高性能LD阵列脉冲电源

本文主要论述了高性能半导体激光二极管阵列脉冲电源的电路设计和工作原理,同时,给出了最简单的电路模式和脉冲电源的性能指标。     

快速LED光色参数测试系统

针对LED的产品多样性,设计了一种可调节夹具以适应各种芯片类型的快速LED光色参数测试系统.为了提高主波长的测量准确性和快速性,提出了一种分区查表法来通过色坐标计算主波长,经实验验证,提出的快速LED光色测试系统可以提高LED测试的效率和精度.     

激光二极管专用测试系统

世界各国的实验室和研究中心每天都在对激光二极管技术进行革新。由于其市场发展迅速 ,越来越多的公司加入到激光二极管的生产行列。其中大多数公司不仅有自己的研发中心 ,同时与其他进行激光二极管研发工作的小组保持战略联系。然而一套制作精良、能够精确测试激光二极管的测量系统非常必要 ,它应用于研究开发、原型制造、批量生产和产品质量控制各个阶段。测试激光二极管需要给装置注入电流 ,然后测量发光特性。其中通常感兴趣的原始参数有光绝对功率、光束的空间和光谱特性。激光二极管不能用传统的电源来驱动。由于偏置电压的轻微漂移 ,…     

半导体LD在光通信以外的部分应用

文中介绍半导体激光二极管在信息传输以外的部分应用。随着激光二极管工艺和器件发展,他们在光通信以外的市场不断扩大,应用越来越广泛。本文介绍 LD 在医疗、测量、条形码扫描仪,以及光谱学方面的应用。     

S400型测试系统

D400系列是为监控半导体器件及集成电路生产工艺而设计的程控参数测试系统。测试通过向被测器件提供程控的电流或电压,并测量相应的电压.电流或电容来实现。 S400使用680XX系列处理器控制基于VME总线的仪器和开关,S400的核心仪器是9110型电压电流源表(VIMS),可以实现电压源、电压表、电流源、电流表、或以上源表功能的任意组合。     

自动连续测试的有效性及自动测试系统

电子设备在提高功能和性能的同时也向小型化、轻量化迅速发展。这就要求在尽量缩短产品开发时间的同时，必须确保产品的可靠性及安全性。为了达到这个目的，就必须要更有效、更正确地实施环境试验。爱斯佩克公司为了满足这些要求，将环境试验与电气特性测试相结合，设计开发了能够通过在环境试验条件下对试样特性连续测试，实时把握试料特性和判定异常状况的各种自动测试系统。在此对自动测试系统的有效性及其部分构成作以下介绍。     

LD抽运355-nm准连续紫外激光器

报道了激光二极管(LD)侧面抽运Nd:YAG激光晶体腔内三倍频355 nm紫外激光器.实验中采用声光调Q技术,选用结构简单、紧凑的三镜折叠、平一凹腔设计,在腔内对1064 nm基波采用Ⅰ类相位匹配LiB3O5(LBO)晶体二倍频、Ⅱ类相位匹配LBO晶体实现三倍频,获得了较好光束质量的准连续紫外激光输出.在激光二极管抽运功率为155 W,声光调Q的调制频率为5.40 kHz的工作条件下,获得脉宽为45 ns,最高平均输出功率为2.14 W,光场均匀分布的355 nm准连续紫外激光,808 nm抽运光到355 nm紫外激光的光-光转换效率达到1.38%,1 h内输出稳定性为3.30%.此外,对影响腔内三倍频转换效率的因素进行了相应的分析研究.     

808nm大功率准连续LD阵列

采用单量子阱光电分别限制异质结(InGaAsP/GaAs)结构,研制了一种电致冷的大功率准连续激光器阵列,对器件的几个主要参数进行了理论分析.实验结果表明,器件峰值波长为807.6 nm,光谱半宽为3 nm,工作电流为98.7 A时,输出功率达到1 000 W(10个Bar,占空比为2%).     

红外探测器参数测试研究

红外技术的发展依赖红外探测技术的进展.红外焦平面性能参数的测试评价是红外探测器发展中的关键技术之一.针对这一情况,提出对某型非制冷红外探测器进行特性评价,采用Matlab图形用户界面编程实现对该探测器的响应率和噪声等效温差两个重要参数进行测试,并对测试结果进行了分析,为热像仪的研制开发奠定了基础并具有一定的指导作用.     

连续半导体激光器LIV特性测试系统的设计

针对通用的连续半导体激光器(LD)特性参数测试系统存在的问题,研制了一种新型的基于USB总线的连续半导体激光器LIV(light-current-voltage)特性测试系统.详细介绍了整个系统的硬件电路,包括半导体激光器的驱动单元、测试单元、基于FPGA的接口电路、单片机控制单元等,并对一DFB半导体激光器进行测试,给出了LIV曲线图.同时,对该系统的性能进行了分析.该系统已经应用于半导体激光器特性参数的自动测试,并取得了良好的效果.     

