COB封装LED器件寿命评价方法研究

COB封装的LED器件应用日趋广泛,但是其寿命评价方法仍限于做3000h或6000h的光通维持率试验,试验本身耗时较长,因此本文基于半导体器件的指数衰减规律和LED光通量的慢退化特性提出一种加速试验方法,对器件进行高温加速寿命试验,并对试验结果进行计算,得到了器件在加速试验温度下的L70寿命,然后利用相应水平的激活能,得到了在较低结温下的L70寿命。     

照明用功率LED的加速寿命试验

阐述了照明用功率发光二极管(LED)的退化规律,提出了一种实用的加速寿命试验方法来评估功率LED的长期使用寿命,并使用该方法分剐对LUMILEDS公司1 W白光LED和CREE公司1 W蓝光LED的使用寿命进行了评估.     

加速寿命试验评估功率发光二极管平均寿命

采用恒定温度应力的加速寿命试验,对XR7090BL-LI-B3-0-0001功率型蓝色发光二极管(LED)的平均寿命进行了评估.参照已有的发光管光功率缓慢退化公式,采用图估法和数值分析法进行试验数据处理,得到了该型号功率发光二极管工作结温不超过80℃、光通量衰减至70%的平均寿命.

Abstract：

Based on constant temperature stress,an accelerate life test was carried out on a type of power light-emitting diodes (LEDs) named XR7090BL-L1-B3-0-0001.Yamaoshi's slow LED degradation formula was consulted and test data were processed through chart eastimate and numerical analysis method.Then mean life of XR7090BL-L1-B3-0-0001 satisfying the conditions that the working junction temperature was lower than 80 ℃ and the luminous flux decreased to 70% were finally obtained.     

LED加速寿命试验方法的研究

给出了一种缩短试验时间求取LED平均寿命的方法,利用"亚玛卡西"的发光管光功率缓慢退化公式,由退化系数求得不同应力温度下LED失效时间,再用数值解析法得到正常温度应力下的LED平均寿命.     

高亮发光二极管寿命评价

高亮发光二极管广泛应用于户外显示屏、交通灯、汽车灯及电子设备和工业设备指示灯等方面,因其具有体积小、功耗低、寿命长、反映速度快、适合量产等诸多优点,因而使用市场巨大,对其寿命评价尤显意义重大.通过温度应力的加速寿命试验对某高亮型LED的平均寿命进行了快速评价,设计采取单一加速应力的试验方法,通过建立加速模型,进行加速试验,采用退化系数解析法进行数据处理,最终得到了室温下该高亮型LED的平均寿命.     

基于蚁群神经网络的LED灯管寿命预测

针对高可靠性、长寿命复杂产品的可靠性评估过程,在加速寿命退化试验数据的基础上,提出了一种基于试验数据驱动的自适应智能方法,并对某型LED灯管的寿命与可靠性进行预测分析.首先,通过指数模型拟合性能退化曲线,推算出各组应力条件下的伪失效寿命值;再将蚁群算法结合BP神经网络等智能算法应用于寿命预测模型的建立,根据试验证明寿命服从对数正态分布,且检验寿命必须满足置信度区间范围内;最后,预测出正常应力条件下LED灯管的工作寿命.结果表明,基于蚁群神经网络预测LED灯管寿命的方法,预测误差较小,收敛速度快,能够满足工程要求.     

安防用红外LED的性能和可靠性

安防用红外发光二极管(LED)要求具有更高的辐射功率和更低的功率退化。通过比较不同红外LED芯片材料的性能,设计选用850 nm GaAlAs芯片,以满足安防用红外LED的性能要求。封装材料的应力和热阻是影响红外LED功率退化的两个因素。试验证明通过采用硅胶包封芯片,降低了环氧树脂封装所带来的应力,可使Lamp型红外LED功率退化由18%降为6%。通过计算得出铁支架Lamp型、铜支架Lamp型和大功率三种红外LED的热阻分别为483.8,173.1和6.7℃/W,经通电1 000 h试验后功率退化分别为18%,10%和0,证明采用高导热材料,能够提高器件的散热能力,降低芯片结温,有效减少辐射功率退化现象。     

一种基于结温保护的LED驱动设计

将LED结温控制在一定范围是确保LED灯具寿命和发光效率的关键.文中探讨了LED结温的测量方法,提出了通过单片机实时测量LED光源的结温,在结温超出设定值时生成PWM信号调整电源的输出功率.文中给出了采用LM3404与PIC12F675组成的基于结温保护的电源原理图和单片机程序框图.试验表明,基于结温保护的LED驱动,...     

结温准确性对GaN HEMT加速寿命评估的影响

通过对阿伦尼斯方程进行研究,指出了结温检测结果的误差将会影响加速寿命试验结果的准确性.根据GaN HEMT加速寿命试验中常用的结温获取方式,分别讨论了采用热阻修正结温和直接测量结温两种方式获取结温对器件寿命评估结果造成的影响.研究了Cree公司GaN HEMT结温测量方法,指出依据显微红外测温结果得到的加速寿命数据与依据有限元仿真得到的加速寿命数据相差近4倍.     

