通信系统的功能进行检测和校验，尽可能发现其中存在的问题，以便于在下一步工作中纠正错误，逐步完善系统功能。     

测试生成算法

集成电路技术的迅速发展,测试生成变得越来越困难。往往测试代价比电路设计,生产代价还要高。扫描设计技术将时序电路的测试生成转换成组合电路来处理。组合电路的测试码生成就显得很重要了。D-算法第一次引入了多路径敏化的思想,因而是第一个完全的算法。但由于D-算法对故障校验电路处理所存在的缺陷,使得D-算法在测试码搜索过程中所存在的盲目性逐步表现得非常突出。PO-DEM算法第一次将测试生成问题归结为一个多维空间解的搜索问题。该算法采用隐枚举的方法来处理测试生成,并第一次引入了回退技术,使得测试码生成效率大大提高。FAN算法对PODEM算法作较大的改进。该算法引入了唯一敏化,唯一蕴含及多路回退等技术将测试码生成效率大大提高。不同于PODEM算法的是,FAN算法搜索测试码的回溯不是针对原始输入,而是对头线和扇出。SOCR-ATES算法在FAN算法的基础上,引入了全局蕴含的思想及一系列改进的唯一敏化和改进的多路回退策略。SOCRATES进而将全局蕴含及唯一敏化扩展到动态的策略,进一步提高了测试码生成效率。EST算法第一次提出了测试码搜索状态的概念,并采用E-前沿来描述测试码搜索的不同状态。通过引入状态等价的概念,大大缩小了测试码搜索空间。DST算法将测试码搜索空间的状态等价概念扩展到状态控制的概念,在EST算法的基础上,进一步大大缩小了搜索空间。     

数字集成电路测试中测试矢量的生成

引言电路的日益复杂和集成度的不断提高,测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性。     

测试生成算法

4 SOCRATES算法 SOCRATES在FAN算法的基础上提出一种全局的蕴含策略,改进的唯一敏化策略及改进的多路回退策略。这些策略有助于降低回溯次数,尽早地发现信号冲突,识别冗余故障。     

基于遗传算法的自适应测试生成

文章介绍了一种基于遗传算法的自适应测试生成方法，首先讨论了用遗传算法进行测试生成时构造评价函数的一些方法，然后应用组合电路的Hopfield神经网络模型，提出了基于遗传算法的自适应测试生成算法，该方法不同于传统的方法，它不需要故障传播传播、回退等过程，实验结果表明了本算法的可行性。     

基于模块化结构的N位加法器的测试生成

针对单个ｓｔｕｃｋ－ａｔ故障，研究了Ｎ位加法器的测试矢量生成问题，对于行波进位加法器，只需８个测试矢量就可得到１００％的故障覆盖率；对于Ｎ位先行进位加法器，只需Ｎ＾２＋２Ｎ＋３个测试矢量即可得到１００％的故障覆盖率。     

FD—Ⅲ—一个数字电路层次式测试生成系统

本文介绍一个实用数字集成电路层次式测试图形自动生成（ＡＴＰＧ）系统－ＦＤ－Ⅲ。ＦＤ－Ⅲ的特点是把测试生成和电路设计结合起来，充分利用电路的层次式结构，借助于电路和功能块已有的测试和模拟结果，加快整个电路的测试生成。该系统能对由ＷｏｒｋＶｉｅｗ等ＣＡＤ系统描述的层次式组合电路，同步时序电路进行ＡＴＰＧ。其故障模拟（ＦＳ）子系统能对包括异步模块在内的电路进行故障模拟、测试压缩，并给出优化的测试集及其性     

基于VHDL语言的数字电路测试码自动生成

本文提出了一种新的基于VHDL语言的组合数字电路测试码自动生成方法。在VHDL语言描述组合数字电路的基础上,建一VHDL语言的编译器,并输入为描述被测电路的VHDL语言,输出结果为描述被测电路功能的一系列逻辑表达式。针对这些逻辑表达式,本文详细地介绍了一种能直接产生电路测试码的算法。     

伪随机测试生成在混合电路参数测试中的应用

混合信号电路在通信、多媒体等领域获得越来越广泛的应用。然而,测试也变得更复杂。传统上对模拟电路的测试采用的是直接功能测试,即直接测量电路的性能参数Z。采用该测试方法,其缺点是测试时间长、测试设备昂贵、且精度差。本文针对这一问题进行研究,详细讨论了利用伪随机技术进行混合信号电路测试的方法。     

集成电路测试原理和向量生成方法分析

测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台,在仿真验证后,按照ATE向量格式,直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例,验证了此方法的可行性,并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性,对进一步研究测试向量生成,也有一定的参考意义。     

基于混沌搜索的组合电路测试生成算法

基于组合电路测试生成的离散Hopfield神经网络模型，将混沌搜索与Hopfield网络的梯度算法相结合，利用混沌搜索的内随机性及遍历性来克服梯度算法易于陷于局部极小的缺点，形成一种具有全局搜索能力的测试生成有效算法。该算法综合了随机性和确定性算法的优点，其性能优于一般的随机性算法。实验结果验证了该测试生成算法的有效性。     

一种适用于无线通信测试集的生成技术

无线通信测试是整个无线通信工作中一个很重要的环节。本文以蓝牙无线通信为例，用EFSM模型描述了其电话控制协议（TCS）。为了使测试例花费最小，本文采用了有效的算法生成最优邮路，在此基础上简要介绍了测试例的描述及执行。该项测试技术优化了测试路由，因而，提高了一致性测试的效率。     

神经网络在组合电路故障模拟测试生成算法中的应用

本文在基于故障模拟的测试生成算法基础上,提出了一种初始测试矢量的生成方法,即采用神经元网络模型来生成初始矢量,既避免了随机生成初始矢量的盲目性,又避免了确定性算法使用回溯所带来的大运算量。试验结果证明这种方法是有效的。     

基于开放平台的测试图形生成系统

测试程序的初始开发费用随着集成电路器件的发展居高不下；另一方面，随着器件速度和产量需求的提高，常常需要在不同测试仪上测试同类器件，然而各测试仪厂家之间仍然缺乏共同的标准。     

一种可变测试集的协议一致性测试方法

目前常用的协议一致性测试的测试方法是首先对协议规范建模，然后通过模型生成测试集，最后执行测试集．这种方法存在执行效率不高和实际测试范围可能被缩小的问题，为此本文提出一种可变测试集的方法，通过动态执行测试集提高其执行效率，同时从与协议实现无关的角度扩大协议的实际测试范围．