激光二极管寿命测试方法研究

文中介绍了半导体激光二极管(LD) 寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模 型,并据此设计了LD 高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD 的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD 的老化曲线,即恒流条件下的P - t 曲线,或通过采集恒功工作LD 的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I - t 曲线,然后推断LD 正常条件下的使用寿命。     

铲形光纤与半导体激光器耦合特性的研究

为了提高半导体激光器与光纤的耦合效率和失配容忍度,提出了利用带铲形微透镜的多模光纤与大功率半导体激光器进行耦合的新技术。采用模场匹配的方法,推导出耦合效率关系。在理论上讨论了耦合时在轴向、倾角的失配容忍度,并在实验中得到了高达78.5%的耦合效率。这一结果对提高铲形光纤的实用性是有帮助的。     

车用防撞LD测距仪的设计

从设计一种成本低,工作稳定的高性价比车用LD测距仪出发,分别对测距仪的工作原理及参数确定、光学系统、发射驱动电路、接收探测电路和软件信号处理方面进行了分析和优化设计。所设计的LD测距仪达到了6～150m的测量量程和±1m的测距精度,工作稳定可靠,对提高驾乘的安全性有良好的实用价值。     

铷吸收半导体激光稳频光波长标准研究

文中介绍了用铷吸收光谱法对半导体激光器进行稳频,从而稳定其输出波长;通过对包括半导体激光驱动源、稳频器、吸收室、光路等系统的优化设计,达到具有高信噪比微分误差信号,从而大大提高了半导体激光器稳频锁定灵敏度和长期稳定性。采用文中介绍的方法建立的光波长标准系统,其波长的测量重复性、稳定性可满足当前和将来很长一段时间光波长计校准的需要。     

LD端抽运下几种激光晶体的端面形变研究

为了对端抽运DPSSL的端面形变场进行测量,研究了LD端抽运下Nd:YVO4,Nd:GdVO4,Nd:KGW晶体的端面形变.主要对具有轴对称性的不同抽运光的功率下所引起的端面形变进行了计算机模拟.先对温度场进行理论计算,建立理论模型,然后对形变进行理论计算,并用计算机模拟了它们的形变.得到了由形变导致的端面形变热透镜焦距与致热功率之间的关系曲线,另外得到Nd:YAG,Nd:YVO4,Nd:GdVO4,Nd:KGW晶体的端面形变场分布.结果表明,随着致热抽运功率的增大,端面形变热透镜焦距越来越短,均在10m以内变化,而在聚焦半径为0.45mm、光纤耦合15W时,晶体形变量在10μm以内.     

1480nmLD泵浦掺铒光纤放大器的增益带宽特性的研究

采用国产１４８０ｎｍＬＤ及优化的掺铒光纤，研制成光纤增益达３２ｄＢ、最大输出功率为１０ｄＢｍ、带宽大于２５ｎｍ的掺铒光纤放大器模块（其纤入纤出净增益为２７ｄＢ、输出功率为７ｄＢｍ）。讨论了放大器的增益、带宽特性及ＡＳＥ对放大器测量的影响。     

融入FPGA技术的半导体激光器功率-电流-电压测试系统

提出了一种新型的半导体激光器(LD)功率(P) 电流(I) 电压(V)自动测试系统。该方案融入FPGA技术,采用日立SH系列HD64F7045单片机为控制核心,实现了高稳定度的 LD驱动和温度控制。LD控制单元中,应用负反馈技术实现注入电流 IF、驱动电压 VF 和光功率 Po 的高稳定控制;采取了软启动控制、短路开关和限幅保护的措施,有效地保证了LD的安全。LD温度控制单元中,采用了比例积分(PI)控制技术并结合积分分离的思想,使温度控制快速而有效。实验表明,注入电流的稳定度达到10-4量级,温度稳定度优于±0.01 ℃。最后,给出了通过GPIB接口对LD进行P- I- V曲线及相关参数的测试结果。     

LD泵浦固体激光器的光谱匹配问题

实验研究了LD泵浦Nd:YAG固体激光器的光谱匹配问题,如匹配方法、匹配效率、匹配chirp现象等:考察了LD光谱随温度、电流、时间的变化,讨论了这些变化对光谱匹配效率的影响。     

改善半导体激光器驱动电源性能的研究

提出了采用通用器件研制高稳定度的连续半导体激光器驱动电源的方案。该电源采用负反馈技术可以向半导体激光器提供 0～ 2 0 0 m A连续可调的高稳定度的驱动电流 ,同时加入了恒温控制 ,保证了激光器的输出光波长的单一性和输出功率的稳定性 ,有效地延长了其使用寿命。实验结果表明 ,连续工作 2 h,其输出电流稳定度为 8.1× 1 0 -5,温度变化范围不超过0 .0 0 3°C。电源具有抗干扰能力强、稳定度高、安全可靠、使用方便、价格低廉等优点。