LED可靠性评估的加速寿命试验设计方法

介绍了一种关于发光二极管（LED）可靠性评估的加速寿命试验设计方法。通过这个方法,在针对LED的性能退化现象和运行不稳定问题进行加速试验设计时,可以在已知目标可靠度和置信度的前提下,定量地确定满足可靠性要求的试验用样本量、加速应力水平以及试验时间。同时,用于发光二极管加速寿命试验的基本设计思想,可以广泛地应用于常见电子元器件的器件产品质量认证或可靠性评估等试验设计中。     

定量可靠性

定量可靠性是今后的趋势和方向,对于现在非常流行的高加速寿命试验我们现在可以对其进行定量分析,这是一个突破性的进展,它会帮助我们在研发阶段就建立起定量可靠性的数据,从而更好的保证产品的可靠性并控制成本。     

融合非线性加速退化模型与失效率模型的产品寿命预测方法

针对高可靠性产品寿命数据少、获取成本高的问题,基于充分利用产品在研制、加速试验等不同环境下的退化数据、失效数据等可靠性数据的思想,提出了一种融合非线性加速退化模型和失效率模型的产品寿命预测方法.首先,根据退化数据对非线性退化过程进行分析,估计退化过程的参数;然后,根据加速退化数据及相应的加速退化模型估计加速退化模型的参数,从而得到退化参数与应力之间的关系.进一步,利用比例风险模型融合产品的寿命数据和未失效截尾数据,并基于此计算产品的可靠度函数、预测产品的寿命.实例应用验证了所提方法的有效性,同时说明了所提方法的应用价值.     

一种新结构中ZnSe薄膜电致发光特性研究

用电子束蒸发的方法制备了一种新的ITO／SiO2／ZnSe／SiO2／Al薄膜电致(TFEL)发光器件。在交流电压驱动下,其有2个发光峰,分别位于466nm和560nm。通过研究器件(PL)激发(PLE)谱、光致发光、EL发光以及EL发光强度随驱动电压和频率的变化发现,器件的发光来源于ZnSe的带边发射和自激活发光中心。器件的发光机理与一般的无机电致发光有所不同。这里,SiO2作为电子加速层,ZnSe作为发光层,电子在SiO2层中的高电场作用下被加速到很高的能量,然后直接碰撞激发ZnSe分子使其发光。这种发光现象被称为固态类阴极发光。     

基于FPGA图形字符加速的液晶显示模块

在传统的工业控制应用中,由于工业控制计算机中集成了高性能的显卡,故通常采用工业控制计算机+液晶显示器的体系结构,可方便地实现以图形和字符为主的人机界面。而在对实时性能和可靠性要求比较高的航空航天领域,通常要求液晶显示器内部集成图形显示功能,以减轻主控处理器的负担,并提高系统的实时性。重点介绍了如何利用FPGA实现基于Bresenham算法的2D图形绘制(包括画点、画线、画圆、画椭圆),以及点阵字符和位图在液晶屏上的显示,并提出了显示性能优化的一系列策略。经过仿真验证和产品实际应用,该设计方法实现的液晶显示模块图形和字符显示功能稳定,性能良好,适合于航空航天领域高可靠性液晶显示模块的应用需求。     

InSAR生成DEM的多条带快速融合方法

提出了一种DEM大范围快速融合方法,该方法首先DEM重叠区域通过分块匹配策略提取密集连接点并进行区域网平差修正平面和高程上的系统误差;在此基础上通过先顺轨后垂轨的策略融合生成一整副DEM;同时为了提升整个融合效率,采用策略加快处理速度。实验结果表明,提出CPU/GPU异步并行方法比单CPU处理效率提升了18倍,实现了多条带DEM无缝融合。     

基于AltiVec的高效FIR滤波器优化设计

随着需求的发展,信号处理系统对实时性的要求越来越高,这就要求对涉及到的信号处理算法的运算时间有了严格的限制。本文介绍了一种在PowerPC平台上,基于AltiVec技术的FIR滤波器设计方法。仿真实验表明,此种FIR滤波器的实现方法运算速度快,实时性好,性能优于在传统DSP平台上的FIR滤波器设计方法。     

PLC控制步进电机加减速运行的设计

步进电机是一种将电脉冲转化为角位移的执行机构.可以通过控制脉冲个数来控制角位移量,从而达到准确定位的目的,同时也可以通过控制脉冲频率来控制电机转动的速度和加速度,从而达到调速的目的.本文以PLC高级指令中的PTO(脉冲串操作)/PWM(脉宽调制)发生器功能指令为例,对给出的步进电机加速起动、恒速运行和减速过程进行了全面...     

半球谐振陀螺静态误差分析与补偿

半球谐振陀螺由于特有的优势而具有广阔的应用前景,但由于加工工艺和研究水平的限制,其测量精度有待提高,该文针对半球谐振陀螺的静态误差,分析了加速度对半球谐振陀螺的影响,选取了静态误差补偿模型,设计了标定实验中的方位定向,推导了个误差系数的计算公式,最后通过实验表明了标定补偿的有效性,使陀螺的输出系统误差减小了1个数量级。     

一种16位专用微控器存储器接口取指逻辑的设计

为了弥合微控器和存储器的速度差,加速复杂指令集微控器取指过程,在存储器接口处设计了从PC,从而加速CPU的取指过程,并给出了从PC的电路结构.进一步详细介绍了主PC和从PC配合取指的过程,并对从PC进行了功能验证和性能分析,结果表明,采用从PC技术能有效加速CPU的取指过程.