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微米纳米新型微电子器件可靠性技术发展方向研讨 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了新型微电子器件发展现状和主要技术,分析了微电子器件可靠性技术发展趋势,提出我国半导体器件可靠性技术发展对策和建议。 相似文献
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Wang Changhe 《微纳电子技术》1995,(3)
本文扼要介绍了近5年来我国在微电子器件(半导体分立器件及集成电路)可靠性研究方面所取得的进展与成果及存在的问题。预计今后5~10年内,我国微电子器件可靠性研究工作将在5个方面展开,器件可靠性水平将提高1~2个数量级。 相似文献
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微电子器件可靠性研究与展望 总被引:1,自引:0,他引:1
本文扼要介绍了近5年来我国在微电子器件(半导体分立器件及集成电路)可靠性研究方面所取得的进展与成果及存在的问题。预计今后5 ̄10年内,我国微电子器件可靠性研究工作将在5个方面展开,器件可靠性水平将提高1 ̄2个数量级。 相似文献
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当前微电子器件已广泛应用于信息获取、信息传输、信息控制、信息处理等领域。在电子装备、家用电器、工业控制系统等运行过程中,经常发现由于一个电子器件的失效造成整机的严重故障甚至整机损坏。为了提高电子装备的可靠性,必须从根本上提高元器件的质量与可靠性。要提高元器件的可靠性必 相似文献
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GaAs器件及MMIC的可靠性研究进展 总被引:2,自引:0,他引:2
来萍 《固体电子学研究与进展》1995,15(4):381-390
介绍了国外GaAs微波器件及MMIC的可靠性研究进展情况,给出GaAsMESFET、HEMT和MMIC的主要失效模式和失效机理以及在典型沟道温度下的平均寿命代表值。 相似文献
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微电子器件多失效机理可靠性寿命外推模型 总被引:3,自引:1,他引:2
提出了一种新的微电子器件快速评价方法,具有快速、准确、成本低、能观察分析参数退化的全过程,能有效地分析器件的失效机理。它与常规方法不同,可对单样品求出不同失效阶段的失效激活能和寿命,根据其参数退化的温度范围可外推出单样品工作条件下的寿命。通过一定数量的对比试验,该方法与常规方法有可比性。 相似文献
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对工艺过程进行评估的目的在于找出存在可靠性缺陷的地方,它是针对技术磨损的机理,通过对专门设计的测试结构进行封装级或圆片级可靠性测试,获取可靠性模型参数和可靠性信息,超大规模集成电路主要的三个的失效机理分别是热载流子注入效应,金属化电迁移效应和氧化层的TDDB击穿,本文对这三种失效机理分别进行了介绍,对各自对应的可靠性模型进行了说明,列举了热载流子汪入效应的寿命评价实例,说明了可靠性评价的重要性,给出了可靠性主人在工艺中的应用流程图。 相似文献
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本文介绍了CMOS/SOS CC4066器件长期可靠性试验结果。对失效器件的分析表明,硅-蓝宝石技术没有新的失效机理。该器件的可靠性不低于国内体硅MOS IC能达到的水平,并接近“七专”器件的水平。 相似文献
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主要围绕产品开发,提出了可靠性分析在研发过程中的重要作用和工作程序.将以往单纯追求产品仿造转换为失效模式分析与失效机理分析相结合、技术指标与质量验证相结合的工作模式.不仅改进了研发的工作模式,而且保证了产品的可靠性,其目的是确保研发产品达到预定的技术指标。由于这种工作模式从根本上确保质量达标,因此可以固化为标准的方法,应用到新产品的研发工作中。 相似文献
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微电子器件测试技术(中) 总被引:1,自引:0,他引:1
(接上一期) CPU的测试首先要解决测试程序(测试向量),CPU的功能不同于一般通用数字电路,CPU是在软件的介入下进行工作,而用户在使用CPU的时候也都有自己不同的用户程序,所以要验证CPU的功能是否正常,是否能在各种用户程序下都能可靠工作,所编制的测试向量必须覆盖CPU的各种工作方式和各种失效模式. 相似文献
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